[發明專利]一種用于顯示面板復檢的方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202110295331.2
• 申請日: 2021-03-19
• 公開（公告）號: CN113176275B
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 王紹凱;羅川淦;金鑫;譚久彬
• 申請（專利權）人: 哈工大機器人（中山）無人裝備與人工智能研究院
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 北京隆源天恒知識產權代理有限公司 11473
• 代理人: 徐蘇明

1.一種用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，包括：

缺陷評價結果獲取階段和待檢測顯示面板復檢階段；

所述缺陷評價結果獲取階段包括：

根據顯示面板的掃描圖像確定所述掃描圖像的第一候選缺陷，根據所述第一候選缺陷確定裁剪圖像，根據所述裁剪圖像確定第一缺陷評分；

從所述第一候選缺陷中篩選第二候選缺陷，根據所述第二候選缺陷的坐標位置移動復檢相機以采集復檢圖像，根據所述復檢圖像確定第二缺陷評分，其中，所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分均用于評價缺陷的可靠性；

根據所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結果，以確定所述第一缺陷評分與所述缺陷評價結果是否存在一致性，其中，所述根據所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結果包括：根據所述第一缺陷評分和第一權重確定第一加權結果；根據所述第二缺陷評分和第二權重確定第二加權結果；根據所述第一加權結果和所述第二加權結果確定所述缺陷評價結果；

所述待檢測顯示面板復檢階段包括：

獲取待檢測顯示面板的掃描圖像，并根據所述掃描圖像確定缺陷和各缺陷的類型；

根據預先獲取的缺陷評價結果確定需復檢類缺陷，從上述缺陷中挑選需復檢類缺陷進行復檢。

2.根據權利要求1所述的用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，所述根據顯示面板的掃描圖像確定所述掃描圖像的第一候選缺陷包括：

通過線掃系統掃描所述顯示面板，獲取所述掃描圖像；

根據所述掃描圖像，采用線掃算法確定所述第一候選缺陷。

3.根據權利要求1所述的用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，所述根據所述第一候選缺陷確定裁剪圖像包括：

根據所述第一候選缺陷的中心坐標和復檢相機的分辨率確定裁剪圖像。

4.根據權利要求1所述的用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，所述根據所述裁剪圖像確定第一缺陷評分包括：

采用復檢算法對所述裁剪圖像進行復檢以確定所述第一缺陷評分。

5.根據權利要求1所述的用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，所述從所述第一候選缺陷中篩選第二候選缺陷包括：

從所述第一候選缺陷中篩選出需要所述復檢相機采集的候選缺陷作為所述第二候選缺陷。

6.根據權利要求1所述的用于顯示面板復檢的方法，其特征在于，所述根據所述復檢圖像確定第二缺陷評分包括：

采用復檢算法對所述復檢圖像進行復檢以確定所述第二缺陷評分。

7.一種用于顯示面板復檢的裝置，其特征在于，包括：

缺陷評價結果獲取模塊，用于根據顯示面板的掃描圖像確定所述掃描圖像的第一候選缺陷，根據所述第一候選缺陷確定裁剪圖像，根據所述裁剪圖像確定第一缺陷評分，從所述第一候選缺陷中篩選第二候選缺陷，根據所述第二候選缺陷的坐標位置移動復檢相機以采集復檢圖像，根據所述復檢圖像確定第二缺陷評分，其中，所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分均用于評價缺陷的可靠性；根據所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結果，以確定所述第一缺陷評分與所述缺陷評價結果是否存在一致性，其中，所述根據所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結果包括：根據所述第一缺陷評分和第一權重確定第一加權結果；根據所述第二缺陷評分和第二權重確定第二加權結果；根據所述第一加權結果和所述第二加權結果確定所述缺陷評價結果；

待檢測顯示面板復檢模塊，用于獲取待檢測顯示面板的掃描圖像，并根據所述掃描圖像確定缺陷和各缺陷的類型，根據預先獲取的缺陷評價結果確定需復檢類缺陷，從上述缺陷中挑選需復檢類缺陷進行復檢。

8.一種用于顯示面板復檢的系統，其特征在于，包括存儲有計算機程序的計算機可讀存儲介質和處理器，所述計算機程序被所述處理器讀取并運行時，實現如權利要求1至6任一項所述的用于顯示面板復檢的方法。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器讀取并運行時，實現如權利要求1至6任一項所述的用于顯示面板復檢的方法。