[發明專利]液晶面板的色斑修復方法及所用系統測試架構與DE-MURA設備

在審

• 申請號: 202110290650.4
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN113035099A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 黃浩
• 申請（專利權）人: 深圳市聯測光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36
• 代理公司: 西安銘澤知識產權代理事務所(普通合伙) 61223
• 代理人: 梁靜

1.一種液晶面板的色斑修復方法，用于在一次點燈檢查CT1后直接對面板的色斑缺陷進行判斷與修復，其特征在于，包括如下步驟；

在一次點燈檢查CT1利用圖像采集單元判斷面板的亮度均勻狀況，確定面板是否要做De-mura，并針對需要做De-mura的面板進行De-mura處理；

所述圖像采集單元包含影像截取器件CCD，用于采集點亮后面板的圖像；

之后，對面板依次進行偏光片貼附和二次點燈復檢CT2。

2.根據權利要求1所述的液晶面板的色斑修復方法，其特征在于，還包括偏光片貼附、COF貼合工藝和PCBA貼合工藝；

所述偏光片貼附工藝將偏光片貼附于通過一次點燈檢查CT1的面板玻璃上；

所述COF貼合工藝將COF貼合于通過二次點燈復檢CT2的面板玻璃上；

所述PCBA貼合工藝位于通過COF貼合工藝后，將COF與PCBA進行貼合；

在上述過程中通過一次點燈檢查CT1后De-mura的判斷結果，對面板進行區分，De-mura正常面板使用量產物料，包含偏光片、COF、PCBA，低規面板則使用低成本物料；

之后，在出貨前的工站，將De-mura數據進行燒錄，并做快速判定De-mura效果。

3.一種應用于權利要求1所述方法中的系統測試架構，其特征在于，包括面板主體架構、以及作用于所述面板主體架構的CT1 De-mura驅動系統；

所述CT1 De-mura驅動系統包含扎針單元，所述扎針單元由TestPadA單元、X1組TestPadB單元與若干資料信號線組成，其中，X1為整數，大于等于1；

所述TestPadA單元由時鐘移位暫存器電路驅動提供并連接，所述Test Pad A單元與面板的掃瞄線電路連接，用于傳送面板顯示所需的掃瞄線信號；

所述TestPad B單元由數據驅動芯片電路DriverIC提供并連接，所述Test PadB單元與面板的資料線電路連接，用于傳送面板顯示所需的資料線信號；

若干所述資料信號線用于傳遞所述掃瞄線信號和所述資料線信號，以進行面板顯示。

4.根據權利要求3所述的系統測試架構，其特征在于，

所述時鐘移位暫存器電路和數據驅動芯片電路由De-mura圖形產生器的中央控制單元送出觸發信號予時鐘移位暫存器電路，由De-mura圖形產生器的中央控制單元送出觸發信號和影像信號予數據驅動芯片電路DriverIC，所述數據驅動芯片電路送出資料線信號，所述時鐘移位暫存器電路送出掃瞄線信號。

5.根據權利要求3所述的系統測試架構，其特征在于，所述面板主體架構上的設計，對應每組Test Pad B單元，包含X2個獨立的資料Pad,其中X2為整數,大于等于4；

每個獨立的資料Pad都由B個數據驅動芯片Driver IC內部的運算放大器來連接驅動，其中B＝A*(1±20％)，B與A皆為整數，A代表每個資料Pad對應的資料線數目，B代表運算放大器驅動的數量。

6.根據權利要求5所述的系統測試架構,其特征在于，每個獨立的資料Pad對應的資料線數目為A，A值為小于單一資料Pad的耐流值Ipad除以電壓變化的Ipeak值；

所述耐流值Ipad為資料Pad、扎針單元或兩者之間的接觸點所能承受的最大電流值；

所述電壓變化的Ipeak值為所設計的面板驅動單一資料線電壓瞬態變化最大時產生的最高峰電流。