[發明專利]一種芯片測試電路

在審

• 申請號: 202110290155.3
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN113049945A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 康希
• 申請（專利權）人: 湖南國科微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉曉菲

1.一種芯片測試電路，其特征在于，包括：

第一端分別與驅動芯片的N個輸出通道一一對應連接，第二端分別與M個測試通道連接的N個開關，用于基于處理器的控制將與自身連接的所述芯片的輸出通道和所述測試通道之間的電路導通或關斷；M為不小于1的整數，N為大于M的整數；

M個輸入端分別與M個所述測試通道一一對應連接，信號輸出端分別一一對應與N個所述開關的控制端連接的所述處理模塊，用于控制與各個所述測試通道連接的多個所述開關分別按照預設頻率依次導通與關斷，以使所述驅動芯片的各個輸出通道分別按照所述預設頻率依次通過與自身對應的所述測試通道輸出驅動電壓；還用于基于各個所述測試通道輸出的所述驅動電壓判斷所述驅動芯片是否正常工作。

2.如權利要求1所述的芯片測試電路，其特征在于，所述處理模塊包括：

信號輸出端為所述處理器的信號輸出端的處理器，用于控制與各個所述測試通道連接的多個所述開關分別按照預設頻率依次導通與關斷，以使所述驅動芯片的各個輸出通道分別按照所述預設頻率依次通過與自身對應的所述測試通道輸出驅動電壓；

各個輸入端分別一一對應為所述處理模塊的各個輸入端的測試機，用于基于各個所述測試通道輸出的所述驅動電壓判斷所述驅動芯片是否正常工作。

3.如權利要求2所述的芯片測試電路，其特征在于，所述測試機包括：

晶圓CP測試針卡，所述CP測試針卡的各個探針分別一一對應為所述測試機的各個輸入端，用于與各個所述測試通道連接，以接收所述驅動芯片的各個輸出通道通過所述測試通道輸出的驅動電壓，使所述測試機基于各個所述測試通道輸出的所述驅動電壓判斷相應的所述驅動芯片是否正常工作。

4.如權利要求1所述的芯片測試電路，其特征在于，N個所述開關的第二端均與一個測試通道連接，M為1。

5.如權利要求1-4任一項所述的芯片測試電路，其特征在于，還包括：

與所述處理模塊的輸出端連接的提示模塊，用于基于所述處理模塊的判斷結果對用戶進行相應的提示。

6.如權利要求5所述的芯片測試電路，其特征在于，所述提示模塊為聲音提示模塊和/或顯示提示模塊。

7.如權利要求6所述的芯片測試電路，其特征在于，所述聲音提示模塊為蜂鳴器。

8.如權利要求6所述的芯片測試電路，其特征在于，所述顯示提示模塊為指示燈。