[發明專利]一種芯片測試電路

在審

• 申請號: 202110290155.3
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN113049945A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 康希
• 申請（專利權）人: 湖南國科微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉曉菲

本發明公開了一種芯片測試電路，包括設置于驅動芯片的N個輸出通道與M個測試通道之間的N個開關和處理模塊，處理模塊控制各個開關的導通與關斷。由于M是小于N的整數，驅動芯片的多個輸出通道可依次通過一個測試通道輸出驅動電壓，處理模塊無需與驅動芯片所有輸出通道連接，僅與相應的測試通道連接即可接收驅動芯片的各個輸出通道輸出的驅動電壓，以判斷驅動芯片是否正常工作。本申請中的處理模塊無需設置與驅動芯片的輸出通道的數量相等的輸入端即可對驅動芯片的各個輸出通道輸出的驅動電壓進行測試，降低成本。且當處理模塊的輸入端的數量大于M時，處理模塊可與多個驅動芯片對應的測試通道連接以對多個驅動芯片進行測試，提高測試的效率。

技術領域

本發明涉及電力電子領域，特別是涉及一種芯片測試電路。

背景技術

為了使顯示面板顯示相應的畫面，現有技術中通常通過驅動芯片接收處理器發送的控制信號，從而通過與顯示面板上各個亞像素點連接的輸出通道輸出相應的驅動電壓，以使顯示面板上各個亞像素點顯示不同的顏色，從而使顯示面板顯示最終的畫面。

由于亞像素點上每個顏色對應的驅動電壓不同，為了使顯示面板顯示的畫面與期望畫面一致且保證其還原性，需要在對驅動芯片進行CP測試(Chip Probing，圓晶測試)時對其輸出的驅動電壓進行測試，也即測試驅動芯片輸出的各個驅動電壓是否滿足相應的期望電壓值。

在測試時，通常將測試機的CP測試針卡上的探針分別一一對應與驅動芯片上的各個輸出通道連接，通過測試驅動芯片上各個輸出通道輸出的驅動電壓是否滿足期望電壓值，也即驅動芯片輸出的驅動電壓能否使顯示面板顯示響應的畫面，來判斷該驅動芯片是否滿足要求。但是，大尺寸的顯示面板，例如電視，或者高分辨率的顯示面板，例如手機屏和電腦顯示屏等，通常需要6顆或者12顆驅動芯片，由于每個驅動芯片的輸出通道較多，例如每個驅動芯片可能會設有1026個、966個或960個輸出通道，若想對多個芯片的多個輸出通道進行測試，對CP測試針卡的要求較高，也即CP測試針卡需要設置多個探針，且各個探針之間的間距需設置在微米級，制造成本也較高；此外，由于多個驅動芯片的輸出通道較多，受限于CP測試針卡的探針的數量，每次只能測試一個芯片，測試的效率較低，費用較高。

發明內容

本發明的目的是提供一種芯片測試電路，處理模塊無需設置與驅動芯片的輸出通道的數量相等的輸入端即可對驅動芯片的各個輸出通道輸出的驅動電壓進行測試，降低成本。且當處理模塊的輸入端的數量大于M時，處理模塊可與多個驅動芯片對應的測試通道連接以對多個驅動芯片進行測試，提高測試的效率。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種芯片測試電路，包括：

第一端分別與驅動芯片的N個輸出通道一一對應連接，第二端分別與M個測試通道連接的N個開關，用于基于處理器的控制將與自身連接的所述芯片的輸出通道和所述測試通道之間的電路導通或關斷；M為不小于1的整數，N為大于M的整數；

M個輸入端分別與M個所述測試通道一一對應連接，信號輸出端分別一一對應與N個所述開關的控制端連接的所述處理模塊，用于控制與各個所述測試通道連接的多個所述開關分別按照預設頻率依次導通與關斷，以使所述驅動芯片的各個輸出通道分別按照所述預設頻率依次通過與自身對應的所述測試通道輸出驅動電壓；還用于基于各個所述測試通道輸出的所述驅動電壓判斷所述驅動芯片是否正常工作。

優選地，所述處理模塊包括：

信號輸出端為所述處理器的信號輸出端的處理器，用于控制與各個所述測試通道連接的多個所述開關分別按照預設頻率依次導通與關斷，以使所述驅動芯片的各個輸出通道分別按照所述預設頻率依次通過與自身對應的所述測試通道輸出驅動電壓；

各個輸入端分別一一對應為所述處理模塊的各個輸入端的測試機，用于基于各個所述測試通道輸出的所述驅動電壓判斷所述驅動芯片是否正常工作。

優選地，所述測試機包括：