[發明專利]半導體測試監控方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110288480.6
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN112964974A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 彭建國;吳能;石巖
• 申請（專利權）人: 嘉盛半導體（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京超成律師事務所 11646
• 代理人: 孔默

本申請實施例提供一種半導體測試監控方法、裝置、設備及存儲介質，所述半導體測試監控方法包括：獲取測試機的狀態數據和被測物品信息；在預設的數據庫中，讀取對應于所述被測物品信息的參數配置規則；判斷所述狀態數據是否符合所述參數配置規則；當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令。本申請實現了及時發現測試機的異常，提高測試結果的準確性。

技術領域

本申請涉及半導體技術領域，具體而言，涉及一種半導體測試監控方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

近年來，隨著半導體技術的不斷發展，集成電路被廣泛應用于信息技術、電子產品、通信等多個領域，極大地推動了科學技術的進步和社會經濟的發展。目前，在集成電路的生產過程中，需要對完成封裝后的集成電路進行功能及外觀的測試，以保證最終產品的質量，測試一般由測試機進行，不同產品具有不同的質量要求，對應不同的檢測項目或測試參數。現有技術中，測試機存在測試內容被人為誤修改或故障等情況，如果沒有及時發現，會導致測試結果異常，并影響產品質量。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種半導體測試監控方法、裝置、設備及存儲介質，用以實現及時發現測試機的異常，提高測試結果的準確性。

本申請實施例第一方面提供了一種半導體測試監控方法，包括：獲取測試機的狀態數據和被測物品信息；在預設的數據庫中，讀取對應于所述被測物品信息的參數配置規則；判斷所述狀態數據是否符合所述參數配置規則；當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令。

于一實施例中，所述獲取測試機的狀態數據和被測物品信息，包括：在所述測試機開始測試時，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

于一實施例中，所述獲取測試機的狀態數據和被測物品信息，包括：在所述測試機開始測試之后，每隔預設時長，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

于一實施例中，在所述當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令之后，還包括：生成報警信息，所述報警信息包括異常狀態信息和異常原因；接收用戶根據所述報警信息輸入的處理反饋信息；根據所述處理反饋信息，向所述測試機發送解除報警指令。

本申請實施例第二方面提供了一種半導體測試監控裝置，包括：獲取模塊，用于獲取測試機的狀態數據和被測物品信息；讀取模塊，用于在預設的數據庫中，讀取對應于所述被測物品信息的參數配置規則；判斷模塊，用于判斷所述狀態數據是否符合所述參數配置規則；第一發送模塊，用于當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令。

于一實施例中，所述獲取模塊用于：在所述測試機開始測試時，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

于一實施例中，所述獲取模塊用于：在所述測試機開始測試之后，每隔預設時長，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

于一實施例中，還包括：生成模塊，用于生成報警信息，所述報警信息包括異常狀態信息和異常原因；接收模塊，用于接收用戶根據所述報警信息輸入的處理反饋信息；第二發送模塊，用于根據所述處理反饋信息，向所述測試機發送解除報警指令。

本申請實施例第三方面提供了一種電子設備，包括：存儲器，用以存儲計算機程序；處理器，用以執行本申請實施例第一方面及其任一實施例的方法。

本申請實施例第四方面提供了一種非暫態電子設備可讀存儲介質，包括：程序，當其藉由電子設備運行時，使得所述電子設備執行本申請實施例第一方面及其任一實施例的方法。