[發明專利]半導體測試監控方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110288480.6
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN112964974A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 彭建國;吳能;石巖
• 申請（專利權）人: 嘉盛半導體（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京超成律師事務所 11646
• 代理人: 孔默

1.一種半導體測試監控方法，其特征在于，包括：

獲取測試機的狀態數據和被測物品信息；

在預設的數據庫中，讀取對應于所述被測物品信息的參數配置規則；

判斷所述狀態數據是否符合所述參數配置規則；

當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取測試機的狀態數據和被測物品信息，包括：

在所述測試機開始測試時，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取測試機的狀態數據和被測物品信息，包括：

在所述測試機開始測試之后，每隔預設時長，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令之后，還包括：

生成報警信息，所述報警信息包括異常狀態信息和異常原因；

接收用戶根據所述報警信息輸入的處理反饋信息；

根據所述處理反饋信息，向所述測試機發送解除報警指令。

5.一種半導體測試監控裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取測試機的狀態數據和被測物品信息；

讀取模塊，用于在預設的數據庫中，讀取對應于所述被測物品信息的參數配置規則；

判斷模塊，用于判斷所述狀態數據是否符合所述參數配置規則；

第一發送模塊，用于當所述狀態數據不符合所述參數配置規則時，向所述測試機發送停機指令和報警指令。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述獲取模塊用于：

在所述測試機開始測試時，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述獲取模塊用于：

在所述測試機開始測試之后，每隔預設時長，獲取測試機的狀態數據和被測物品信息。

8.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，還包括：

生成模塊，用于生成報警信息，所述報警信息包括異常狀態信息和異常原因；

接收模塊，用于接收用戶根據所述報警信息輸入的處理反饋信息；

第二發送模塊，用于根據所述處理反饋信息，向所述測試機發送解除報警指令。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：

存儲器，用以存儲計算機程序；

處理器，用以執行如權利要求1至4中任一項所述的方法。

10.一種非暫態電子設備可讀存儲介質，其特征在于，包括：程序，當其藉由電子設備運行時，使得所述電子設備執行權利要求1至4中任一項所述的方法。