[發(fā)明專利]顯示面板殘影風(fēng)險評估方法及顯示面板

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110284315.3
• 申請日: 2021-03-17
• 公開（公告）號: CN113075806A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅國仁
• 申請（專利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 張曉薇

本申請?zhí)峁┮环N顯示面板殘影風(fēng)險評估方法及顯示面板，該顯示面板殘影風(fēng)險評估方法通過測量顯示面板中液晶的介電系數(shù)，確定介電系數(shù)是否小于或等于介電閾值，在介電系數(shù)小于或等于介電閾值時，判定該顯示面板存在殘影風(fēng)險，從而對顯示面板的殘影風(fēng)險進行有效預(yù)測，為改善產(chǎn)品良率提供指導(dǎo)；本申請通過將顯示面板中液晶的介電系數(shù)控制為大于介電閾值，大大降低了顯示面板出現(xiàn)殘影缺陷的風(fēng)險，提高了產(chǎn)品品質(zhì)和良率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板殘影風(fēng)險評估方法及顯示面板。

背景技術(shù)

液晶顯示是當(dāng)前的主流顯示技術(shù)，隨著市場需求的變化，液晶顯示裝置正朝著大尺寸、高分辨率的方向發(fā)展。但是，隨著液晶顯示裝置尺寸的不斷增大以及分辨率的不斷提高，諸多問題也在逐漸顯現(xiàn)，其中較為嚴重的就是顯示殘影問題，尤其是線狀殘影。目前，線狀殘影的產(chǎn)生原因尚不得知，因此，在產(chǎn)品檢驗時無法對該問題進行有效預(yù)測，往往會造成一部分存在殘影風(fēng)險的產(chǎn)品流向客戶，嚴重影響用戶體驗及產(chǎn)品形象。

因此，當(dāng)前在生產(chǎn)顯示面板時，無法對顯示面板的殘影風(fēng)險進行有效預(yù)測，生產(chǎn)出的顯示面板出現(xiàn)殘影問題會嚴重影響顯示品質(zhì)和產(chǎn)品良率。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┮环N顯示面板殘影風(fēng)險評估方法及顯示面板，用于解決當(dāng)前無法預(yù)測顯示面板的殘影風(fēng)險的技術(shù)問題。

本申請?zhí)峁┮环N顯示面板殘影風(fēng)險評估方法，其包括：

提供一顯示面板，所述顯示面板包括液晶；

檢測所述液晶的介電系數(shù)；

在所述液晶的介電系數(shù)小于或等于介電閾值時，判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險。

在本申請的顯示面板殘影風(fēng)險評估方法中，所述在所述液晶的介電系數(shù)小于或等于介電閾值時，判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險的步驟，包括：

當(dāng)所述液晶的介電系數(shù)小于或等于負3時；

判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險。

在本申請的顯示面板殘影風(fēng)險評估方法中，所述在所述液晶的介電系數(shù)小于或等于介電閾值時，判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險的步驟，還包括：

當(dāng)所述液晶的介電系數(shù)大于負3時；

判定所述顯示面板無殘影風(fēng)險。

在本申請的顯示面板殘影風(fēng)險評估方法中，所述在所述液晶的介電系數(shù)小于或等于介電閾值時，判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險的步驟，還包括：

當(dāng)所述液晶的介電系數(shù)小于或等于介電閾值時；

判定所述液晶中存在具有下列通式的至少其中之一的高極性分子，所述通式包括：

其中，n為大于或等于1的整數(shù)；

判定所述顯示面板存在殘影風(fēng)險。

在本申請的顯示面板殘影風(fēng)險評估方法中，所述顯示面板還包括第一基板和第二基板，所述液晶位于所述第一基板和所述第二基板之間；

所述檢測所述液晶的介電系數(shù)的步驟，包括：

檢測所述顯示面板未設(shè)置所述液晶時，所述第一基板與所述第二基板之間的空盒電容；

檢測所述液晶在未偏轉(zhuǎn)狀態(tài)時，所述第一基板與所述第二基板之間的第一介質(zhì)電容；

檢測所述液晶在偏轉(zhuǎn)狀態(tài)時，所述第一基板與所述第二基板之間的第二介質(zhì)電容；

根據(jù)所述第一介質(zhì)電容與所述空盒電容的比值，確定第一介電參量；

根據(jù)所述第二介質(zhì)電容與所述空盒電容的比值，確定第二介電參量；