[發(fā)明專利]時鐘測試方法、裝置、量產(chǎn)測試方法及測試平臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110267015.4
• 申請日: 2021-02-26
• 公開（公告）號: CN113156799B
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發(fā)明（設計）人: 周文浩;陳曉飛;劉偉
• 申請（專利權）人: 宏晶微電子科技股份有限公司
• 主分類號: G04D7/00
• 分類號: G04D7/00
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;馮建基

本申請公開了一種時鐘測試方法、裝置、量產(chǎn)測試方法及測試平臺。該時鐘測試方法包括基于待測芯片產(chǎn)生的待測時鐘獲取時鐘窗口，其中，時鐘窗口的大小是預先設定的；利用標準時鐘對時鐘窗口進行計數(shù)，獲得累積時鐘計數(shù)；其中，標準時鐘的頻率大于待測時鐘的頻率；計算累積時鐘計數(shù)與標準時鐘計數(shù)的差值，獲得累積時鐘差值，比較累積時鐘差值和預設的時鐘閾值，并基于比較結果確定待測芯片的測試結果。該時鐘測試方法可提高測試效率，減少誤判，而且，可以大大降低成本。

技術領域

本申請涉及測量技術領域，具體涉及一種時鐘測試方法、裝置、量產(chǎn)測試方法及量產(chǎn)測試平臺。

背景技術

對于高速時鐘而言，特別是鎖相環(huán)模塊，累積時鐘抖動是非常重要的指標，而在量產(chǎn)芯片中的工藝角偏差可能會導致鎖相環(huán)等時鐘電路異常，導致時鐘電路出現(xiàn)不穩(wěn)定，如累積時鐘抖動偏大，嚴重時甚至會導致鎖相環(huán)失鎖等問題。因此，在芯片量產(chǎn)測試中需要對高速時鐘的累積抖動進行測量。

專業(yè)的時鐘測試設備可以通過內(nèi)部時鐘與測試平臺輸入時鐘的比例關系來判斷時鐘的精度，但頻率儀的成本高。在無法直接獲取累積時鐘抖動時，可以通過間接方式測試。例如，通過觀測圖像的穩(wěn)定性，并由讀取時鐘寄存器判斷。但由于依靠現(xiàn)象觀測來推測參數(shù)指標，不僅測試效率低，而且在量產(chǎn)測試中容易出現(xiàn)誤判。

發(fā)明內(nèi)容

為此，本申請?zhí)峁┮环N時鐘測試方法、裝置、量產(chǎn)測試方法及量產(chǎn)測試平臺，以解決現(xiàn)有技術中測試效率低、容易出現(xiàn)誤判的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本申請第一方面提供一種時鐘測試方法，包括：

基于待測芯片產(chǎn)生的待測時鐘獲取時鐘窗口，其中，所述時鐘窗口的大小是預先設定的；

利用標準時鐘對所述時鐘窗口進行計數(shù)，獲得累積時鐘計數(shù)；其中，所述標準時鐘的頻率大于所述待測時鐘的頻率；

計算所述累積時鐘計數(shù)與預設的時鐘計數(shù)的差值，獲得累積時鐘差值；

比較所述累積時鐘差值和預設的時鐘閾值，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果。

其中，所述利用標準時鐘對所述時鐘窗口進行計數(shù)，獲得累積時鐘計數(shù)，包括：

利用所述時鐘窗口的高電平或低電平對所述時鐘窗口進行計數(shù)。

其中，所述對所述累積時鐘差和預設的時鐘閾值進行比較，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果之后，還包括：

存儲所述測試結果，以供查詢所述測試結果。

為了實現(xiàn)上述目的，本申請第二方面提供一種時鐘測試裝置，包括：

時鐘發(fā)生器，用于基于待測芯片產(chǎn)生的待測時鐘獲取時鐘窗口；其中，所述時鐘窗口的大小是預先設定的；

時鐘管理模塊，用于產(chǎn)生標準時鐘；其中，所述標準時鐘的頻率大于所述待測時鐘的頻率；

計數(shù)器，用于基于所述標準時鐘對所述時鐘窗口進行計數(shù)，獲得累積時鐘計數(shù)；

計算模塊，用于計算所述累積時鐘計數(shù)與標準時鐘計數(shù)的差值，獲得累積時鐘差值；

判斷模塊，用于將所述累積時鐘差值與預設的時鐘閾值進行比較，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果。

其中，所述時鐘管理模塊為延遲鎖定環(huán)或延遲鎖相環(huán)。

為了實現(xiàn)上述目的，本申請第三方面提供一種測試平臺，包括時鐘測試裝置，其中，所述時鐘測試裝置采用本申請?zhí)峁┑臅r鐘測試裝置。

其中，還包括：

時鐘分配器，用于對待測芯片產(chǎn)生的待測時鐘進行分配，獲得第一路待測時鐘和第二路待測時鐘；