[發明專利]時鐘測試方法、裝置、量產測試方法及測試平臺

有效

• 申請號: 202110267015.4
• 申請日: 2021-02-26
• 公開（公告）號: CN113156799B
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 周文浩;陳曉飛;劉偉
• 申請（專利權）人: 宏晶微電子科技股份有限公司
• 主分類號: G04D7/00
• 分類號: G04D7/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;馮建基

1.一種時鐘測試方法，包括：

基于待測芯片產生的待測時鐘獲取時鐘窗口，其中，所述時鐘窗口的大小是預先設定的；

利用標準時鐘對預設時間段內的所述時鐘窗口進行計數，獲得累積時鐘計數；其中，所述標準時鐘的頻率大于所述待測時鐘的頻率；利用所述時鐘窗口的高電平或低電平對所述時鐘窗口進行計數；

計算所述累積時鐘計數與標準時鐘計數的差值，獲得累積時鐘差值；其中，所述標準時鐘計數的時長為所述預設時間段；

比較所述累積時鐘差值和預設的時鐘閾值，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果。

2.根據權利要求1所述的時鐘測試方法，其中，所述對所述累積時鐘差值和預設的時鐘閾值進行比較，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果之后，還包括：

存儲所述測試結果，以供查詢所述測試結果。

3.一種時鐘測試裝置，包括：

時鐘發生器，用于基于待測芯片產生的待測時鐘獲取時鐘窗口；其中，所述時鐘窗口的大小是預先設定的；

時鐘管理模塊，用于產生標準時鐘；其中，所述標準時鐘的頻率大于所述待測時鐘的頻率；

計數器，用于基于標準時鐘對預設時間段內的所述時鐘窗口進行計數，獲得累積時鐘計數，利用所述時鐘窗口的高電平或低電平對所述時鐘窗口進行計數；

計算模塊，用于計算所述累積時鐘計數與標準時鐘計數的差值，獲得累積時鐘差值；其中，所述標準時鐘計數的時長為所述預設時間段；

判斷模塊，用于將所述累積時鐘差值與預設的時鐘閾值進行比較，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果。

4.根據權利要求3所述的時鐘測試裝置，其中，所述時鐘管理模塊為延遲鎖定環或延遲鎖相環。

5.一種測試平臺，包括時鐘測試裝置，其中，所述時鐘測試裝置采用權利要求3或4所述的時鐘測試裝置。

6.根據權利要求5所述的測試平臺，其中，還包括：

時鐘分配器，用于對待測芯片產生的待測時鐘進行分配，獲得至少兩路待測時鐘，其中一路待測時鐘與所述時鐘測試裝置連接。

7.根據權利要求6所述的測試平臺，其中，還包括：

電平轉換模塊，用于將與所述時鐘測試裝置連接的所述待測時鐘的電平轉換為與所述標準時鐘的電平一致。

8.一種量產測試方法，包括：

獲取待測芯片產生的待測時鐘；

基于所述待測時鐘產生時鐘窗口；其中，所述時鐘窗口的大小是預先設定的；

利用標準時鐘對預設時間段內的所述時鐘窗口進行計數，獲得累積時鐘計數；其中，所述標準時鐘的頻率大于所述待測時鐘的頻率，利用所述時鐘窗口的高電平或低電平對所述時鐘窗口進行計數；

計算所述累積時鐘計數與標準時鐘計數的差值，獲得累積時鐘差值；其中，所述標準時鐘計數的時長為所述預設時間段；

比較所述累積時鐘差和預設的時鐘閾值，并基于比較結果確定所述待測芯片的測試結果。

9.根據權利要求8所述的量產測試方法，其中，所述獲取待測芯片產生的待測時鐘之前，還包括：

所述待測芯片產生待測時鐘后延時預設的延時長度。

10.根據權利要求8所述的量產測試方法，其中，所述待測芯片產生待測時鐘后延時預設的時間長度之前，還包括：

在關閉所述標準時鐘發生器的情況下，設置所述時鐘閾值和所述時鐘窗口。