[發(fā)明專利]基板載置臺及基板處理裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110266661.9 | 申請日: | 2021-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN113451198A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 津田榮之輔;鳥屋大輔;米倉總史;武田聰;福留譽司;池田恭子 | 申請(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/687 | 分類號: | H01L21/687;H01L21/67;C23C16/54 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基板載置臺 處理 裝置 | ||
本發(fā)明提供恰當(dāng)?shù)乜刂朴糜谳d置基板的載置面的溫度的基板載置臺及基板處理裝置。該基板載置臺具有:載置臺主體,在該載置臺主體的內(nèi)部具有被冷卻面;以及供給流路形成構(gòu)件,該供給流路形成構(gòu)件由導(dǎo)熱性較所述載置臺主體低的材料形成,且具有朝向所述被冷卻面噴射制冷劑的冷卻噴嘴。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及基板載置臺及基板處理裝置。
背景技術(shù)
已知有對載置于基板載置臺的晶圓等基板實施所期望的處理(成膜、蝕刻等)的基板處理裝置。另外,已知有控制被載置的基板的溫度的基板載置臺。
在專利文獻(xiàn)1中公開了一種靜電卡盤組件,其具有:靜電卡盤;冷卻板,其與所述靜電卡盤相接觸地配設(shè),并且具有形成于其中的氣體通道;以及氣體箱,其與所述冷卻板的所述氣體通道的第1端部及第2端部相結(jié)合,能夠以控制在所述氣體通道流通的冷卻氣體的流量的方式工作。
專利文獻(xiàn)1:日本特表2018-501653號公報
發(fā)明內(nèi)容
在基板處理裝置中,對載置于基板載置臺的基板實施所期望的處理時,要求恰當(dāng)?shù)乜刂苹宓臏囟取?/p>
本公開的一技術(shù)方案提供恰當(dāng)?shù)乜刂戚d置基板的載置面的溫度的基板載置臺及基板處理裝置。
本公開的一技術(shù)方案所涉及的基板載置臺具有:載置臺主體,在其內(nèi)部具有被冷卻面;以及供給流路形成構(gòu)件,其由導(dǎo)熱性較所述載置臺主體低的材料形成,且具有朝向所述被冷卻面噴射制冷劑的冷卻噴嘴。
根據(jù)本公開的一技術(shù)方案,能夠提供恰當(dāng)?shù)乜刂戚d置基板的載置面的溫度的基板載置臺及基板處理裝置。
附圖說明
圖1是一實施方式所涉及的基板處理裝置的剖面示意圖的一個例子。
圖2是基板載置臺的局部放大剖面示意圖的一個例子。
圖3是供給流路形成構(gòu)件的俯視圖的一個例子。
圖4是利用基板載置臺進(jìn)行溫度控制的一個例子。
圖5是供給流路形成構(gòu)件的俯視圖的另一個例子。
具體實施方式
以下,參照附圖對用于實施本公開的方式進(jìn)行說明。在各附圖中,對于相同的結(jié)構(gòu)部分標(biāo)注相同的附圖標(biāo)記,存在省略重復(fù)說明的情況。
<基板處理裝置1>
使用圖1說明一實施方式所涉及的基板處理裝置1。圖1是一實施方式所涉及的基板處理裝置1的剖面示意圖的一個例子。
基板處理裝置1具有真空容器2、氣體供給部3以及基板載置臺4。基板處理裝置1例如是熱CVD(Chemical Vapor Deposition:化學(xué)氣相沉積)裝置,且是自氣體供給部3向真空容器2內(nèi)供給處理氣體進(jìn)而對在真空容器2內(nèi)的基板載置臺4載置的晶圓等基板W實施所期望的處理(例如成膜處理)的裝置。
真空容器2具有真空端口(未圖示)以及送入送出端口(未圖示)。真空端口與排氣裝置(未圖示)連接,以真空容器2內(nèi)成為真空氣氛的方式進(jìn)行減壓。送入送出端口構(gòu)成為能夠開閉,構(gòu)成為能夠經(jīng)由送入送出端口將基板W向真空容器2內(nèi)送入以及從真空容器2內(nèi)送出。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東京毅力科創(chuàng)株式會社,未經(jīng)東京毅力科創(chuàng)株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110266661.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:提高人聲品質(zhì)方法以及裝置
- 下一篇:終端的操作方法和終端
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





