[發明專利]一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗在審
| 申請號: | 202110266066.5 | 申請日: | 2021-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN112885689A | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發明(設計)人: | 華衛群;尤春;薛文卿;顧夢星;張月圓;劉維維;季書鳳 | 申請(專利權)人: | 無錫中微掩模電子有限公司 |
| 主分類號: | H01J37/317 | 分類號: | H01J37/317;H01J37/32 |
| 代理公司: | 連云港聯創專利代理事務所(特殊普通合伙) 32330 | 代理人: | 劉剛 |
| 地址: | 214000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 fei850 離子束 修補 機電 中和 漏斗 | ||
1.一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,包括電子中和漏斗本體(2),其特征在于:所述電子中和漏斗本體(2)的一側安裝有支撐連桿(1),所述支撐連桿(1)的頂部安裝有工藝氣體管道(3),所述工藝氣體管道(3)的端部安裝有工藝氣體噴嘴(4),所述電子中和漏斗本體(2)的中間位置處開設有中心孔(5),所述電子中和漏斗本體(2)的內部設置有內側面(6)和最低面(7)。
2.根據權利要求1所述的一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,其特征在于:所述電子中和漏斗本體(2)的材質設置為石墨材質。
3.根據權利要求1所述的一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,其特征在于:所述電子中和漏斗本體(2)的中心孔(5)位置高于電子中和漏斗本體(2)內部內側面(6)的最低面(7)。
4.根據權利要求1所述的一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,其特征在于:所述電子中和漏斗本體(2)的內側面設置為鋸齒狀。
5.根據權利要求1所述的一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,其特征在于:所述工藝氣體噴嘴(4)設置在電子中和漏斗本體(2)的中心孔(5)位置。
6.根據權利要求1所述的一種新型FEI850離子束修補機電子中和漏斗,其特征在于:所述中心孔(5)設置在電子中和漏斗本體(2)內部的最低面(7)位置處。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫中微掩模電子有限公司,未經無錫中微掩模電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110266066.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種視覺檢測用導向調整機構
- 下一篇:違禁品的檢測方法及裝置





