[發(fā)明專利]低密度奇偶校驗編碼裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110265177.4 | 申請日: | 2021-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN113114271A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張蒙蒙;黃磊 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H03M13/11 | 分類號: | H03M13/11 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 繆成珠 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 密度 奇偶校驗 編碼 裝置 方法 | ||
1.一種低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述裝置包括:
余數(shù)生成模塊,用于生成校驗矩陣中各矩陣元素對提升因子的取余結(jié)果;
外部存儲模塊,連接所述余數(shù)生成模塊,用于存儲所述余數(shù)生成模塊生成的取余結(jié)果;
片內(nèi)存取控制模塊,連接所述外部存儲模塊,用于在預(yù)設(shè)時刻獲取所述取余結(jié)果;
循環(huán)累加模塊,連接所述片內(nèi)存取控制模塊,用于根據(jù)所述取余結(jié)果對輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)移位操作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述提升因子具有若干個,所述余數(shù)生成模塊用于生成校驗矩陣中各矩陣元素對不同提升因子的若干組取余結(jié)果,所述校驗矩陣中各矩陣元素對同一提升因子的取余結(jié)果為一組取余結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述校驗矩陣中各矩陣元素對提升因子的取余結(jié)果為各矩陣元素對提升因子取余得到的余數(shù)所形成的余數(shù)表格,所述余數(shù)表格的行列排布順序與所述校驗矩陣中各矩陣元素的行列排布順序一一對應(yīng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述外部存儲模塊包括外部存儲單元和存儲控制器;
所述外部存儲單元包括DDR,用于存儲所述余數(shù)生成模塊生成的取余結(jié)果;
所述存儲控制器用于控制所述外部存儲單元對所述取余結(jié)果的存取。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述存儲控制器用于在開機(jī)時刻將所述余數(shù)生成模塊生成的取余結(jié)果存入所述外部存儲單元,還用于在更新提升因子的時刻將所述外部存儲單元存儲的與更新的提升因子對應(yīng)的取余結(jié)果取出,并存入所述片內(nèi)存取控制模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述片內(nèi)存取控制模塊用于在更新提升因子的時刻從所述外部存儲模塊中獲取與更新的提升因子對應(yīng)的取余結(jié)果,并用于以預(yù)設(shè)方式將所述取余結(jié)果存入所述循環(huán)累加模塊,所述預(yù)設(shè)方式包括逐列存入方式。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低密度奇偶校驗編碼裝置,其特征在于,所述循環(huán)累加模塊用于對輸入數(shù)據(jù)循環(huán)左移n次,n為所述余數(shù)表格中的余數(shù)值。
8.一種低密度奇偶校驗編碼方法,其特征在于,所述方法包括:
預(yù)先生成校驗矩陣中各矩陣元素對提升因子的取余結(jié)果;
在開機(jī)啟動時刻,將校驗矩陣中各矩陣元素對提升因子的取余結(jié)果存入外部存儲模塊;
在更新提升因子配置時刻,從外部存儲模塊中獲取與更新的提升因子對應(yīng)的取余結(jié)果;
根據(jù)所述取余結(jié)果對輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)移位操作。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求8所述的低密度奇偶校驗編碼方法。
10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其特征在于,所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有計算機(jī)指令,所述計算機(jī)指令被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求8所述的低密度奇偶校驗編碼方法。
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