[發(fā)明專利]芯片的自動測試系統(tǒng)及方法

在審

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• 申請日: 2021-03-10
• 公開（公告）號: CN113030702A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉葉
• 申請（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219
• 代理人: 張燕

本發(fā)明提供一種芯片的自動測試系統(tǒng)及方法，所述芯片的自動測試系統(tǒng)包括：客戶端，用于發(fā)送針對所述芯片的測試指令；服務(wù)端，包括主板及與其連接的芯片；其中，所述主板用于接收所述測試指令，將所述測試指令轉(zhuǎn)換為測試文件，并將所述測試文件傳輸至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述測試文件后，觸發(fā)與測試文件相關(guān)的測試項目，生成該芯片的功能測試結(jié)果，并通過所述主板將所述芯片的功能測試結(jié)果分享至所述客戶端。本發(fā)明摒棄了現(xiàn)有測試方法，提升了芯片測試結(jié)果的可靠性，節(jié)約了測試時間。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種測試系統(tǒng)及方法，特別是涉及一種芯片的自動測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

伺服器系統(tǒng)中，芯片占據(jù)很特別的位置，主板CPU，PCH，BMCVRMS等與芯片交互的信號越來越多，芯片內(nèi)部的控制模塊數(shù)量也飛速增長。這樣對于芯片功能的測試也變得越來越復(fù)雜，如圖1所示的現(xiàn)有測試方法依賴示波器依次測量信號，需要熟練的工程師了解對應(yīng)系統(tǒng)的工作模式才可以進(jìn)行測試，這種方法不但考驗測試工程師的能力，測試周期也會加長，結(jié)果的檢查也耗時耗力。

因此，如何提供一種芯片的自動測試系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn)有芯片測試通過測試工程師測試，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確，測試周期長，結(jié)果的檢查也耗時耗力等缺陷，實已成為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種芯片的自動測試系統(tǒng)及方法，用于解決現(xiàn)有芯片測試通過測試工程師測試，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確，測試周期長，結(jié)果的檢查也耗時耗力的問題。

為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明一方面提供一種芯片的自動測試系統(tǒng)，包括：客戶端，用于發(fā)送針對所述芯片的測試指令；服務(wù)端，包括主板及與其連接的芯片；其中，所述主板用于接收所述測試指令，將所述測試指令轉(zhuǎn)換為測試文件，并將所述測試文件傳輸至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述測試文件后，觸發(fā)與測試文件相關(guān)的測試項目，生成該芯片的功能測試結(jié)果，并通過所述主板將所述芯片的功能測試結(jié)果分享至所述客戶端。

于本發(fā)明的一實施例中，所述測試指令包括寄存器指令；所述寄存器指令的格式為地址位+寄存器值。

于本發(fā)明的一實施例中，所述客戶端通過通用異步收發(fā)傳輸器或網(wǎng)絡(luò)接口控制器將所述測試指令發(fā)送至所述主板；所述主板通過通用異步收發(fā)傳輸器或網(wǎng)絡(luò)接口控制器將所述芯片的功能測試結(jié)果分享至所述客戶端。

于本發(fā)明的一實施例中，所述主板與所述芯片按照至少一種傳輸協(xié)議進(jìn)行系統(tǒng)間的數(shù)據(jù)交互；所述傳輸協(xié)議包括串行通用輸入/輸出協(xié)議、低管腳數(shù)協(xié)議、雙向二線制同步串行協(xié)議和/或串行外設(shè)接口協(xié)議。

于本發(fā)明的一實施例中，所述主板的中央處理器、集成南橋、基板管理控制器或電壓調(diào)節(jié)模塊與所述芯片數(shù)據(jù)交互。

于本發(fā)明的一實施例中，所述主板將所述測試指令轉(zhuǎn)換為符合串行通用輸入?yún)f(xié)議、低管腳數(shù)協(xié)議、雙向二線制同步串行協(xié)議和/或串行外設(shè)接口協(xié)議的測試文件；所述芯片將芯片的功能測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為符合串行通用輸出協(xié)議、低管腳數(shù)協(xié)議、雙向二線制同步串行協(xié)議和/或串行外設(shè)接口協(xié)議的測試結(jié)果。

于本發(fā)明的一實施例中，所述主板將芯片的功能測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為客戶端可識別的測試日志文件，并將該測試日志文件分享至所述客戶端。

于本發(fā)明的一實施例中，所述芯片包括復(fù)雜可編程邏輯器件和/或現(xiàn)場可編程門陣列。

本發(fā)明另一方面提供一種芯片的自動測試方法，應(yīng)用于一芯片的自動測試系統(tǒng)，該芯片的自動測試系統(tǒng)包括客戶端、與客戶端連接的服務(wù)端，所述服務(wù)端包括主板及與其連接的芯片；所述芯片的自動測試方法包括：所述客戶端發(fā)送針對所述芯片的測試指令；所述主板接收所述測試指令，將所述測試指令轉(zhuǎn)換為測試文件，并將所述測試文件傳輸至所述芯片；所述芯片在接收到所述測試文件后，觸發(fā)與測試文件相關(guān)的測試項目，生成該芯片的功能測試結(jié)果；所述主板將所述芯片的功能測試結(jié)果分享至所述客戶端。