[發(fā)明專利]天線自動(dòng)測(cè)試設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110258845.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113049887B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉啟華;石堅(jiān) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 揚(yáng)州京柏自動(dòng)化科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R29/10 | 分類號(hào): | G01R29/10;G01R31/01;G01R31/28;G01B11/00 |
| 代理公司: | 蘇州佳捷天誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32516 | 代理人: | 李陽 |
| 地址: | 225000 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 天線 自動(dòng) 測(cè)試 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了天線自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,包括機(jī)架,所述機(jī)架上依次設(shè)置有料盤上料機(jī)構(gòu)、天線產(chǎn)品折彎機(jī)構(gòu)、上料位產(chǎn)品錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、用于擺放折彎下料產(chǎn)品的半檢料盤機(jī)構(gòu)、用于對(duì)天線進(jìn)行RF測(cè)試的RF測(cè)試機(jī)構(gòu)、用于擺放RF測(cè)試后產(chǎn)品的RF測(cè)試料盤機(jī)構(gòu)、對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行翻轉(zhuǎn)的二次錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行ICT測(cè)試的ICT測(cè)試機(jī)構(gòu),用于放置測(cè)試后產(chǎn)品的的ICT測(cè)試料盤,本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)在進(jìn)行RF和ICT測(cè)試時(shí),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上下料操作,從而節(jié)省人力、提高產(chǎn)能,從而能更好的管控產(chǎn)品質(zhì)量、保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和穩(wěn)定性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及自動(dòng)化設(shè)備領(lǐng)域,特別涉及天線自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。
背景技術(shù)
天線在生產(chǎn)完成后需要進(jìn)行RF電磁頻率測(cè)試和ICT測(cè)試電氣功能測(cè)試,目前在進(jìn)行此兩種測(cè)試是,需要人工分別拿取產(chǎn)品到上述兩種設(shè)備上上料,并通過設(shè)備出的測(cè)試結(jié)果,進(jìn)行人工上下料,此種方式人工強(qiáng)度大,效率低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上下料的天線自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:天線自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,包括機(jī)架,所述機(jī)架上依次設(shè)置有料盤上料機(jī)構(gòu)、天線產(chǎn)品折彎機(jī)構(gòu)、上料位產(chǎn)品錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、用于擺放折彎下料產(chǎn)品的半檢料盤機(jī)構(gòu)、用于對(duì)天線進(jìn)行RF測(cè)試的RF測(cè)試機(jī)構(gòu)、用于擺放RF測(cè)試后產(chǎn)品的RF測(cè)試料盤機(jī)構(gòu)、對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行翻轉(zhuǎn)的二次錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行ICT測(cè)試的ICT測(cè)試機(jī)構(gòu),用于放置測(cè)試后產(chǎn)品的的ICT測(cè)試料盤;
所述機(jī)架上還設(shè)置有將料盤上料機(jī)構(gòu)內(nèi)的料運(yùn)送至天線產(chǎn)品折彎機(jī)構(gòu)處的上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、將天線產(chǎn)品折彎機(jī)構(gòu)處的產(chǎn)品運(yùn)送至上料位產(chǎn)品錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)處的折彎機(jī)下料機(jī)構(gòu)、用于將上料位產(chǎn)品錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)處的產(chǎn)品送至半檢料盤機(jī)構(gòu)處和將半檢料盤機(jī)構(gòu)處的產(chǎn)品放至RF測(cè)試機(jī)構(gòu)上的第一機(jī)械手機(jī)構(gòu)、用于將RF測(cè)試機(jī)構(gòu)處的產(chǎn)品送至RF測(cè)試料盤機(jī)構(gòu)處或二次錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)處的的RF下料機(jī)械手、將二次錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)處的產(chǎn)品送至ICT測(cè)試機(jī)構(gòu),并從ICT測(cè)試機(jī)構(gòu)內(nèi)將產(chǎn)品送至ICT測(cè)試料盤處的ICT上下料機(jī)械手;
還包括用于控制上述各機(jī)構(gòu)的人機(jī)界面盒。
進(jìn)一步的是:所述上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)包括安裝在機(jī)架上的X軸搬運(yùn)模組、所述X軸搬運(yùn)模組上設(shè)置有Y軸搬運(yùn)模組,所述Y軸搬運(yùn)模組上設(shè)置有Z軸搬運(yùn)模組,所述Z軸搬運(yùn)模組上設(shè)置有抓料機(jī)構(gòu)和抓料盤機(jī)構(gòu),所述抓料機(jī)構(gòu)包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和設(shè)置在旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)軸上的第一吸取機(jī)構(gòu),所述抓料盤機(jī)構(gòu)包括上下驅(qū)動(dòng)氣缸和設(shè)置在上下驅(qū)動(dòng)氣缸上的料盤抓取件;
所述X軸搬運(yùn)模組一側(cè)還設(shè)置有第一CCD視覺引導(dǎo)機(jī)構(gòu)。
進(jìn)一步的是:所述料盤上料機(jī)構(gòu)包括料盤上料架,所述料盤上料架包括支架,還包括可穿過支架的料盤托架和驅(qū)動(dòng)料盤托架上下運(yùn)動(dòng)的料盤上下移動(dòng)模組,所述支架上設(shè)置有多個(gè)用于檢測(cè)料盤的光纖傳感器和驅(qū)動(dòng)光纖傳感器伸出的傳感器驅(qū)動(dòng)氣缸,所述支架兩側(cè)均設(shè)置有用于對(duì)料盤托架和料盤分離的托盤分離機(jī)構(gòu)和用于對(duì)料盤定位的料盤定位機(jī)構(gòu);
所述托盤分離機(jī)構(gòu)包括分離板和驅(qū)動(dòng)分離板伸出的分離板驅(qū)動(dòng)氣缸,所述料盤定位機(jī)構(gòu)包括可伸入料盤側(cè)邊孔內(nèi)的定位板和驅(qū)動(dòng)定位板伸出的定位板驅(qū)動(dòng)氣缸。
進(jìn)一步的是:所述折彎機(jī)下料機(jī)構(gòu)包括第二吸取機(jī)構(gòu),還包括用于驅(qū)動(dòng)第二吸取機(jī)構(gòu)做升降運(yùn)動(dòng)的第一升降驅(qū)動(dòng)氣缸和驅(qū)動(dòng)第二吸取機(jī)構(gòu)做水平運(yùn)動(dòng)的第一水平驅(qū)動(dòng)氣缸;
所述上料位產(chǎn)品錯(cuò)位翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)包括第一運(yùn)料架和位于運(yùn)料架一側(cè)的第一翻轉(zhuǎn)架,所述第一運(yùn)料架上設(shè)置有運(yùn)料軌道,所述運(yùn)料軌道上設(shè)置有第一仿形載具,還包括驅(qū)動(dòng)第一仿形載具在運(yùn)料軌道上運(yùn)動(dòng)的第二水平驅(qū)動(dòng)氣缸,所述第一翻轉(zhuǎn)架上設(shè)置有第一翻轉(zhuǎn)板和驅(qū)動(dòng)第一翻轉(zhuǎn)板翻轉(zhuǎn)的第一翻轉(zhuǎn)電機(jī),所述第一翻轉(zhuǎn)板沿旋轉(zhuǎn)中心對(duì)稱設(shè)置有與第一仿形載具配合的第二仿形載具,所述第一翻轉(zhuǎn)板上設(shè)置有可穿過第二仿形載具伸向第一仿形載具的第三吸取機(jī)構(gòu)和驅(qū)動(dòng)第三吸取機(jī)構(gòu)做升降運(yùn)動(dòng)的第二升降驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于揚(yáng)州京柏自動(dòng)化科技有限公司,未經(jīng)揚(yáng)州京柏自動(dòng)化科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
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