[發(fā)明專利]發(fā)光二極管外延片制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110258024.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113193087B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚振;從穎;董彬忠;李鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華燦光電(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/32 | 分類號(hào): | H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 呂耀萍 |
| 地址: | 215600 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 外延 制備 方法 | ||
本公開(kāi)提供了一種發(fā)光二極管外延片制備方法,屬于發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域。襯底上生長(zhǎng)非摻雜GaN層之后,生長(zhǎng)n型GaN層之前,以及生長(zhǎng)完n型GaN層之后,生長(zhǎng)多量子阱層之前,在反應(yīng)腔的溫度為600~800℃的條件下,向反應(yīng)腔分別通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)及時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣,以較低的溫度緩解高溫積累的應(yīng)力,提高晶體質(zhì)量。氨氣與殘留的一些有機(jī)金屬源進(jìn)行反應(yīng),減少反應(yīng)腔內(nèi)殘留的有機(jī)金屬源。保證最終得到的n型GaN層、非摻雜GaN層、多量子阱層之間界面清晰。作為基礎(chǔ)層的非摻雜GaN層及n型GaN層及多量子阱層的質(zhì)量均得到有效提高,發(fā)光二極管外延片整體的質(zhì)量得到有效提高。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及到了發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及到一種發(fā)光二極管外延片制備方法。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管是一種應(yīng)用非常廣泛的發(fā)光器件,常用于通信號(hào)燈、汽車(chē)內(nèi)外燈、城市照明和景觀照明等,發(fā)光二極管外延片則是用于制備發(fā)光二極管的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。發(fā)光二極管外延片通常包括襯底及襯底上依次層疊的GaN緩沖層、非摻雜GaN層、n型GaN層、多量子阱層及p型GaN層。
由于GaN材料與藍(lán)寶石襯底之間存在較大的晶格失配和熱失配,導(dǎo)致存在較大的應(yīng)力。而生長(zhǎng)的非摻雜GaN層、n型GaN層由于組分構(gòu)成、生長(zhǎng)溫度和生長(zhǎng)壓力均不同,所以導(dǎo)致n型GaN層及n型GaN層以下的外延結(jié)構(gòu)內(nèi)部會(huì)存在較大的內(nèi)部應(yīng)力。內(nèi)部應(yīng)力的存在會(huì)導(dǎo)致外延片中存在較多缺陷,且容易導(dǎo)致多量子阱層質(zhì)量降差,使得最終得到的發(fā)光二極管外延片的發(fā)光效率較低。
發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種發(fā)光二極管外延片制備方法,可以提高發(fā)光二極管外延片的晶體質(zhì)量以提高最終得到的發(fā)光二極管的發(fā)光效率。所述技術(shù)方案如下:
本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種發(fā)光二極管外延片,所述發(fā)光二極管外延片制備方法包括:
提供一襯底;
在所述襯底上生長(zhǎng)非摻雜GaN層;
在反應(yīng)腔的溫度為600~800℃的條件下,向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣;
在所述非摻雜GaN層上生長(zhǎng)n型GaN層;
在所述反應(yīng)腔的溫度為600~800℃的條件下,向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣;
在所述n型GaN層上生長(zhǎng)多量子阱層;
在所述多量子阱層上生長(zhǎng)p型GaN層。
可選地,所述第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)小于所述第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)。
可選地,所述第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)與所述第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)之比為1:1.5~1:4。
可選地,所述第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)為15~50s,所述第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)為20~60s。
可選地,向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的流量,小于向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的流量。
可選地,向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的流量,與向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的流量之比為1:1.5~1:3。
可選地,所述向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣,包括:
向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng),且流量為10~40L的氨氣。
可選地,所述向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣,包括:
向所述反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng),且流量為15~50L的氨氣。
可選地,向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第一設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的過(guò)程中所述反應(yīng)腔的溫度,高于向反應(yīng)腔通入時(shí)長(zhǎng)為第二設(shè)定時(shí)長(zhǎng)的氨氣的過(guò)程中所述反應(yīng)腔的溫度。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件
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