[發明專利]一種調整芯片參數的測試方法在審
| 申請號： | 202110256152.8 | 申請日： | 2021-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN113049943A | 公開（公告）日： | 2021-06-29 |
| 發明（設計）人： | 夏霜;金善智;曹余新 | 申請（專利權）人： | 普冉半導體（上海）股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海元好知識產權代理有限公司 31323 | 代理人： | 張靜潔;曹媛 |
| 地址： | 201210 上海市浦東新*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 調整 芯片 參數 測試 方法 | ||
1.一種調整芯片參數的測試方法，其特征在于，該方法包括：
S1、獲取芯片在測試時的芯片參數；
S2、判斷所述芯片在測試時的芯片參數是否在設定范圍之內，若否，根據該芯片參數與芯片可調整變量之間的對應關系確定所述芯片調整至目標值所需的可調整變量組合；
S3、將所述可調整變量組合賦值給芯片。
2.如權利要求1所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，所述步驟S3還包括：
在所述可調整變量組合賦值給芯片之后，重復步驟S1。
3.如權利要求1所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，所述芯片參數包括電壓、電流和頻率。
4.如權利要求1所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，所述芯片參數與芯片可調整變量之間的對應關系具體通過如下步驟標定得到：
采用二維或多維方式實現芯片參數調整的測試方法；
通過測試，收集芯片參數與芯片可調整變量之間的對應關系，分析并建立a＝f(x,y,z…)的函數，其中，a為芯片參數，x，y，z為芯片均可調整變量。
5.如權利要求4所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，所述x、y和z分別為控制電阻、電容和晶體管值變化。
6.如權利要求4所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，用于標定對應關系的芯片與用于測試的芯片為同一批次的芯片。
7.如權利要求1所述的調整芯片參數的測試方法，其特征在于，根據所述對應關系構建對應關系表，通過查找所述對應關系表可查出對應的可調整變量組合。
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