[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置及評估系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110255495.2 | 申請日: | 2021-03-09 |
| 公開(公告)號: | CN113030688B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬英起;陳錢;韓建偉;朱翔;上官士鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心 |
| 主分類號: | G01R31/265 | 分類號: | G01R31/265 |
| 代理公司: | 北京東方盛凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 王穎 |
| 地址: | 100190 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 瞬態(tài) 劑量率 效應(yīng) 激光 模擬 裝置 評估 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置及評估系統(tǒng),包括:激光產(chǎn)生和控制模塊、光路模塊、檢測模塊、載物模塊和上位機(jī);激光產(chǎn)生和控制模塊,用于產(chǎn)生脈沖激光,并對脈沖激光往光學(xué)模塊傳播進(jìn)行控制;光路模塊,用于調(diào)制激光產(chǎn)生和控制模塊輸入的脈沖激光,對激光光斑進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測量,對激光能量進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測量,將調(diào)制后的脈沖激光輻照到半導(dǎo)體器件上;檢測模塊,用于對半導(dǎo)體器件進(jìn)行供電和功能測試以及輻照后的電學(xué)參數(shù)測量。采用本發(fā)明技術(shù)方案,可以提高激光模擬的準(zhǔn)確性,同時可以對激光模擬瞬態(tài)劑量率效應(yīng)進(jìn)行定量評估。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件輻射效應(yīng)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置及評估系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前國內(nèi)抗輻射器件加固研制過程基本上是“設(shè)計-仿真-模擬實(shí)驗(yàn)-優(yōu)化設(shè)計”的反復(fù)過程多次迭代,其中器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)加固研制主要依靠閃光加速器試驗(yàn)來完成測試,缺乏一種在器件研制過程中進(jìn)行快速定量評估的方法。由于閃光加速器試驗(yàn)測試開放時間相對較短、測試環(huán)境干擾因素相對多及總劑量累積效應(yīng)相對嚴(yán)重等因素,將影響集成電路瞬態(tài)劑量率效應(yīng)試驗(yàn)評估及效應(yīng)機(jī)理研究進(jìn)程,拖長研制周期,增大研制成本,導(dǎo)致器件及裝備研發(fā)成本高、不可控因素多、設(shè)計質(zhì)量難以保證。同時,系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件加固防護(hù)驗(yàn)證試驗(yàn)由于試驗(yàn)條件等的限制,導(dǎo)致抗核輻射設(shè)計無法有效考核,使設(shè)計者被迫采用過度加固方案,影響芯片本身的性能。在電子系統(tǒng)或器件的抗核輻射加固防護(hù)過程中,需針對系統(tǒng)內(nèi)的關(guān)鍵器件的劑量率響應(yīng)、失效閾值及抗輻射水平進(jìn)行快速測試與摸底評估。
脈沖激光是一種便捷、通用的試驗(yàn)?zāi)M手段,測試輻射效應(yīng)調(diào)節(jié)方便,調(diào)節(jié)精度高,測試范圍廣。技術(shù)上主要有以下顯著優(yōu)勢:
1、光束方便可調(diào),更能精準(zhǔn)的測試得到器件發(fā)生位翻轉(zhuǎn)、邏輯錯誤、閂鎖、瞬態(tài)電壓電流脈沖等器件試驗(yàn)響應(yīng)特征,且具備很好的敏感區(qū)域定位優(yōu)勢,既可以定位具體靈敏單元,又可以進(jìn)行全芯片覆蓋的系統(tǒng)研究;
2、試驗(yàn)測試環(huán)境系統(tǒng)噪聲少,污染少,避免了大量的寄生電磁閃爍現(xiàn)象,使得在線測試獲取劑量率效應(yīng)特征更加方便可行,激光試驗(yàn)幾乎無干擾,非常適用于精確的集成電路劑量率效應(yīng)機(jī)理研究;無總劑量的累積效應(yīng)影響,便于提取瞬態(tài)劑量率單一效應(yīng)的電學(xué)試驗(yàn)特征信息,更利于研究瞬態(tài)劑量率效應(yīng)在集成電路中的產(chǎn)生機(jī)理;
3、激光脈沖重復(fù)頻率方便可調(diào),使設(shè)計者在設(shè)計過程各個階段都能進(jìn)行核環(huán)境的抗輻照能力評估,可極大加快抗核加固集成電路研制過程,降低了設(shè)計風(fēng)險;試驗(yàn)設(shè)計成本低,試驗(yàn)時間短、效率高,可大量減少器件核輻射效應(yīng)試驗(yàn)對加速器試驗(yàn)機(jī)時的占用。
目前存在未采用激光光斑勻化處理會嚴(yán)重影響激光模擬的準(zhǔn)確性以及半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬缺少定量評估方法問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,提供一種半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置及評估系統(tǒng),提高激光模擬的準(zhǔn)確性,同時可以對激光模擬定量進(jìn)行定量評估。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下的技術(shù)方案:
一種半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置,包括:激光產(chǎn)生和控制模塊、光路模塊、檢測模塊、載物模塊和上位機(jī);其中,
激光產(chǎn)生和控制模塊,用于產(chǎn)生脈沖激光,并對脈沖激光往光學(xué)模塊傳播進(jìn)行控制調(diào)節(jié);
光路模塊,用于調(diào)制激光產(chǎn)生和控制模塊輸入的脈沖激光,對激光光斑的尺寸和能量分布進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測量,對激光能量進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測量,將調(diào)制后的脈沖激光輻照到半導(dǎo)體器件上;
檢測模塊,用于對半導(dǎo)體器件進(jìn)行供電和功能測試以及輻照后的電學(xué)參數(shù)測量,同時檢測輻照產(chǎn)生的瞬態(tài)光電流;
載物模塊,用于固定半導(dǎo)體器件,并配合光路模塊進(jìn)行輻照位置調(diào)節(jié);
上位機(jī),用于綜合調(diào)節(jié)上述各模塊中,協(xié)助各模塊完成各自功能。
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