[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置及評(píng)估系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110255495.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113030688B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬英起;陳錢;韓建偉;朱翔;上官士鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院國(guó)家空間科學(xué)中心 |
| 主分類號(hào): | G01R31/265 | 分類號(hào): | G01R31/265 |
| 代理公司: | 北京東方盛凡知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 王穎 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 瞬態(tài) 劑量率 效應(yīng) 激光 模擬 裝置 評(píng)估 系統(tǒng) | ||
1.一種用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置的評(píng)估系統(tǒng),其特征在于,包括:半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置、測(cè)試電路、激光能量傳輸?shù)挠行芰磕P汀⑺矐B(tài)劑量率效應(yīng)激光等效模型;其中,
所述半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置,用于提供激光輻照源,對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行激光模擬試驗(yàn),獲取試驗(yàn)條件的參數(shù)數(shù)據(jù);所述半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置包含:激光產(chǎn)生和控制模塊、光路模塊、檢測(cè)模塊、載物模塊和上位機(jī);激光產(chǎn)生和控制模塊,用于產(chǎn)生脈沖激光,并對(duì)脈沖激光往光學(xué)模塊傳播進(jìn)行控制;光路模塊,用于調(diào)制激光產(chǎn)生和控制模塊輸入的脈沖激光,對(duì)激光光斑進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測(cè)量,對(duì)激光能量進(jìn)行調(diào)節(jié)控制和測(cè)量,將調(diào)制后的脈沖激光輻照到半導(dǎo)體器件上;檢測(cè)模塊,用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行供電和功能測(cè)試以及輻照后的電學(xué)參數(shù)測(cè)量,以及對(duì)輻照產(chǎn)生的瞬態(tài)光電流進(jìn)行監(jiān)測(cè);載物模塊,用于固定半導(dǎo)體器件,并配合光路模塊進(jìn)行輻照位置調(diào)節(jié);上位機(jī),用于綜合調(diào)節(jié)上述各模塊中,協(xié)助各模塊完成各自功能;
所述測(cè)試電路,用于獲取被測(cè)器件自身參數(shù)信息和激光輻照下發(fā)生瞬態(tài)劑量率效應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)包括測(cè)試電路的電學(xué)響應(yīng)參數(shù)和瞬態(tài)光電流參數(shù);
基于激光能量傳輸?shù)挠行芰磕P停槍?duì)測(cè)試電路的自身參數(shù)和試驗(yàn)條件參數(shù),通過(guò)有效能量模型計(jì)算出該測(cè)試電路在試驗(yàn)過(guò)程的有效激光能量;
所述瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光等效模型,基于計(jì)算出的有效激光能量結(jié)合激光等效模型,得到該測(cè)試電路在試驗(yàn)過(guò)程中所對(duì)應(yīng)的伽馬等效劑量率大小,依據(jù)等效劑量率和測(cè)試電路的電學(xué)響應(yīng)參數(shù)和瞬態(tài)光電流參數(shù),定量評(píng)估該測(cè)試電路瞬態(tài)劑量率效應(yīng);
基于激光能量傳輸?shù)挠行芰磕P椭械募す饽芰總鬏斶^(guò)程為:脈沖激光從半導(dǎo)體器件背部入射,初始的激光能量為E0,首先在襯底表面發(fā)生反射和透射,透射的激光能量進(jìn)入襯底后經(jīng)過(guò)襯底的吸收后達(dá)到半導(dǎo)體器件有源區(qū),此時(shí)激光能量為E1,激光繼續(xù)向下傳播經(jīng)過(guò)半導(dǎo)體器件有源區(qū)的吸收后到達(dá)金屬層,在金屬表面發(fā)生反射和透射,反射的激光能量為E2,所述反射激光能量再次經(jīng)過(guò)有源區(qū),最終達(dá)到有源區(qū)的激光能量Eeff為E1與E2之和,稱為有效激光能量;
基于激光能量傳輸?shù)挠行芰磕P蜑椋?/p>
E1=(1-R)×e-α(h-d)×E0,
E2=E1×e-α’d×R’,
Eeff=E1+E2=(1-R)×e-α(h-d)×(1+e-α’d×R’)×E0,
其中,E0為入射到半導(dǎo)體器件襯底表面的激光脈沖能量,E1為直接進(jìn)入半導(dǎo)體器件有源區(qū)附近的激光能量,E2為經(jīng)過(guò)金屬布線反射后進(jìn)入有源區(qū)附近的激光能量,R為半導(dǎo)體器件襯底表面對(duì)激光的反射率;R’為金屬布線層對(duì)激光的反射率,α為半導(dǎo)體器件襯底對(duì)激光的吸收系數(shù),α’為半導(dǎo)體器件有源區(qū)附近敏感部位對(duì)激光的吸收系數(shù),h為半導(dǎo)體器件襯底表面到金屬層表面的距離,d為半導(dǎo)體器件有源區(qū)厚度;
所述瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光等效模型通過(guò)半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)的物理結(jié)果結(jié)合脈沖激光模擬瞬態(tài)劑量率效應(yīng)的結(jié)果,實(shí)現(xiàn)等效模擬;所述半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)的物理結(jié)果為:瞬間高劑量率的伽馬射線與半導(dǎo)體材料相互作用通過(guò)康普頓效應(yīng)產(chǎn)生電子空穴對(duì),對(duì)被半導(dǎo)體器件有源區(qū)收集進(jìn)而形成瞬態(tài)光電流;脈沖激光模擬瞬態(tài)劑量率效應(yīng)的結(jié)果為:脈沖激光與半導(dǎo)體材料相互作用通過(guò)光電效應(yīng)產(chǎn)生電子空穴對(duì),被半導(dǎo)體器件有源區(qū)收集形成瞬態(tài)光電流;
所述瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光等效模型為:
其中,SL為光斑面積,D為伽瑪輻射劑量率,EL為激光在硅材料中以光電效應(yīng)產(chǎn)生電子-空穴對(duì)需要的能量,g0為載流子產(chǎn)生率,t為脈寬。
2.如權(quán)利要求1所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)劑量率效應(yīng)激光模擬裝置的評(píng)估系統(tǒng),其特征在于,所述激光產(chǎn)生和控制模塊包括脈沖激光器和快門;脈沖激光器產(chǎn)生脈沖激光,經(jīng)過(guò)快門后進(jìn)入光路模塊,快門作為開關(guān)控制脈沖激光在后續(xù)光路的傳播與否。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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