[發明專利]一種激光雷達測試系統及方法

有效

• 申請號: 202110245363.1
• 申請日: 2021-03-05
• 公開（公告）號: CN113050072B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 吳勁松;萬亮;萬國強
• 申請（專利權）人: 北京經緯恒潤科技股份有限公司
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497;G01S7/481;G01S17/931
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 姚璐華

1.一種激光雷達測試系統，其特征在于，包括：測試平臺(11)、電控直線導軌(12)、電控旋轉支架(13)、電控靶標架(14)、靶標(15)、電控噴霧器(16)、電控光源(17)和中央控制器(18)；

所述測試平臺(11)包括電控旋轉平臺(111)、電控傾斜臺(112)和電控升降平臺，所述測試平臺(11)的上表面，用于固定待測激光雷達(21)；

所述電控旋轉支架(13)安裝在所述電控直線導軌(12)上；

所述電控直線導軌(12)包括電機，用于受所述中央控制器控制驅動所述電控旋轉支架(13)沿著所述電控直線導軌(12)滑動；

所述電控靶標架(14)與所述電控旋轉支架(13)固定連接；

所述電控靶標架(14)，用于安裝所述靶標(15)；

所述中央控制器(18)，用于控制所述電控升降平臺沿z軸方向升降；

所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控傾斜臺(112)繞y軸旋轉；

所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控旋轉平臺(111)繞z軸旋轉；

所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控旋轉支架(13)繞自身軸旋轉；

所述中央控制器(18)，還用于調整所述電控靶標架(14)的寬度或高度；

所述中央控制器(18)，還用于分別控制所述電控噴霧器(16)和所述電控光源(17)的工作狀態；

所述靶標(15)，具體為：

由多個不同反射率部分(153)按照反射率大小依次拼接在一起，且沿反射率變化的方向卷成一個兩端各有一個卷軸(151)的靶標；

所述靶標(15)，還包括：

由不同反射率的小方格(154)拼接在一起的部分，且每兩個相鄰小方格(154)的反射率之差均相同。

2.一種激光雷達測試方法，其特征在于，基于激光雷達測試系統，所述方法，包括：

通過控制電控傾斜臺和電控旋轉平臺，將待測激光雷達的俯仰角和方位角均調節為零；

通過控制電控直線導軌，將待測激光雷達與靶標的距離調節為預設距離值；

通過控制電控靶標架，將靶標尺寸調節為預設寬度；

通過控制電控升降平臺，將待測激光雷達中心與靶標中心調節為同一高度；

開啟待測激光雷達，并調節待測激光雷達的俯仰角和方位角；

根據調節待測激光雷達的俯仰角和方位角過程中，待測激光雷達采集到的靶標點云，計算得到待測激光雷達的視場邊界；

所述激光雷達測試系統包括：測試平臺(11)、電控直線導軌(12)、電控旋轉支架(13)、電控靶標架(14)、靶標(15)、電控噴霧器(16)、電控光源(17)和中央控制器(18)；所述測試平臺(11)包括電控旋轉平臺(111)、電控傾斜臺(112)和電控升降平臺，所述測試平臺(11)的上表面，用于固定待測激光雷達(21)；所述電控旋轉支架(13)安裝在所述電控直線導軌(12)上；所述電控直線導軌(12)包括電機，用于受所述中央控制器控制驅動所述電控旋轉支架(13)沿著所述電控直線導軌(12)滑動；所述電控靶標架(14)與所述電控旋轉支架(13)固定連接；所述電控靶標架(14)，用于安裝所述靶標(15)；所述中央控制器(18)，用于控制所述電控升降平臺沿z軸方向升降；所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控傾斜臺(112)繞y軸旋轉；所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控旋轉平臺(111)繞z軸旋轉；所述中央控制器(18)，還用于控制所述電控旋轉支架(13)繞自身軸旋轉；所述中央控制器(18)，還用于調整所述電控靶標架(14)的寬度或高度；所述中央控制器(18)，還用于分別控制所述電控噴霧器(16)和所述電控光源(17)的工作狀態。