[發明專利]一種溫控器導向架缺陷檢測方法及系統

有效

• 申請號: 202110245000.8
• 申請日: 2021-03-05
• 公開（公告）號: CN112991284B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發明（設計）人: 熊紅蓮;曾亞光;王茗祎;李曉;陳允照;伍海龍;鄧永平;翁祥濤
• 申請（專利權）人: 佛山科學技術學院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/40;G06T7/136;G06T7/194
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 葉潔勇

本發明公開了一種溫控器導向架缺陷檢測方法及系統，包括：獲取溫控器導向架的原圖；去噪預處理得到第一圖像；根據第一圖像將第i圓環區域進行分離，得到第i圓環區域圖；繪制第i圓環區域圖的灰度直方圖，得到第i灰度直方圖；確定第i灰度直方圖確定波峰和波谷；在第i灰度直方圖中尋找小于預設的第i閾值的灰度值，并從中找出像素值數量相差最大的兩個灰度值，取像素值數量較小的灰度值的值作為分割閾值，統計所有圓環區域內的不滿料面積得到總面積，根據總面積判斷溫控器導向架是否存在缺陷。系統用于執行上述的方法，本發明有效克服了手動篩選耗時的缺點，提高整個家電溫控器導向架生產的效率。本發明主要用于溫控器導向架識別。

技術領域

本發明涉及圖像識別技術領域，具體是一種溫控器導向架缺陷檢測方法及系統。

背景技術

溫控器導向架缺陷檢測是家電溫控器生產制造重要環節之一，溫控器導向架缺陷檢測直接影響整個家電溫控器的質量問題，使用有缺陷的溫控器導向架會導致家電溫控器存在漏電、過度發熱等問題。如何快速對溫控器導向架缺陷檢測成為一大難題。目前國內家電溫控器生產行業普遍使用傳統人工篩選的方式對家電溫控器導向架進行篩選，但這項工作勞動強度大，且人工篩選速度較慢。人工篩選方式不但耗費大量的人力還嚴重影響一個工廠的生產效率，而且需要支付較大的人工成本，加大了中小企業的成本開支，不利與中小企業的發展。現市場上有的家電溫控器導向架篩選機的導向架缺陷檢測算法主要以下兩種：設定閾值進行閾值分割、采用otsu算法進行分割。這些方法存在分割精度不足，算法彈性不足等問題，仍需要人工進行重篩選，面對不同型號工件需要人工多次調節參數才能繼續使用。

發明內容

本發明提供一種溫控器導向架缺陷檢測方法及系統，以解決現有技術中所存在的一個或多個技術問題，至少提供一種有益的選擇或創造條件。

一方面，本發明提供了一種溫控器導向架缺陷檢測方法，包括：

步驟1、獲取溫控器導向架的俯視圖圖像，所述俯視圖圖像記為原圖；

步驟2、將所述原圖進行去噪預處理得到第一圖像；

步驟3、將溫控器導向架以圓心為中心劃分出若干個圓環區域，分別記為第i圓環區域；步驟4、根據第一圖像將第i圓環區域進行分離，得到第i圓

環區域圖；

步驟5、繪制第i圓環區域圖的灰度直方圖，得到第i灰度直方圖；

步驟6、確定第i灰度直方圖確定波峰和波谷；

步驟7、在第i灰度直方圖中尋找小于預設的第i閾值的灰度值，從所述灰度值中確定符合步驟6所確定的波峰和波谷的灰度值，并從中找出像素值數量相差最大的兩個灰度值，取像素值數量較小的灰度值的值作為分割閾值，其中，第i閾值指的是灰度值所對應的像素值數量；

步驟8、統計在第i圓環區域圖中小于分割閾值的像素點集合的面積，所述像素點集合的面積即為圓環區域內的不滿料面積；

步驟9、統計所有圓環區域內的不滿料面積得到總面積，根據所述總面積判斷溫控器導向架是否存在缺陷；

其中，i＝1，2…n,n≥2；n為正整數。

進一步，在步驟3中，將溫控器導向架以圓心為中心劃分出若干個圓環區域，分別記為第i圓環區域具體為：將溫控器導向架以圓心為中心劃分出2個圓環區域，其中將溫控器導向架自外往內的臺階邊界依次設為第一邊界和第二邊界，其中，第一邊界往溫控器導向架外部的溫控器導向架的部分稱為第1圓環區域，第一邊界與第二邊界之間的溫控器導向架的部分稱為第2圓環區域；

在步驟4中，根據第一圖像將第i圓環區域進行分離，得到第i圓環區域圖具體為：根據第一圖像將第1圓環區域進行分離；根據第一圖像將第2圓環區域進行分離；