[發(fā)明專利]一種溫控器導向架缺陷檢測方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110245000.8
• 申請日: 2021-03-05
• 公開（公告）號: CN112991284B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 熊紅蓮;曾亞光;王茗祎;李曉;陳允照;伍海龍;鄧永平;翁祥濤
• 申請（專利權(quán)）人: 佛山科學技術(shù)學院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/40;G06T7/136;G06T7/194
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 葉潔勇

1.一種溫控器導向架缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

步驟1、獲取溫控器導向架的俯視圖圖像，所述俯視圖圖像記為原圖；

步驟2、將所述原圖進行去噪預(yù)處理得到第一圖像；

步驟3、將溫控器導向架以圓心為中心劃分出若干個圓環(huán)區(qū)域，分別記為第i圓環(huán)區(qū)域；步驟4、根據(jù)第一圖像將第i圓環(huán)區(qū)域進行分離，得到第i圓環(huán)區(qū)域圖；

步驟5、繪制第i圓環(huán)區(qū)域圖的灰度直方圖，得到第i灰度直方圖；

步驟6、確定第i灰度直方圖的波峰和波谷；

步驟7、在第i灰度直方圖中尋找小于預(yù)設(shè)的第i閾值的灰度值，從所述灰度值中確定符合步驟6所確定的波峰和波谷的灰度值，并從中找出像素值數(shù)量相差最大的兩個灰度值，取像素值數(shù)量較小的灰度值的值作為分割閾值，其中，第i閾值指的是灰度值所對應(yīng)的像素值數(shù)量；

步驟8、統(tǒng)計在第i圓環(huán)區(qū)域圖中小于分割閾值的像素點集合的面積，所述像素點集合的面積即為圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積；

步驟9、統(tǒng)計所有圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積得到總面積，根據(jù)所述總面積判斷溫控器導向架是否存在缺陷；

其中，i=1，2…n,n≥2； n為正整數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種溫控器導向架缺陷檢測方法，其特征在于，在步驟3中，將溫控器導向架以圓心為中心劃分出若干個圓環(huán)區(qū)域，分別記為第i圓環(huán)區(qū)域具體為：將溫控器導向架以圓心為中心劃分出2個圓環(huán)區(qū)域，其中將溫控器導向架自外往內(nèi)的臺階邊界依次設(shè)為第一邊界和第二邊界，其中，第一邊界往溫控器導向架外部的溫控器導向架的部分稱為第1圓環(huán)區(qū)域，第一邊界與第二邊界之間的溫控器導向架的部分稱為第2圓環(huán)區(qū)域；

在步驟4中，根據(jù)第一圖像將第i圓環(huán)區(qū)域進行分離，得到第i圓環(huán)區(qū)域圖具體為：根據(jù)第一圖像將第1圓環(huán)區(qū)域進行分離；根據(jù)第一圖像將第2圓環(huán)區(qū)域進行分離；

在步驟5中，繪制第i圓環(huán)區(qū)域圖的灰度直方圖，得到第i灰度直方圖具體為：繪制第1圓環(huán)區(qū)域圖的灰度直方圖，得到第1灰度直方圖；繪制第2圓環(huán)區(qū)域圖的灰度直方圖，得到第2灰度直方圖；

在步驟6中，確定第i灰度直方圖的波峰和波谷具體為：確定第1灰度直方圖的波峰和波谷，確定第2灰度直方圖的波峰和波谷；

步驟7中，在第i灰度直方圖中尋找小于預(yù)設(shè)的第i閾值的灰度值，從所述灰度值中確定符合步驟6所確定的波峰和波谷的灰度值，并從中找出像素值數(shù)量相差最大的兩個灰度值，取像素值數(shù)量較小的灰度值的值作為分割閾值，其中，第i閾值指的是灰度值所對應(yīng)的像素值數(shù)量具體包括：

在第1灰度直方圖中尋找小于預(yù)設(shè)的第1閾值的灰度值，從所述灰度值中確定符合步驟6所確定的第1灰度直方圖的波峰和波谷的灰度值，并從中找出像素值數(shù)量相差最大的兩個灰度值，取像素值數(shù)量較小的灰度值的值作為分割閾值，其中，第1閾值指的是灰度值所對應(yīng)的像素值數(shù)量；

在第2灰度直方圖中尋找小于預(yù)設(shè)的第2閾值的灰度值，從所述灰度值中確定符合步驟6所確定的第2灰度直方圖的波峰和波谷的灰度值，并從中找出像素值數(shù)量相差最大的兩個灰度值，取像素值數(shù)量較小的灰度值的值作為分割閾值，其中，第2閾值指的是灰度值所對應(yīng)的像素值數(shù)量；

在步驟8中，統(tǒng)計在第i圓環(huán)區(qū)域圖中小于分割閾值的像素點集合的面積，所述像素點集合的面積即為圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積具體包括：

統(tǒng)計在第1圓環(huán)區(qū)域圖中小于分割閾值的像素點集合的面積，所述像素點集合的面積即為第1圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積；

統(tǒng)計在第2圓環(huán)區(qū)域圖中小于分割閾值的像素點集合的面積，所述像素點集合的面積即為第2圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積；

在步驟9中，統(tǒng)計所有圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積得到總面積，根據(jù)所述總面積判斷溫控器導向架是否存在缺陷具體包括：

將第1圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積和第2圓環(huán)區(qū)域內(nèi)的不滿料面積相加得到總面積，根據(jù)所述總面積判斷溫控器導向架是否存在缺陷。