[發(fā)明專利]一種用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110241907.7
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN112595498B
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 饒炯輝;雷暢
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢人和睿視科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/94;G01N21/95;G01N21/952
• 代理公司: 武漢智匯為專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42235
• 代理人: 李恭渝

1.一種用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)，其特征在于包括拾取工位、檢查工位、搬運(yùn)工位和控制組件，所述控制組件與拾取工位、檢查工位和搬運(yùn)工位電連接，所述控制組件用于控制各工位相互協(xié)調(diào)地進(jìn)行動作，以及控制所述檢查工位采集激光巴條的表面圖像、并判斷和記錄檢測數(shù)據(jù)，所述搬運(yùn)工位用于激光巴條在拾取工位和檢查工位之間的往復(fù)搬運(yùn)，

所述拾取工位包括移動平臺，所述移動平臺上設(shè)有用于放置激光巴條的托盤，

所述檢查工位包括第一檢測臺、第一顯微鏡和第二顯微鏡，所述第一顯微鏡和第二顯微鏡相互垂直設(shè)置，所述第一檢測臺用于承載激光巴條位于第一顯微鏡和第二顯微鏡的視場交點(diǎn)，所述第一檢測臺包括第一巴條吸附組件和第一巴條移動組件，所述第一巴條吸附組件用于激光巴條的吸附固定，所述第一巴條移動組件用于第一巴條吸附組件的平移和旋轉(zhuǎn)，所述控制組件通過第一顯微鏡采集激光巴條固定于第一巴條吸附組件初始狀態(tài)的第一圖像，所述控制組件根據(jù)第一圖像驅(qū)動第一巴條移動組件對激光巴條找正、并移動至第二顯微鏡的焦距內(nèi)，所述第二顯微鏡用于激光巴條的側(cè)面檢測；

檢測系統(tǒng)還包括單管出光測試工位，所述單管出光測試工位包括第二檢測臺、供電模組、光路調(diào)節(jié)鏡組、第三鏡頭和第四相機(jī)，所述第二檢測臺包括第二巴條吸附組件和第二巴條移動組件，所述第三鏡頭位于第二檢測臺上方，所述控制組件通過第三鏡頭采集激光巴條固定于第二巴條吸附組件初始狀態(tài)的第二圖像，所述控制組件根據(jù)第二圖像驅(qū)動第二巴條移動組件對激光巴條找正、并移動至供電模組，所述第二巴條吸附組件上設(shè)有用于與激光巴條負(fù)極電連接的負(fù)極觸點(diǎn)，所述供電模組的正極探針與激光巴條的正極電連接，所述激光巴條的單管出光經(jīng)光路調(diào)節(jié)鏡組至第四相機(jī)，所述控制組件通過第四相機(jī)采集激光巴條出光的光斑大小；

所述單管出光測試工位還包括光譜測試組件，所述光譜測試組件包括半透半反射鏡和光譜測試儀，所述半透半反射鏡位于供電模組和光路調(diào)節(jié)鏡組之間，所述光譜測試儀用于檢測經(jīng)半透半反射鏡反射的單管光譜信息；

所述單管出光測試工位對單管的發(fā)散角和光譜信息進(jìn)行測試時(shí)，先通過第三鏡頭拍攝的第二圖像對激光巴條進(jìn)行找正，激光巴條外形側(cè)面與第四相機(jī)的視場方向垂直和平行；再通過X0軸和Y0軸移動至正極探針下方，探針驅(qū)動器驅(qū)動探針向下移動，使探針與單管的上表面觸點(diǎn)接觸；控制組件發(fā)出命令對單管供電，單管出光，由半透半反射鏡反射和透視至光譜測試儀和第四相機(jī)進(jìn)行檢測；

所述搬運(yùn)工位包括升降機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)臂和吸附機(jī)構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)臂的一端與升降機(jī)構(gòu)的上方連接，所述旋轉(zhuǎn)臂的另一端與吸附機(jī)構(gòu)連接；

所述吸附機(jī)構(gòu)包括翻轉(zhuǎn)驅(qū)動器、翻轉(zhuǎn)板和多組吸咀，所述翻轉(zhuǎn)驅(qū)動器安裝于旋轉(zhuǎn)臂上，所述翻轉(zhuǎn)板與翻轉(zhuǎn)驅(qū)動器活動連接，所述翻轉(zhuǎn)驅(qū)動器用于驅(qū)動翻轉(zhuǎn)板旋轉(zhuǎn)至不同的方位，所述多組吸咀的每一組分別安裝于翻轉(zhuǎn)板的不同方位。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述第二顯微鏡為微分干涉顯微鏡。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述第二巴條移動組件包括A0軸、X0軸和Y0軸；所述供電模組包括支撐座，所述支撐座的頂部設(shè)有探針驅(qū)動器，所述探針驅(qū)動器與正極探針固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述拾取工位還包括取片定位相機(jī)，所述取片定位相機(jī)與控制組件電連接，所述取片定位相機(jī)位于托盤的上方，所述取片定位相機(jī)用于托盤內(nèi)激光巴條的拍照定位、反饋至所述控制組件，所述控制組件控制移動平臺對托盤內(nèi)激光巴條移動找正后，所述激光巴條再經(jīng)所述搬運(yùn)工位搬運(yùn)至檢查工位，所述移動平臺包括托盤吸附板和移動軸，所述托盤吸附板安裝于移動軸上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于激光巴條及其單管出光的光學(xué)性質(zhì)檢測系統(tǒng)，其特征在于：檢測系統(tǒng)還包括進(jìn)料工位，所述進(jìn)料工位與控制組件電連接，所述進(jìn)料工位包括進(jìn)料倉、出料倉和抓取機(jī)構(gòu)，所述進(jìn)料倉和出料倉分別用于存儲待檢激光巴條的托盤和已檢激光巴條的托盤，所述抓取機(jī)構(gòu)用于將進(jìn)料倉內(nèi)存儲激光巴條的托盤抓取放置于拾取工位，所述抓取機(jī)構(gòu)還將存儲已檢激光巴條的托盤由拾取工位抓取放置于出料倉。