[發明專利]一種自對準像素定義層結構及其加工方法在審
| 申請號: | 202110239350.3 | 申請日: | 2021-03-04 |
| 公開(公告)號: | CN112750889A | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發明(設計)人: | 呂迅 | 申請(專利權)人: | 安徽熙泰智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/32 | 分類號: | H01L27/32 |
| 代理公司: | 蕪湖安匯知識產權代理有限公司 34107 | 代理人: | 曹政 |
| 地址: | 241000 安徽省蕪湖市蕪湖長江*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 對準 像素 定義 結構 及其 加工 方法 | ||
本發明公開了一種自對準像素定義層結構及其加工方法,具有:襯底;陽極,襯底上設有一系列的陽極,相鄰陽極之間有間隙;像素定義層,填充相鄰陽極之間的間隙;像素定義層的側壁與陽極的側壁平齊;像素定義層通過干刻成型,不占用陽極區域,不影響開口面積,有利于提高發光亮度;節省一道光刻工藝,工藝更簡單,成本更低。
技術領域
本發明屬于微顯示屏技術領域,尤其涉及一種自對準像素定義層結構及其加工方法。
背景技術
在顯示中,像素定義層(PDL)被用來定義像素區域,隔離像素,防止光學串擾和電學串擾。
在實現本發明的過程中,發明人發現現有技術至少存在以下問題:一般使用光刻加刻蝕的工藝,為了避免光刻對位偏差導致的偏位,PDL和陽極有一定的重疊(overlap),重疊區域大小大于對位精度至少0.2-0.3um左右。對于微顯示,因為陽極像素面積很小,overlap占用一部分發光區域,會導致開口面積損失約30%,導致發光效率降低,亮度降低。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種不占用陽極區域,不影響開口面積,有利于提高發光亮度;節省一道光刻工藝,工藝更簡單,成本更低的自對準像素定義層結構及其加工方法。
為了解決上述技術問題,本發明所采用的技術方案是:一種自對準像素定義層結構,具有:
襯底;
陽極,所述襯底上設有一系列的陽極,相鄰陽極之間有間隙;
像素定義層,填充相鄰陽極之間的間隙;所述像素定義層的側壁與陽極的側壁平齊;所述像素定義層通過干刻成型。
所述像素定義層材質包括氮化硅、氧化硅或氮氧化硅。
一種上述的自對準像素定義層結構的加工方法,包括如下步驟:
1)在襯底上制備陽極;
2)在襯底和陽極上沉積像素定義層;
3)干刻像素定義層,干刻過程中,陽極側壁的像素定義層會保留下來;
4)干刻減薄陽極,形成沉積像素定義層凹槽,最終形成像素定義層定義的陽極結構。
上述技術方案中的一個技術方案具有如下優點或有益效果,不占用陽極區域,不影響開口面積,有利于提高發光亮度;節省一道光刻工藝,工藝更簡單,成本更低。
附圖說明
圖1為本發明實施例中提供的自對準像素定義層結構的結構示意圖;
圖2為圖1的自對準像素定義層結構的加工工藝流程圖;
上述圖中的標記均為:1、襯底,2、陽極,3、像素定義層。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步地詳細描述。
參見圖1-2,一種自對準像素定義層結構,具有:
襯底;
陽極,襯底上設有一系列的陽極,相鄰陽極之間有間隙;
像素定義層,填充相鄰陽極之間的間隙;像素定義層的側壁與陽極的側壁平齊;像素定義層通過干刻成型。
像素定義層材質包括氮化硅、氧化硅或氮氧化硅。
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- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





