[發(fā)明專利]觸控基板及其檢測(cè)方法、觸控屏及其制作方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110239100.X
• 申請(qǐng)日: 2021-03-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113064506B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 代愛(ài)民
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/041
• 分類號(hào): G06F3/041;G06F3/044;G01R19/165;G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 遠(yuǎn)明

本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N觸控基板及其檢測(cè)方法、觸控屏及其制作方法，該觸控基板包括觸控區(qū)、測(cè)試區(qū)以及切割區(qū)；其中，該觸控基板包括位于該觸控區(qū)內(nèi)的多個(gè)觸控電極；位于該測(cè)試區(qū)內(nèi)的多個(gè)測(cè)試端子，一該測(cè)試端子與相鄰兩個(gè)該觸控電極連接；位于該切割區(qū)內(nèi)的多個(gè)電連接構(gòu)件，一該電連接構(gòu)件與一該觸控電極對(duì)應(yīng)，該觸控電極通過(guò)該電連接構(gòu)件與該測(cè)試端子電連接，多個(gè)該觸控電極通過(guò)對(duì)應(yīng)的該電連接構(gòu)件及該測(cè)試端子形成串聯(lián)電路；在檢測(cè)時(shí)，外接電源使該串聯(lián)電路形成串聯(lián)回路，通過(guò)檢測(cè)構(gòu)件獲取該串聯(lián)回路中任意兩個(gè)測(cè)試端子之間的測(cè)量電壓，以判定該觸控電極的異常，緩解了現(xiàn)有大尺寸觸控屏因端子面積過(guò)小而無(wú)法準(zhǔn)確進(jìn)行觸控測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及顯示領(lǐng)域，特別涉及一種觸控基板及其檢測(cè)方法、觸控屏及其制作方法。

背景技術(shù)

隨著顯示技術(shù)的發(fā)展，大尺寸顯示面板上對(duì)于觸控的需求越來(lái)越大，另外觸摸屏所具有得高靈敏度、低延遲及窄邊框等優(yōu)點(diǎn)也逐漸成為大尺寸觸控屏的趨勢(shì)。

對(duì)于大尺寸觸控屏，在進(jìn)行柔性電路板的綁定之前，需要對(duì)所有的通道進(jìn)行開(kāi)路與短路測(cè)試，以保證觸控的正常運(yùn)行。傳統(tǒng)的通道測(cè)試是對(duì)觸控電極兩端的綁定端子進(jìn)行扎針測(cè)試，而現(xiàn)有的大尺寸觸控屏由于通道數(shù)較多，導(dǎo)致端子面積較小，扎針測(cè)試設(shè)備的精度很難保證每個(gè)端子被準(zhǔn)確連通，可靠性低，無(wú)法進(jìn)行準(zhǔn)確的觸控測(cè)試。

目前，亟需一種觸控基板及其檢測(cè)方法以解決上述技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N觸控基板及其檢測(cè)方法、觸控屏及其制作方法，以緩解現(xiàn)有大尺寸觸控屏因端子面積過(guò)小而無(wú)法準(zhǔn)確進(jìn)行觸控測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。

為解決上述問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)峁┑募夹g(shù)方案如下：

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N觸控基板，其特征在于，所述觸控基板包括觸控區(qū)、位于所述觸控區(qū)兩側(cè)的測(cè)試區(qū)以及位于所述測(cè)試區(qū)與所述觸控區(qū)之間的切割區(qū)；

其中，所述觸控基板包括：

位于所述觸控區(qū)內(nèi)的多個(gè)沿第一方向延伸以及沿第二方向間隔設(shè)置的觸控電極，所述第一方向與所述第二方向垂直設(shè)置；

位于所述切割區(qū)內(nèi)的多個(gè)電連接構(gòu)件，所述電連接構(gòu)件與所述觸控電極電連接；

位于所述測(cè)試區(qū)內(nèi)的多個(gè)測(cè)試端子；一所述測(cè)試端子通過(guò)所述電連接構(gòu)件與相鄰兩個(gè)所述觸控電極連接。

在本申請(qǐng)的觸控基板中，所述電連接構(gòu)件包括連續(xù)的第一連接段和第二連接段，所述第一連接段與所述觸控電極連接，所述第二連接段與所述測(cè)試端子連接；

其中，在與同一所述測(cè)試端子電連接的兩個(gè)所述電連接構(gòu)件中，相鄰兩個(gè)所述第二連接段的間距大于相鄰兩個(gè)所述觸控電極的間距。

在本申請(qǐng)的觸控基板中，在所述第一連接段朝向所述第二連接段的方向上，所述第一連接段的寬度逐漸減小，所述第一連接段的最大寬度與所述觸控電極的寬度相等，所述第一連接段的最小寬度與所述第二連接段的寬度相等。

在本申請(qǐng)的觸控基板中，所述電連接構(gòu)件包括非連續(xù)的第一連接段和第二連接段以及位于所述第二連接段上的電性開(kāi)關(guān)，所述第一連接段與所述觸控電極連接，所述第二連接段與所述測(cè)試端子連接，所述電性開(kāi)關(guān)用于控制所述第一連接段與所述第二連接段的電性連接和絕緣連接。

在本申請(qǐng)的觸控基板中，所述觸控基板還包括位于所述觸控區(qū)第一側(cè)第一測(cè)試子區(qū)和位于所述觸控區(qū)第二側(cè)的第二測(cè)試子區(qū)；

所述測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)置有n個(gè)所述測(cè)試端子，第2k-1個(gè)所述測(cè)試端子位于所述第一測(cè)試子區(qū)內(nèi)，第2k個(gè)所述測(cè)試端子位于所述第二測(cè)試子區(qū)內(nèi)；

所述觸控區(qū)內(nèi)設(shè)置有沿所述第二方向間隔設(shè)置的n+1個(gè)所述觸控電極，第2k-1和第2k個(gè)所述觸控電極通過(guò)第2k-1個(gè)所述測(cè)試端子電連接，第2k和第2k+1個(gè)所述觸控電極通過(guò)第2k個(gè)所述測(cè)試端子電連接；