[發明專利]觸控基板及其檢測方法、觸控屏及其制作方法

有效

• 申請號: 202110239100.X
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN113064506B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 代愛民
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;G01R19/165;G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 遠明

1.一種觸控基板，其特征在于，所述觸控基板包括觸控區、位于所述觸控區兩側的測試區以及位于所述測試區與所述觸控區之間的切割區；

所述觸控基板包括位于所述觸控區內的多個觸控電極、與所述觸控電極電連接且位于所述切割區內的多個電連接構件、位于所述測試區內的多個電連接構件，多個觸控電極沿第一方向延伸以及沿第二方向間隔設置的觸控電極，所述第一方向與所述第二方向垂直設置，一測試端子通過所述電連接構件與相鄰兩個所述觸控電極連接；

所述觸控基板還包括位于所述觸控區第一側的第一測試子區和位于所述觸控區第二側的第二測試子區；

所述測試區內設置有n個所述測試端子，第2k-1個所述測試端子位于所述第一測試子區內，第2k個所述測試端子位于所述第二測試子區內；

所述觸控區內設置有沿所述第二方向間隔設置的n+1個所述觸控電極，第2k-1和第2k個所述觸控電極通過第2k-1個所述測試端子電連接，第2k和第2k+1個所述觸控電極通過第2k個所述測試端子電連接；n和k為正整數，n大于或等于2k；

所述測試區內還設置有與第1個所述觸控電極電連接的第一連接測試端子和與第n+1個所述觸控電極電連接的第二連接測試端子，所述第一連接測試端子及所述第二連接測試端子通過外接器件形成串聯回路。

2.根據權利要求1所述的觸控基板，其特征在于，所述電連接構件包括連續的第一連接段和第二連接段，所述第一連接段與所述觸控電極連接，所述第二連接段與所述測試端子連接；

其中，在與同一所述測試端子電連接的兩個所述電連接構件中，相鄰兩個所述第二連接段的間距大于相鄰兩個所述觸控電極的間距。

3.根據權利要求2所述的觸控基板，其特征在于，在所述第一連接段朝向所述第二連接段的方向上，所述第一連接段的寬度逐漸減小，所述第一連接段的最大寬度與所述觸控電極的寬度相等，所述第一連接段的最小寬度與所述第二連接段的寬度相等。

4.根據權利要求1所述的觸控基板，其特征在于，所述電連接構件包括非連續的第一連接段和第二連接段以及位于所述第二連接段上的電性開關，所述第一連接段與所述觸控電極連接，所述第二連接段與所述測試端子連接，所述電性開關用于控制所述第一連接段與所述第二連接段的電性連接和絕緣連接。

5.一種觸控基板的檢測方法，其特征在于，包括：

提供如權利要求1～4任一項所述的觸控基板；所述觸控基板包括觸控區、位于所述觸控區兩側的測試區以及位于所述測試區與所述觸控區之間的切割區；其中，所述觸控基板包括：位于所述觸控區內的多個沿第一方向延伸以及沿第二方向間隔設置的觸控電極，所述第一方向與所述第二方向垂直設置；位于所述切割區內的多個電連接構件，所述電連接構件與所述觸控電極電連接；位于所述測試區內的多個測試端子；一所述測試端子通過所述電連接構件與相鄰兩個所述觸控電極連接；

通過外接電源使所述觸控基板上的多個所述觸控電極、多個所述電連接構件及多個所述測試端子形成串聯回路；

通過檢測構件獲取第a個所述測試端子和第b個所述測試端子之間的測量電壓；

當所述測量電壓為0V時，則第a個所述測試端子和第b個所述測試端子之間的所述觸控電極開路；

當所述測量電壓大于第一閾值電壓或者小于第二閾值電壓時，則第a個所述測試端子和第b個所述測試端子之間的所述觸控電極短路；

其中，a和b為正整數，a小于或等于b，b小于或等于n+1。

6.一種觸控屏的制作方法，所述觸控屏包括顯示面板及位于所述顯示面板上的觸控構件，其特征在于，所述觸控屏的制作方法包括：

提供如權利要求1～4任一項所述的觸控基板；

利用預定工藝沿所述觸控基板中所述切割區內的切割線對所述觸控基板切割，以形成所述觸控構件；

將所述觸控構件與所述顯示面板對位貼合。