[發(fā)明專(zhuān)利]減小高速電路信號(hào)串?dāng)_的方法、系統(tǒng)、設(shè)備及印制電路板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110236823.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113033129A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高崇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 加弘科技咨詢(上海)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F30/32 | 分類(lèi)號(hào): | G06F30/32;G06F30/337;G06F30/23;G06F115/12 |
| 代理公司: | 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 龐紅芳 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 減小 高速 電路 信號(hào) 方法 系統(tǒng) 設(shè)備 印制 電路板 | ||
本發(fā)明提供一種減小高速電路信號(hào)串?dāng)_的方法、系統(tǒng)、設(shè)備及印制電路板,所述方法包括:S1,獲取差分線形成的多條串?dāng)_性能分析初始曲線;S2,基于端口電壓、端口輸入電壓、端口阻抗、差分線阻抗的函數(shù)關(guān)系調(diào)節(jié)差分線的至少一個(gè)參數(shù);S3,獲取基于調(diào)節(jié)參數(shù)后的差分線形成的多條串?dāng)_性能分析仿真曲線;S4,對(duì)比所述多條串?dāng)_性能分析仿真曲線與所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線;S5,在所述多條串?dāng)_性能分析仿真曲線的性能參數(shù)優(yōu)于所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線的性能參數(shù)時(shí),獲取所述差分線的當(dāng)前參數(shù),并將所述差分線的當(dāng)前參數(shù)確定印制電路板上兩個(gè)端口的差分線的參數(shù)。本發(fā)明可以達(dá)到減小傳輸線之間高速電路信號(hào)的串?dāng)_的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及印制電路板技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及印制電路板布線技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
隨著高速互聯(lián)信號(hào)的速率和頻率逐漸提升,高速互聯(lián)傳輸線的微波特性逐漸顯現(xiàn),因而 印制電路板(PCB)傳輸線的趨膚效應(yīng)越來(lái)越明顯,電磁信號(hào)的波動(dòng)性進(jìn)而越來(lái)越強(qiáng),隨之 而來(lái)的串?dāng)_問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)重。目前主流的用以解決傳輸線串?dāng)_的主要方式是改變傳輸線 之間距離,或者換不同的層,鋪地等,但是有些情況限于芯片擺放位置,連接器pin腳位置 等的影響,難以改變兩個(gè)差分線的距離,換層或者鋪地。這種情況下就難以解決傳輸線串?dāng)_ 的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明的目的在于提供一種減小高速電路信號(hào)串?dāng)_的方 法、系統(tǒng)、設(shè)備及印制電路板,用于提供一種新的方式解決傳輸線之間的串?dāng)_問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本發(fā)明一種減小高速電路信號(hào)串?dāng)_的方法,包括以下 步驟:S1,獲取基于一印制電路板上兩個(gè)端口的差分線形成的多條串?dāng)_性能分析初始曲線; S2,基于端口電壓、端口輸入電壓、端口阻抗、差分線阻抗的函數(shù)關(guān)系調(diào)節(jié)所述差分線的至 少一個(gè)參數(shù);S3,獲取基于調(diào)節(jié)參數(shù)后的差分線形成的多條串?dāng)_性能分析仿真曲線;S4, 對(duì)比所述多條串?dāng)_性能分析仿真曲線與所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線,確認(rèn)所述多條串?dāng)_ 性能分析仿真曲線的性能參數(shù)是否分別優(yōu)于所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線的性能參數(shù); S5,在所述多條串?dāng)_性能分析仿真曲線的性能參數(shù)優(yōu)于所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線的性 能參數(shù)時(shí),獲取所述差分線的當(dāng)前參數(shù),并將所述差分線的當(dāng)前參數(shù)確定所述印制電路板上 兩個(gè)端口的差分線的參數(shù)。
于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述減小高速電路信號(hào)串?dāng)_的方法還包括:重復(fù)S2~S4,直至 所述多條串?dāng)_性能分析仿真曲線的性能參數(shù)分別優(yōu)于所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線的性能 參數(shù)。
于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述多條串?dāng)_性能分析初始曲線和所述多條串?dāng)_性能分析仿真 曲線分別包括:時(shí)域反射曲線,插入損耗曲線,回波損耗曲線以及串?dāng)_曲線中的多種組合。
于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述端口電壓、端口輸入電壓、端口阻抗、差分線阻抗的函數(shù) 關(guān)系為:U=Uinput(1+(Z2-Z1)/(Z2+Z1));其中,U為端口電壓,Uinput為端口輸入電壓, Z1為端口阻抗,Z2為差分線阻抗。
于本發(fā)明的一實(shí)施例中,差分線阻抗Z2的一種計(jì)算形式為:
其中,w為差分線的寬度,h為電路板疊層高 度,t為差分線的厚度,s為兩條差分線之間的距離,Dk為印刷電路板的相對(duì)介質(zhì)常數(shù)。
于本發(fā)明的一實(shí)施例中,基于以下函數(shù)關(guān)系獲取所述端口電壓、端口輸入電壓、端口阻 抗、差分線阻抗的函數(shù)關(guān)系:U=Uinput+Ureflect;r=Ureflect/Uinput=(Z2-Z1)/(Z2+Z1);其中, Ureflect為反射電壓r為反射系數(shù)。
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