[發明專利]一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法及內窺鏡系統有效
| 申請號: | 202110232827.5 | 申請日: | 2021-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN112998627B | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發明(設計)人: | 黎建霞;陳魁;孫宇;鄧安鵬 | 申請(專利權)人: | 重慶金山醫療技術研究院有限公司 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00;A61B1/06;G01J1/42 |
| 代理公司: | 重慶輝騰律師事務所 50215 | 代理人: | 張小曉 |
| 地址: | 401120 重慶市渝北區回興*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 內窺鏡 光通量 自動檢測 補償 方法 系統 | ||
本發明公開了一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法及內窺鏡系統,其中,補償方法包括以下步驟:1)在鏡體的光通路上設置若干光通量檢測點位;2)使光源獲取各個光通量檢測點位的實時參數與預設的初始參數之間的實時差值量,并獲取該實時差值量與預設差值量之間的差值偏移量;3)使光源根據差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,改變光源的出光量等級。本發明內窺鏡光通量自動檢測補償方法可對鏡體的光通量進行補償,改變光源的出光量等級,使得內窺鏡系統成像畫面亮度和畫面質量保持不變,增加鏡體的使用壽命,提高光源的利用率和能耗轉換比。
技術領域
本發明涉及內窺鏡領域,特別是涉及一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法及內窺鏡系統。
背景技術
現有技術中的內窺鏡鏡體的光通量參數均是在出廠前借助三方設備進行測定的,內窺鏡系統自身無法對適配鏡體的光通量參數進行檢測。
但是,在實際使用中,鏡體的光通量參數會隨著鏡體的老化而改變,從而導致如下問題:內窺鏡系統成像畫面亮度變暗,成像畫面質量降低;降低光源的能量轉換比,不利于節能;增加使用者的操作時間,故障排除時間,降低病灶檢出率。
因此本領域技術人員致力于開發一種具有光通量自動檢測補償功能的內窺鏡系統。
發明內容
有鑒于現有技術的上述缺陷,本發明所要解決的技術問題是提供一種具有光通量自動檢測補償功能的內窺鏡系統。
為實現上述目的,本發明提供了一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法,包括以下步驟:
1)在鏡體的光通路上設置若干光通量檢測點位;
2)使光源獲取各個光通量檢測點位的實時參數與預設的初始參數之間的實時差值量,并獲取該實時差值量與預設差值量之間的差值偏移量;
3)使光源根據差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,改變光源的出光量等級。
較佳的,在步驟2)中,使光源在某一光通量檢測點位的實時差值量與預設差值量發生偏移時,定義該光通量檢測點位為前級壞點位,并將該前級壞點位的差值偏移量與后續點位的差值偏移量進行比較。
進一步的,在步驟3)中,當后續點位的差值偏移量與前級壞點位的差值偏移量相同時,使光源根據前級壞點位的差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,提高光源設定的出光量至相應等級。
更進一步的,在步驟3)中,當后續點位的差值偏移量大于前級壞點位的差值偏移量時,定義該后續點位為后級壞點位,使光源依據后級壞點位的差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,提高光源設定的出光量至相應等級。
本發明還提供了一種內窺鏡系統,包括依次連接的光源、導光部、操作把和插入部,所述導光部和插入部之間設置有至少兩個可檢測光通量的點位環;
所述導光部上設置有分別與所述點位環和光源電連接的中控單元,所述中控單元中儲存有所述點位環的初始參數;
所述光源上設置有光通量補償單元,用于獲取所述點位環的實時差值量與預設差值量之間的差值偏移量,并根據差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,以改變光源的出光量等級。
較佳的,所述點位環包括環狀的柔性PCB板,所述PCB板上設置有至少兩個并聯的光敏電阻,至少兩個所述光敏電阻環形排列在所述PCB板上。
較佳的,所述光敏電阻的數量為四個,相鄰兩個所述光敏電阻之間的夾角為90°。
較佳的,所述導光部的入口設置有第一點位環;所述導光部與操作把的中點設置有第二點位環;所述操作把的入口設置有第三點位環;所述操作把的出口設置有第四點位環;所述操作把與插入部的中點設置有第五點位環;所述插入部的后端設置有第六點位環;所述插入部的中點設置有第七點位環;所述插入部的前端設置有第八點位環。
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