[發明專利]一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法及內窺鏡系統有效
| 申請號: | 202110232827.5 | 申請日: | 2021-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN112998627B | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發明(設計)人: | 黎建霞;陳魁;孫宇;鄧安鵬 | 申請(專利權)人: | 重慶金山醫療技術研究院有限公司 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00;A61B1/06;G01J1/42 |
| 代理公司: | 重慶輝騰律師事務所 50215 | 代理人: | 張小曉 |
| 地址: | 401120 重慶市渝北區回興*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 內窺鏡 光通量 自動檢測 補償 方法 系統 | ||
1.一種內窺鏡光通量自動檢測補償方法,其特征是,包括以下步驟:
1)在鏡體的光通路上設置若干光通量檢測點位;
2)使光源獲取各個光通量檢測點位的實時參數與預設的初始參數之間的實時差值量,并獲取該實時差值量與預設差值量之間的差值偏移量;
3)使光源根據差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,改變光源的出光量等級。
2.如權利要求1所述的內窺鏡光通量自動檢測補償方法,其特征是:在步驟2)中,使光源在某一光通量檢測點位的實時差值量與預設差值量發生偏移時,定義該光通量檢測點位為前級壞點位,并將該前級壞點位的差值偏移量與后續點位的差值偏移量進行比較。
3.如權利要求2所述的內窺鏡光通量自動檢測補償方法,其特征是:在步驟3)中,當后續點位的差值偏移量與前級壞點位的差值偏移量相同時,使光源根據前級壞點位的差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,提高光源設定的出光量至相應等級。
4.如權利要求2或3所述的內窺鏡光通量自動檢測補償方法,其特征是:在步驟3)中,當后續點位的差值偏移量大于前級壞點位的差值偏移量時,定義該后續點位為后級壞點位,使光源依據后級壞點位的差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,提高光源設定的出光量至相應等級。
5.一種內窺鏡系統,包括依次連接的光源、導光部(20)、操作把(30)和插入部(40),其特征是:所述導光部(20)和插入部(40)之間設置有至少兩個可檢測光通量的點位環(10);
所述導光部(20)上設置有分別與所述點位環(10)和光源電連接的中控單元(21),所述中控單元(21)中儲存有所述點位環(10)的初始參數;
所述光源上設置有光通量補償單元,用于獲取所述點位環(10)的實時差值量與預設差值量之間的差值偏移量,并根據差值偏移量對鏡體的光通量進行補償,以改變光源的出光量等級。
6.如權利要求5所述的內窺鏡系統,其特征是:所述點位環(10)包括環狀的柔性PCB板(11),所述PCB板(11)上設置有至少兩個并聯的光敏電阻(12),至少兩個所述光敏電阻(12)環形排列在所述PCB板(11)上。
7.如權利要求6所述的內窺鏡系統,其特征是:所述光敏電阻(12)的數量為四個,相鄰兩個所述光敏電阻(12)之間的夾角為90°。
8.如權利要求5至7任一所述的內窺鏡系統,其特征是:所述導光部(20)的入口設置有第一點位環(10a);所述導光部(20)與操作把(30)的中點設置有第二點位環(10b);所述操作把(30)的入口設置有第三點位環(10c);所述操作把(30)的出口設置有第四點位環(10d);所述操作把(30)與插入部(40)的中點設置有第五點位環(10e);所述插入部(40)的后端設置有第六點位環(10f);所述插入部(40)的中點設置有第七點位環(10g);所述插入部(40)的前端設置有第八點位環(10h)。
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