[發(fā)明專利]一種微顯示驅(qū)動芯片結構及其制作工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110232728.7 | 申請日: | 2021-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN113013163A | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 呂迅 | 申請(專利權)人: | 安徽熙泰智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/088 | 分類號: | H01L27/088;H01L21/8234 |
| 代理公司: | 蕪湖安匯知識產(chǎn)權代理有限公司 34107 | 代理人: | 孟迪 |
| 地址: | 241000 安徽省蕪湖市蕪湖長江*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顯示 驅(qū)動 芯片 結構 及其 制作 工藝 | ||
一種微顯示驅(qū)動芯片結構及其制作工藝,屬于微顯示驅(qū)動芯片技術領域,該微顯示驅(qū)動芯片結構,包括半導體襯底及其上設置的MOSFET模塊和多晶硅薄膜晶體管模塊,半導體襯底上設置有單晶硅有源區(qū),單晶硅有源區(qū)上設置MOSFET模塊,單晶硅有源區(qū)的兩側分別設置有淺溝道隔離結構,其中一個淺溝道隔離結構的上方設置多晶硅有源區(qū),多晶硅有源區(qū)上設置多晶硅薄膜晶體管模塊,本發(fā)明的有益效果是,本發(fā)明通過在MOSFET中引入多晶硅薄膜晶體管模塊,制備組合驅(qū)動芯片,工藝簡單,驅(qū)動能力強,可避免漏電流大導致的顯示異常問題,可降低發(fā)熱和功耗。
技術領域
本發(fā)明涉及微顯示驅(qū)動芯片技術領域,尤其涉及一種微顯示驅(qū)動芯片結構及其制作工藝。
背景技術
目前基于硅基MOSFET(金屬-氧化物半導體場效應晶體管)的顯示技術,借助單晶硅高載流子遷移率(1350cm2/Vs),已經(jīng)實現(xiàn)了超高分辨率,包括硅基有機發(fā)光二極管(硅基OLED),硅基液晶(LCOS),Micro LED,數(shù)字光處理(DLP)等,都在使用硅基CMOS驅(qū)動芯片。和傳統(tǒng)的晶體管相比,MOSFET使用單晶硅作溝道,載流子遷移率高,雖然驅(qū)動能力強,但是MOSFET漏電流(Ioff)大。MOSFET漏電流一般在pA級別,而顯示一般要求fA級別的漏電流,較大的漏電流會導致像素亮點或暗點等顯示異常,同時漏電流較大會導致器件發(fā)熱大,功耗大,不利于移動便攜式應用。所以開發(fā)低漏電驅(qū)動芯片,解決顯示異常,降低發(fā)熱和功耗,拓展移動便攜式應用,對于微顯示很有意義。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術問題,本發(fā)明提供了一種微顯示驅(qū)動芯片結構及其制作工藝,通過在場效應晶體管的制備中引入多晶硅薄膜晶體管模塊,制備組合驅(qū)動芯片,工藝簡單,驅(qū)動能力強,可避免漏電流大導致的顯示異常問題,可降低發(fā)熱和功耗。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:所述微顯示驅(qū)動芯片結構,包括半導體襯底及其上設置的MOSFET模塊和多晶硅薄膜晶體管模塊,所述半導體襯底上設置有單晶硅有源區(qū),所述單晶硅有源區(qū)上設置所述MOSFET模塊,所述單晶硅有源區(qū)的兩側分別設置有淺溝道隔離結構,其中一個淺溝道隔離結構的上方設置多晶硅有源區(qū),所述多晶硅有源區(qū)上設置所述多晶硅薄膜晶體管模塊。
進一步地,所述MOSFET模塊包括柵疊層、主側墻和源漏區(qū)Ⅰ,所述主側墻環(huán)繞所述柵疊層,所述源漏區(qū)Ⅰ嵌于所述單晶硅有源區(qū)中且對準于所述主側墻的兩側。
進一步地,所述柵疊層包括由下而上依次設置的柵介質(zhì)層Ⅰ、柵導體層Ⅰ和蓋帽,所述柵導體層Ⅰ由是摻雜或未摻雜的多晶硅材料制作。
進一步地,所述多晶硅薄膜晶體管模塊包括源漏區(qū)Ⅱ、柵介質(zhì)層Ⅱ和柵導體層Ⅱ,所述源漏區(qū)Ⅱ設置在所述多晶硅有源區(qū)的上端兩側,所述多晶硅有源區(qū)的上方覆蓋所述柵介質(zhì)層Ⅱ,所述柵介質(zhì)層Ⅱ的上方中部設置所述柵導體層Ⅱ。
進一步地,所述柵導體層Ⅱ設置為金屬柵極層或多晶硅柵極層。
進一步地,所述多晶硅有源區(qū)的下端設置所述淺溝道隔離結構,所述MOSFET模塊的上端覆蓋所述柵介質(zhì)層Ⅱ,所述柵介質(zhì)層Ⅱ的上端設置有介質(zhì)層Ⅰ;所述介質(zhì)層Ⅰ內(nèi)貫穿設置有與所述源漏區(qū)Ⅰ和源漏區(qū)Ⅱ相對的多個導通孔,所述導通孔內(nèi)填充有導電金屬,所述導通孔的上端沉積有金屬層。
進一步地,所述MOSFET模塊和所述淺溝道隔離結構的上方設置有介質(zhì)層Ⅱ,所述介質(zhì)層Ⅱ的上端設置所述多晶硅薄膜晶體管模塊,所述多晶硅薄膜晶體管模塊的上端設置有介質(zhì)層Ⅲ;所述介質(zhì)層Ⅱ和介質(zhì)層Ⅲ內(nèi)貫穿設置有與所述源漏區(qū)Ⅰ和源漏區(qū)Ⅱ相對的多個導通孔,所述導通孔內(nèi)填充有導電金屬,所述導通孔的上端沉積有金屬層。
一種所述的微顯示驅(qū)動芯片結構的制作工藝,包括以下步驟:
1)制備半導體襯底,在半導體襯底上刻蝕成槽、在槽中填充氧化物和氧化物平坦化后形成淺溝道隔離結構;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





