[發(fā)明專利]一種陣列基板的測試裝置及其測試方法

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• 申請日: 2021-03-02
• 公開（公告）號: CN112987352A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李維
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 遠(yuǎn)明

本發(fā)明提供了一種陣列基板的測試裝置及其測試方法，該測試裝置的測試墊位于同一測試區(qū)中的兩排陣列基板的相背兩側(cè)，且與陣列基板對應(yīng)且電性連接，檢測模塊包括液晶層和位于液晶層上的光電傳感器，液晶層用于測試陣列基板的電場，光電傳感器用于采集和評估液晶層出射光線的強度；本發(fā)明中的同一測試區(qū)內(nèi)的兩排陣列基板之間沒有設(shè)置測試墊，避免測試墊與光學(xué)檢測模塊的信號容易發(fā)生干涉的現(xiàn)象，對同一測試區(qū)內(nèi)的所有測試墊同時通入驅(qū)動信號，一次性檢測兩排陣列基板的電場和出射光線的強度，能大幅改善中小尺寸陣列基板的測試時間，能節(jié)省移動設(shè)備的移動和校準(zhǔn)次數(shù)，還能提高檢測效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示面板測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種陣列基板的測試裝置及其測試方法。

背景技術(shù)

顯示面板的制備包括陣列基板工序、彩膜基板工序以及陣列基板與彩膜基板的液晶層工序。一般通過檢測面板在陣列基板、彩膜基板、成盒這三個工序中出現(xiàn)的不良，把不良產(chǎn)品取出，需要及時修正或重新生產(chǎn)，尤其是陣列基板最容易出現(xiàn)缺陷或問題，一旦陣列基板的驅(qū)動電路傳輸出現(xiàn)問題，將會影響整個顯示面板的出光品質(zhì)。

目前實際生產(chǎn)中，陣列基板母版生產(chǎn)完成后，切割成多個待檢測陣列基板，將待檢測陣列基板放置在機臺上，采用人工點燈測試和自動點燈測試像素發(fā)光的亮度，在測試的過程中，需要頻繁大幅移動點燈模組和測試探頭位置，并重新矯正機械坐標(biāo)，需要的時間較長，測試效率較低。如圖1至圖2所示，現(xiàn)有技術(shù)中的測試裝置包括基臺101、輸入模塊102和光學(xué)檢測模塊103，輸入模塊102包括功能信號線1022和信號發(fā)射器1021，光學(xué)檢測模塊103包括液晶層1031和位于液晶層1031上的光電傳感器1032。基臺101上陣列設(shè)置有待檢測陣列基板和與待檢測陣列基板電性連接的測試墊，光學(xué)檢測模塊103活動地設(shè)置在陣列基板表面，用于檢測陣列基板的出光性能。測試墊1011-1014分別位于第一至第四排待檢測陣列基板(01-08)的同一側(cè)，每次只能檢測一排待檢測陣列基板，檢測效率較低。如圖3所示，每個待檢測陣列基板都分成若干份區(qū)域進(jìn)行測試，當(dāng)測試陣列基板邊緣時，光學(xué)檢測模塊103使用效率低，大概30％左右，對65寸陣列基板進(jìn)行測試時，光學(xué)檢測模塊103反復(fù)移位，需要移動和矯正至少4次，另外測試43寸陣列基板，光學(xué)檢測模塊103移動和矯正需要6次，每次花費時間5s左右，另外在邊緣時光學(xué)檢測模塊103與測試墊1012的信號容易發(fā)生干涉的問題。

因此，用于測試陣列基板的常規(guī)方法通過使用測試墊將電信號施加至陣列基板上，采用液晶層判斷出光情況，來確定待檢測陣列基板是否欠佳，若待檢測陣列基板的像素被點亮，采用光電傳感器對待檢測陣列基板光學(xué)性能進(jìn)行測試，每次僅能測試一排待檢測陣列基板，測試效率較低，尤其陣列基板邊緣的顯示區(qū)檢測效率更低，且測試墊與光學(xué)檢測模塊的信號容易發(fā)生干涉的技術(shù)問題，需要改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種陣列基板的測試裝置及其測試方法，能夠解決測試陣列基板的常規(guī)方法通過使用測試墊將電信號施加至陣列基板上，采用液晶層判斷出光情況，來確定待檢測陣列基板是否欠佳，若待檢測陣列基板的像素被點亮，采用光電傳感器對待檢測陣列基板光學(xué)性能進(jìn)行測試，每次僅能測試一排待檢測陣列基板，測試效率較低，尤其陣列基板邊緣的顯示區(qū)檢測效率更低，且測試邊緣顯示區(qū)時，測試墊與光學(xué)檢測模塊的信號容易發(fā)生干涉的技術(shù)問題。

為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明實施例提供一種陣列基板的測試裝置，包括：

承載臺，設(shè)置有多個測試區(qū)，每個所述測試區(qū)包括兩排陣列基板。

測試墊，對應(yīng)設(shè)置于每一所述陣列基板的一側(cè)，并與相對應(yīng)的所述陣列基板的測試端口連接，在同一所述測試區(qū)中，所述測試墊位于相鄰兩排所述陣列基板的相背的兩側(cè)。

加電模塊，與所述測試墊電性連接以通入驅(qū)動信號。

檢測模塊，包括液晶層和位于所述液晶層上的光電傳感器，所述液晶層用于測試所述陣列基板的電場，所述光電傳感器用于采集和評估所述液晶層出射光線的強度。