[發明專利]失效單元測試方法及裝置、存儲介質、電子設備

在審

• 申請號: 202110226034.2
• 申請日: 2021-03-01
• 公開（公告）號: CN112927750A
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: 余玉
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 王輝;闞梓瑄

1.一種失效單元測試方法，應用于動態隨機存取存儲器DRAM，其特征在于，所述方法包括：

在系統開機后，向所述DRAM中寫入測試數據；

停止向所述DRAM發送刷新指令，并等待預設時間；

讀取所述DRAM中的數據，并將所述讀取的數據與寫入的所述測試數據進行比較，根據所述讀取的數據與寫入的所述測試數據比較的結果，確定所述DRAM中發生翻轉的數據；

根據所述發生翻轉的數據所在的存儲單元確定所述DRAM中的失效單元。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述讀取的數據與寫入的所述測試數據不同時，則所述DRAM中當前存儲單元的數據發生翻轉。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述數據發生翻轉包括：寫入的所述測試數據為1，所述讀取的數據為0的情況；

或者，寫入的所述測試數據為0，所述讀取的數據為1的情況。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述讀取的數據與寫入的所述測試數據比較的結果，確定所述DRAM中存儲單元的數據保留時間。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述讀取的數據與寫入的所述測試數據不同時，所述DRAM中當前存儲單元的數據保留時間小于所述預設時間。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述讀取的數據與寫入的所述測試數據相同時，所述DRAM中當前存儲單元的數據保留時間大于或等于所述預設時間。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述預設時間為第一子預設時間或第二子預設時間，所述第一子預設時間小于所述第二子預設時間。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，在等待所述第一子預設時間后，如果所述讀取的數據與寫入的所述測試數據不同，則所述DRAM中存儲單元的數據保留時間小于所述第一子預設時間；

在等待所述第二子預設時間后，如果所述讀取的數據與寫入的所述測試數據相同，則所述DRAM中存儲單元的數據保留時間大于或等于所述第二子預設時間；

在等待所述第一子預設時間后，如果所述讀取的數據與寫入的所述測試數據相同，但等待所述第二子預設時間后，如果所述讀取的數據與寫入的所述測試數據不同，則所述DRAM中存儲單元的數據保留時間大于或等于所述第一子預設時間且小于所述第二子預設時間。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一子預設時間為64ms或96ms，所述第二子預設時間為96ms或128ms。

10.根據權利要求4-9任一項所述的方法，其特征在于，所述數據保留時間包括數據保留在所述存儲單元中所持續的時間。

11.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述刷新指令包括SR指令和AR指令。

12.根據權利要求11所述的方法，其特征在于，停止向所述DRAM發送刷新指令包括：

通過所述系統中的CPU關閉所述AR指令和所述SR指令。

13.一種失效單元測試裝置，應用于動態隨機存取存儲器DRAM，其特征在于，所述裝置包括：

測試數據寫入模塊，用于在系統開機后，向所述DRAM中寫入測試數據；

指令控制模塊，用于停止向所述DRAM發送刷新指令，并等待預設時間；

數據比較模塊，用于讀取所述DRAM中的數據，并將所述讀取的數據與寫入的所述測試數據進行比較，根據所述讀取的數據與寫入的所述測試數據比較的結果，確定所述DRAM中發生翻轉的數據；

失效單元確定模塊，用于根據所述發生翻轉的數據所在的存儲單元確定所述DRAM中的失效單元。