[發明專利]環形器件中心定位裝置、方法及應用

有效

• 申請號: 202110216244.3
• 申請日: 2021-02-26
• 公開（公告）號: CN112945073B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 張鑫;劉雷;丁勇;孫穎莉;許珍;趙江濤;王朝中;閆阿儒
• 申請（專利權）人: 中國科學院寧波材料技術與工程研究所
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 戴賢群

本發明涉及一種環形器件中心定位裝置、方法及應用，環形器件中心定位裝置包括樣品臺及檢測組件，樣品臺包括基部以及設于基部上的定位部，定位部和基部之間形成臺階，定位部的外形與待測環形器件內孔相適配；樣品臺沿高度方向開設有貫通定位部和基部的通孔，通孔的中心軸線與定位部的中心軸線重合。檢測組件包括檢測桿、升降機構以及磁感應強度傳感器，檢測桿能夠插入通孔中并能夠沿著通孔的軸向移動，升降機構連接檢測桿以控制檢測桿移動，磁感應強度傳感器具有用于檢測磁感應強度的探頭，探頭設于檢測桿一端。該環形器件中心定位裝置及方法能夠對批量環形器件的中心位置進行快速定位。

技術領域

本發明涉及機械加工技術領域，特別是涉及一種環形器件中心定位裝置、方法及應用。

背景技術

隨著精密儀器設備的不斷發展，為了實現設備的最優設計，對器件在加工以及安裝過程中的技術要求都在提高，其中對環形器件中心定位是一個經常遇到且非常重要的問題，特別是在大批量環形器件的加工以及安裝時，為保證產品質量的穩定性及生產的高效性，對環形器件中心定位的高效性和準確性顯得相當重要。

目前，常用到的環形器件中心定位的方法有很多，包括三坐標、激光測距定位，工裝定位等。常見的方法中所用到的設備結構復雜，造價昂貴，對于需用到工裝的方法大多都是專件專用，在更換器件之后往往需要重新進行定位操作，在大批量環形器件定位時工裝的定位效率較低。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種環形器件中心定位裝置及方法，能夠對批量環形器件的中心位置進行快速定位。

本發明提供一種環形器件中心定位裝置，包括樣品臺以及檢測組件；所述樣品臺包括基部以及設于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之間形成臺階，所述定位部的外形與待測環形器件內孔相適配；所述樣品臺沿高度方向開設有貫通所述定位部和所述基部的通孔，所述通孔的中心軸線與所述定位部的中心軸線重合；所述檢測組件包括檢測桿、升降機構以及磁感應強度傳感器，所述檢測桿能夠插入所述通孔中并能夠沿著所述通孔的軸向移動，所述升降機構連接所述檢測桿以控制所述檢測桿移動，所述磁感應強度傳感器具有用于檢測磁感應強度的探頭，所述探頭設于所述檢測桿一端。

在其中一個實施例中，所述樣品臺由不導磁材料制成。

在其中一個實施例中，所述樣品臺的材質為銅、鋁、樹脂、玻璃或陶瓷。

在其中一個實施例中，所述基部上設有一個或多個所述定位部，當所述定位部為多個時，多個定位部依次疊設且相鄰定位部之間形成臺階。

在其中一個實施例中，所述定位部的高度為2mm～10mm。

在其中一個實施例中，所述升降機構包括升降桿、升降平臺以及控制機構，所述升降平臺連接于所述升降桿且能夠沿所述升降桿升降，所述控制機構連接所述升降平臺以控制所述升降平臺升降。

在其中一個實施例中，還包括外形尺寸與待測環形器件一致的永磁環，所述永磁環的內孔與所述定位部的外形相適配。

在其中一個實施例中，磁感應強度傳感器為高斯計。

本發明還提供一種環形器件中心定位方法，包括以下步驟：

提供外形尺寸與待測環形器件一致的永磁環；

提供樣品臺，所述樣品臺包括基部以及設于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之間形成臺階，所述定位部的外形與待測環形器件內孔相適配；沿樣品臺高度方向開設貫通定位部和基部的通孔，并使得所述通孔的中心軸線與所述定位部的中心軸線重合；

將永磁環套于所述樣品臺的定位部外側；