[發明專利]環形器件中心定位裝置、方法及應用

有效

• 申請號: 202110216244.3
• 申請日: 2021-02-26
• 公開（公告）號: CN112945073B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 張鑫;劉雷;丁勇;孫穎莉;許珍;趙江濤;王朝中;閆阿儒
• 申請（專利權）人: 中國科學院寧波材料技術與工程研究所
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 戴賢群

1.一種環形器件中心定位裝置，其特征在于，包括：

樣品臺，所述樣品臺包括基部以及設于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之間形成臺階，所述定位部的外形與待測環形器件內孔相適配；所述樣品臺沿高度方向開設有貫通所述定位部和所述基部的通孔，所述通孔的中心軸線與所述定位部的中心軸線重合；以及

檢測組件，所述檢測組件包括檢測桿、升降機構以及磁感應強度傳感器，所述檢測桿能夠插入所述通孔中并能夠沿著所述通孔的軸向移動，所述升降機構連接所述檢測桿以控制所述檢測桿移動，所述磁感應強度傳感器具有用于檢測磁感應強度的探頭，所述探頭設于所述檢測桿一端。

2.根據權利要求1所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，所述樣品臺由不導磁材料制成。

3.根據權利要求2所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，所述樣品臺的材質為銅、鋁、樹脂、玻璃或陶瓷。

4.根據權利要求1所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，所述基部上設有一個或多個所述定位部，當所述定位部為多個時，多個定位部依次疊設且相鄰定位部之間形成臺階。

5.根據權利要求1所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，所述定位部的高度為2mm～10mm。

6.根據權利要求1所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，所述升降機構包括升降桿、升降平臺以及控制機構，所述升降平臺連接于所述升降桿且能夠沿所述升降桿升降，所述控制機構連接所述升降平臺以控制所述升降平臺升降。

7.根據權利要求1所述的環形器件中心定位裝置，其特征在于，還包括外形尺寸與待測環形器件一致的永磁環，所述永磁環的內孔與所述定位部的外形相適配。

8.一種環形器件中心定位方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供外形尺寸與待測環形器件一致的永磁環；

提供樣品臺，所述樣品臺包括基部以及設于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之間形成臺階，所述定位部的外形與待測環形器件內孔相適配；沿樣品臺高度方向開設貫通定位部和基部的通孔，并使得所述通孔的中心軸線與所述定位部的中心軸線重合；

將永磁環套于所述樣品臺的定位部外側；

利用檢測組件檢測永磁環的磁感應強度，所述檢測組件包括檢測桿、升降機構以及磁感應強度傳感器，所述升降機構連接所述檢測桿以控制所述檢測桿移動，所述磁感應強度傳感器具有用于檢測磁感應強度的探頭，所述探頭設于所述檢測桿一端；將所述檢測桿設有所述探頭的一端伸入所述通孔內，通過升降機構控制檢測桿沿通孔的軸向移動，當磁感應強度傳感器檢測到的磁感應強度最大時，檢測桿停止移動，此時所述探頭所處的位置即為永磁環的中心；

固定所述探頭和所述樣品臺的相對位置，將所述永磁環從所述樣品臺取下，將待測環形器件套于所述定位部外側，根據所述探頭位置確定待測環形器件的中心位置。

9.根據權利要求8所述的環形器件中心定位方法，其特征在于，所述待測環形器件為磁環或非磁環。

10.一種如權利要求1-7任意一項所述的環形器件中心定位裝置在永磁環的磁場檢測中的應用。