[發明專利]一種偏光片外觀缺陷檢測系統

在審

• 申請號: 202110209231.3
• 申請日: 2021-02-24
• 公開（公告）號: CN113030095A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 張保紅
• 申請（專利權）人: 杭州微納智感光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種偏光片外觀缺陷檢測系統及檢測方法，其偏光片外觀缺陷檢測系統包括PLC控制器，與PLC控制器電氣連接的投料工站、上料工站、輸送工站、第一工位檢測工站、第二工位檢測工站、下料工站，還包括服務器，服務器與PLC控制器、第一工位檢測工站和第二工位檢測工站電氣連接。本發明提供的一種偏光片外觀缺陷檢測系統及檢測方法，主要是從第一工位檢測工站和第二工位檢測工站對偏光片進行全面檢測，采用雙視場成像的原理實現大視場的掃描和定位，進而實現微小缺陷的高分辨成像，通過低分辨線掃相機和高分辨面陣相機的結合，用低分辨線掃進行大范圍掃描和定位，用高分辨面陣確定孔周圍缺陷，可實現小孔的快速定位和缺陷的高效識別。

技術領域

本發明涉及偏光片缺陷檢測技術領域，尤其是涉及一種偏光片外觀缺陷檢測系統。

背景技術

偏光片被廣泛應用于液晶顯示器中，它對液晶顯示器的亮度、對比度、可視角等光學性能有著重要的影響，其視覺缺陷(外觀缺陷)會直接導致液晶顯示器不合格。偏光片外觀缺陷種類繁多，根據缺陷所處的位置可分為基板缺陷、糊面缺陷、保護膜缺陷等，根據缺陷的外觀特征可以分為異物、劃傷、折痕、打痕、氣泡等缺陷。

目前，對偏光片光學性能檢測技術的研究較為集中，而外觀缺陷檢測仍然普遍采用人工方法，利用人眼進行外觀分辨，人工檢測方法勞動強度大，檢測效率慢，容易受到人眼分辨能力和易疲勞等主觀因素的影響，而一些缺陷的尺寸遠低于人眼目視分辨的最小極限，因而容易漏檢，進而影響良品率及完工進度，不能夠滿足大批量生產的要求。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種偏光片外觀缺陷檢測系統，能夠保證測量的精度、檢測的準確性，實現低成本、高精度和穩定性的偏光片外觀缺陷檢測。

為實現上述目的，本發明采用以下內容：

一種偏光片外觀缺陷檢測系統，包括：

投料工站，若干待檢測偏光片經人工投放至投料工站的上料倉中；

上料工站，用于吸取投料工站上待檢測偏光片組中最上層的一張偏光片；

輸送工站，承接上料工站所吸取的偏光片，并進行輸送；

第一工位檢測工站，對輸送中的偏光片進行尺寸檢測；

第二工位檢測工站，對輸送中的偏光片進行圓孔缺陷檢測；

下料工站，用于吸取輸送工站上的偏光片；

還包括PLC控制器和服務器，所述PLC控制器分別與投料工站、上料工站、輸送工站、第一工位檢測工站、第二工位檢測工站、下料工站電氣連接，所述服務器與PLC控制器、第一工位檢測工站和第二工位檢測工站電氣連接。

優選的是，所述第一工位檢測工站包括光源和至少一個線掃相機，所述光源設置于線掃相機的下方，并且與線掃相機上的鏡頭同軸。

優選的是，所述線掃相機的像素為5472*3048，像元尺寸為2.4μm*2.4μm。

優選的是，所述第二工位檢測工站包括面陣相機，所述面陣相機與一條形光源配合。

優選的是，所述面陣相機為8192像素面陣相機，其像元尺寸為5μm。

一種利用偏光片外觀缺陷檢測系統的檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：人工上料，將待檢測偏光片組放入投料工站中，使投料工站對偏光片組進行自動投料；

步驟2：上料工站吸取偏光片組最上層的一個偏光片，并將該偏光片放置到輸送工站的起始位置；

步驟3：輸送工站開始傳送，使得輸送工站上的偏光片依次經過第一工位檢測工站和第二工位檢測工站，之后偏光片運動至輸送工站的終止位置；