[發(fā)明專利]一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110209231.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113030095A | 公開(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張保紅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州微納智感光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310019 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 偏光 外觀 缺陷 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:
投料工站,若干待檢測(cè)偏光片經(jīng)人工投放至投料工站的上料倉中;
上料工站,用于吸取投料工站上待檢測(cè)偏光片組中最上層的一張偏光片;
輸送工站,承接上料工站所吸取的偏光片,并進(jìn)行輸送;
第一工位檢測(cè)工站,對(duì)輸送中的偏光片進(jìn)行尺寸檢測(cè);
第二工位檢測(cè)工站,對(duì)輸送中的偏光片進(jìn)行圓孔缺陷檢測(cè);
下料工站,用于吸取輸送工站上的偏光片;
還包括PLC控制器和服務(wù)器,所述PLC控制器分別與投料工站、上料工站、輸送工站、第一工位檢測(cè)工站、第二工位檢測(cè)工站、下料工站電氣連接,所述服務(wù)器與PLC控制器、第一工位檢測(cè)工站和第二工位檢測(cè)工站電氣連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第一工位檢測(cè)工站包括光源和至少一個(gè)線掃相機(jī),所述光源設(shè)置于線掃相機(jī)的下方,并且與線掃相機(jī)上的鏡頭同軸。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述線掃相機(jī)的像素為5472*3048,像元尺寸為2.4μm*2.4μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第二工位檢測(cè)工站包括面陣相機(jī),所述面陣相機(jī)與一條形光源配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述面陣相機(jī)為8192像素面陣相機(jī),其像元尺寸為5μm。
6.一種利用如權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述的偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:人工上料,將待檢測(cè)偏光片組放入投料工站中,使投料工站對(duì)偏光片組進(jìn)行自動(dòng)投料;
步驟2:上料工站吸取偏光片組最上層的一個(gè)偏光片,并將該偏光片放置到輸送工站的起始位置;
步驟3:輸送工站開始傳送,使得輸送工站上的偏光片依次經(jīng)過第一工位檢測(cè)工站和第二工位檢測(cè)工站,之后偏光片運(yùn)動(dòng)至輸送工站的終止位置;
步驟4:下料工站吸取運(yùn)動(dòng)至輸送工站終止位置的偏光片,并將該偏光片放入對(duì)應(yīng)的料盤收納盒中。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述步驟3中,第一工位檢測(cè)工站上的線掃相機(jī)以及第二工位檢測(cè)工站上的面陣相機(jī)對(duì)經(jīng)過的偏光片的表面進(jìn)行拍照測(cè)試,并將測(cè)試圖像傳輸給服務(wù)器,服務(wù)器對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述服務(wù)器將檢測(cè)結(jié)果反饋給PLC控制器,所述PLC控制器根據(jù)反饋結(jié)果操控步驟4中的下料工站將偏光片放入相應(yīng)的料盤收納盒中進(jìn)行分類存儲(chǔ)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種偏光片外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,若所述服務(wù)器的檢測(cè)結(jié)果中未發(fā)現(xiàn)偏光片存在外觀缺陷,則PLC控制器根據(jù)該良好檢測(cè)結(jié)果操控下料工站將偏光片放入OK料盤收納盒中;若所述服務(wù)器的檢測(cè)結(jié)果中發(fā)現(xiàn)偏光片存在外觀缺陷,則PLC控制器根據(jù)該不良檢測(cè)結(jié)果操控下料工站將偏光片放入NG料盤收納盒中。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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