[發(fā)明專利]存儲器器件及動態(tài)誤差監(jiān)視和修復的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110205516.X | 申請日： | 2021-02-24 |
| 公開（公告）號： | CN113314182A | 公開（公告）日： | 2021-08-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 野口纮希;林谷峰;王奕 | 申請（專利權(quán)）人： | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/42 | 分類號： | G11C29/42;G06F11/14 |
| 代理公司： | 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32243 | 代理人： | 顧伯興 |
| 地址： | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲器 器件 動態(tài) 誤差 監(jiān)視 修復 方法 | ||
1.一種存儲器器件，包括：
存儲單元陣列，包括多個存儲單元，所述多個存儲單元包括包含第一數(shù)據(jù)存儲單元的多個數(shù)據(jù)存儲單元以及包含第一備份存儲單元的多個備份存儲單元；
存儲裝置，存儲配置成記錄與所述多個數(shù)據(jù)存儲單元相關(guān)聯(lián)的誤差的誤差表，所述誤差表包含多個誤差表條目，每一誤差表條目對應(yīng)于所述多個數(shù)據(jù)存儲單元中的一個且具有地址和故障計數(shù)；以及
控制器，配置成基于所述誤差表用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器器件，其中所述控制器配置成在所述第一數(shù)據(jù)存儲單元的所述故障計數(shù)高于閾值故障計數(shù)時替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器器件，其中所述多個備份存儲單元是M個備份存儲單元，M是大于一的整數(shù)，且其中所述控制器配置成用所述M個備份存儲單元替換具有最高M個故障計數(shù)的M個數(shù)據(jù)存儲單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器器件，其中用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元包括：
將存儲在所述第一數(shù)據(jù)存儲單元中的數(shù)據(jù)傳送至所述第一備份存儲單元；以及
將所述第一數(shù)據(jù)存儲單元指定為替換存儲單元。
5.一種存儲器器件，包括：
存儲單元陣列，包括多個存儲單元，所述多個存儲單元包括多個數(shù)據(jù)存儲單元和M個備份存儲單元，M是大于一的整數(shù)；
存儲裝置，存儲修復表，其中所述修復表包含對應(yīng)于由所述M個備份存儲單元替換的M個數(shù)據(jù)存儲單元的M個修復表條目，每一修復表條目具有地址和故障計數(shù)；以及
控制器，配置成：
更新所述修復表以產(chǎn)生更新的修復表；以及
基于所述更新的修復表用所述M個備份存儲單元中的至少一個替換所述M個數(shù)據(jù)存儲單元中的至少一個。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的存儲器器件，其中所述存儲裝置配置成存儲誤差表，所述誤差表配置成記錄所述多個數(shù)據(jù)存儲單元中的誤差，所述誤差表包含多個誤差表條目，每一誤差表條目對應(yīng)于所述多個數(shù)據(jù)存儲單元中的一個且具有地址和故障計數(shù)，且其中更新所述修復表是基于所述誤差表和所述修復表。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲器器件，其中基于所述誤差表和所述修復表更新所述修復表包括：
確定第一地址，所述第一地址在所述誤差表中但不在所述修復表中，對應(yīng)于所述第一地址的第一故障計數(shù)高于所述修復表中的最低故障計數(shù)，所述最低故障計數(shù)對應(yīng)于第二地址；以及
分別用所述第一地址和所述第一故障計數(shù)替換所述第二地址和所述最低故障計數(shù)。
8.一種動態(tài)誤差監(jiān)視和修復的方法，包括：
提供包括多個存儲單元的存儲單元陣列，所述多個存儲單元包括多個數(shù)據(jù)存儲單元和多個備份存儲單元；
通過誤差校正碼電路檢測所述多個數(shù)據(jù)存儲單元中的誤差；
產(chǎn)生誤差表，所述誤差表包含多個誤差表條目，每一誤差表條目對應(yīng)于所述多個數(shù)據(jù)存儲單元中的一個且具有地址和故障計數(shù)；以及
基于所述誤差表，用所述多個備份存儲單元當中的第一備份存儲單元替換所述多個數(shù)據(jù)存儲單元當中的第一數(shù)據(jù)存儲單元。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中基于所述誤差表用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元包括：
在所述第一數(shù)據(jù)存儲單元的所述故障計數(shù)高于閾值故障計數(shù)時，用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中基于所述誤差表用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元包括：
在所述第一數(shù)據(jù)存儲單元的所述故障計數(shù)在最高M個故障計數(shù)當中時，用所述第一備份存儲單元替換所述第一數(shù)據(jù)存儲單元，M是所述多個備份存儲單元的數(shù)目。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司，未經(jīng)臺灣積體電路制造股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110205516.X/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路
- 下一篇：存儲器裝置
