[發明專利]一種光譜儀檢測裝置

在審

• 申請號: 202110192731.0
• 申請日: 2021-02-20
• 公開（公告）號: CN114460058A
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 林仕偉;符堅;周義龍;陳寶;陳漢德;林正璽;王玲轉;林慧媛;符智豪;黃修彩
• 申請（專利權）人: 海南聚能科技創新研究院有限公司
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G01N21/01
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 尹君君

1.一種光譜儀檢測裝置，其特征在于，包括激光器(1)、樣品臺(2)、CCD檢測器(3)和緊鄰所述CCD檢測器(3)設置的冷卻干燥器；所述激光器(1)與所述樣品臺(2)二者之間設有用以將所述激光器(1)的激光傳遞至所述樣品臺(2)上的待測樣本的第一光學鏡片組件；所述樣品臺(2)和所述CCD檢測器(3)二者之間設有用以將待測樣本發出的光信號傳遞至所述CCD檢測器(3)的第二光學鏡片組件；

所述樣品臺(2)的表面設有貴金屬納米鍍層；

所述樣品臺(2)遠離所述第一光學鏡片組件和所述第二光學鏡片組件的一側設有凹面反光鏡(4)。

2.根據權利要求1所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述樣品臺(2)設有溫度傳感器和溫度補償器。

3.根據權利要求1所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述貴金屬納米鍍層具體為Au鍍層或Ag鍍層。

4.根據權利要求1所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述激光器(1)具體為用以提供波長為780nm的激光的半導體激光器。

5.根據權利要求1所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述冷卻干燥器包括半導體制冷片(7)和干燥劑。

6.根據權利要求5所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，還包括透明密封盒體(8)；所述CCD檢測器、所述干燥劑和所述半導體制冷片(7)的冷端均設于所述透明密封盒體(8)內，所述半導體制冷片(7)的熱端設于所述透明密封盒體(8)外；所述干燥劑具體為變色硅膠(9)。

7.根據權利要求1至6任一項所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述第一光學鏡片組件包括帶通濾光片(51)、反光鏡(52)和平凸透鏡(53)；所述反光鏡(52)的表面為全反光面；所述平凸透鏡(53)的表面設有增透膜。

8.根據權利要求1至6任一項所述的光譜儀檢測裝置，其特征在于，所述第二光學鏡片組件包括光纖準直透鏡(61)、全息帶阻濾光片(62)和分光鏡(63)；所述全息帶阻濾光片(62)的中心波長等于所述激光器(1)提供的激光的波長。