[發(fā)明專(zhuān)利]一種光譜儀檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110192731.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114460058A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林仕偉;符堅(jiān);周義龍;陳寶;陳漢德;林正璽;王玲轉(zhuǎn);林慧媛;符智豪;黃修彩 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 海南聚能科技創(chuàng)新研究院有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/65 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/65;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 尹君君 |
| 地址: | 571152 海南省??谑泻?趪?guó)家高新技*** | 國(guó)省代碼: | 海南;46 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光譜儀 檢測(cè) 裝置 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種光譜儀檢測(cè)裝置,包括激光器、樣品臺(tái)、CCD檢測(cè)器和冷卻干燥器;激光器與樣品臺(tái)之間設(shè)有第一光學(xué)鏡片組件;樣品臺(tái)和CCD檢測(cè)器之間設(shè)有第二光學(xué)鏡片組件;樣品臺(tái)的表面設(shè)有貴金屬納米鍍層;樣品臺(tái)的一側(cè)設(shè)有凹面反光鏡。使用該裝置時(shí),激光器的激光經(jīng)過(guò)第一光學(xué)鏡片組件照射至樣品臺(tái),使樣品臺(tái)的待測(cè)樣本產(chǎn)生包括散射光在內(nèi)的光信號(hào),此光信號(hào)經(jīng)第二光學(xué)鏡片組件傳遞至CCD檢測(cè)器,實(shí)現(xiàn)待測(cè)樣本的成分檢測(cè)分析。其中,貴金屬納米鍍層和凹面反光鏡提高了傳遞至第二光學(xué)鏡片組件的散射光的光強(qiáng),冷卻干燥器提高了CCD檢測(cè)器的信噪比,由此提高了該光譜儀檢測(cè)裝置對(duì)待測(cè)樣本的檢測(cè)精度和靈敏度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種光譜儀檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
拉曼光譜技術(shù)是指通過(guò)分析入射光照射在物質(zhì)上的散射光譜,來(lái)進(jìn)行物質(zhì)種類(lèi)的分析和鑒定。
拉曼檢測(cè)儀是一種應(yīng)用拉曼光譜技術(shù)分析物質(zhì)成分和種類(lèi)的裝置。采用拉曼檢測(cè)儀檢測(cè)物質(zhì)的成分和種類(lèi)時(shí),利用拉曼檢測(cè)儀提供的入射光照射被檢測(cè)的物質(zhì),令被檢測(cè)的物質(zhì)發(fā)出頻率不同于入射光的散射光,通過(guò)檢測(cè)和分析這一散射光中拉曼光譜的位移來(lái)確定被檢測(cè)的物質(zhì)的成分和種類(lèi)。
然而,由于被檢測(cè)的物質(zhì)所發(fā)出的散射光中,既包括拉曼散射光,也包括瑞麗散射光,而且,前述拉曼散射光的譜線(xiàn)相較于對(duì)于瑞麗散射光的譜線(xiàn)而言很弱,因此難以精確檢測(cè)拉曼散射光的光譜,導(dǎo)致該拉曼檢測(cè)儀的精度低、靈敏度低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光譜儀檢測(cè)裝置,可以提高檢測(cè)精度和靈敏度。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種光譜儀檢測(cè)裝置,包括激光器、樣品臺(tái)、CCD檢測(cè)器和緊鄰所述CCD檢測(cè)器設(shè)置的冷卻干燥器;所述激光器與所述樣品臺(tái)二者之間設(shè)有用以將所述激光器的激光傳遞至所述樣品臺(tái)上的待測(cè)樣本的第一光學(xué)鏡片組件;所述樣品臺(tái)和所述CCD檢測(cè)器二者之間設(shè)有用以將待測(cè)樣本發(fā)出的光信號(hào)傳遞至所述CCD檢測(cè)器的第二光學(xué)鏡片組件;
所述樣品臺(tái)的表面設(shè)有貴金屬納米鍍層;
所述樣品臺(tái)遠(yuǎn)離所述第一光學(xué)鏡片組件和所述第二光學(xué)鏡片組件的一側(cè)設(shè)有凹面反光鏡。
優(yōu)選地,所述樣品臺(tái)設(shè)有溫度傳感器和溫度補(bǔ)償器。
優(yōu)選地,所述貴金屬納米鍍層具體為Au鍍層或Ag鍍層。
優(yōu)選地,所述激光器具體為用以提供波長(zhǎng)為780nm的激光的半導(dǎo)體激光器。
優(yōu)選地,所述冷卻干燥器包括半導(dǎo)體制冷片和干燥劑。
優(yōu)選地,還包括透明密封盒體;所述CCD檢測(cè)器、所述干燥劑和所述半導(dǎo)體制冷片的冷端均設(shè)于所述透明密封盒體內(nèi),所述半導(dǎo)體制冷片的熱端設(shè)于所述透明密封盒體外;所述干燥劑具體為變色硅膠。
優(yōu)選地,所述第一光學(xué)鏡片組件包括帶通濾光片、反光鏡和平凸透鏡;所述反光鏡的表面為全反光面;所述平凸透鏡的表面設(shè)有增透膜。
優(yōu)選地,所述第二光學(xué)鏡片組件包括光纖準(zhǔn)直透鏡、全息帶阻濾光片和分光鏡;所述全息帶阻濾光片的中心波長(zhǎng)等于所述激光器提供的激光的波長(zhǎng)。
相對(duì)于上述背景技術(shù),本發(fā)明所提供的光譜儀檢測(cè)裝置包括激光器、CCD檢測(cè)器、樣品臺(tái)和緊鄰CCD檢測(cè)器設(shè)置的冷卻干燥器;樣品臺(tái)的表面設(shè)有貴金屬納米鍍層,樣品臺(tái)的一側(cè)設(shè)有凹面反光鏡,該凹面反光鏡位于樣品臺(tái)遠(yuǎn)離第一光學(xué)鏡片和第二光學(xué)鏡片的一側(cè)。
針對(duì)該光譜儀檢測(cè)裝置而言,激光器可向外界提供具有特定波長(zhǎng)的激光;樣品臺(tái)的貴金屬納米鍍層上放置有待測(cè)樣本。該光譜儀檢測(cè)裝置中,激光器與樣品臺(tái)二者之間設(shè)有用以將激光器的激光傳遞至樣品臺(tái)上的待測(cè)樣本的第一光學(xué)鏡片組件;樣品臺(tái)和CCD檢測(cè)器二者之間用以將待測(cè)樣本發(fā)出的光信號(hào)傳遞至CCD檢測(cè)器的第二光學(xué)鏡片組件。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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