[發明專利]芯片測試電路及方法

在審

• 申請號: 202110179071.2
• 申請日: 2021-02-08
• 公開（公告）號: CN112986797A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 李可;李卓研;陳耀璋;朱力強
• 申請（專利權）人: 昂寶電子（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 田琳婧

提供了一種芯片測試電路和方法。該芯片測試電路包括：模式判斷模塊，被配置為基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使芯片進入特定測試模式，并基于判斷結果生成用于使能芯片進入特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；模式鎖存模塊，被配置為通過對模式使能信號進行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于模式鎖存信號控制芯片進入并在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式。這里，由于利用模式鎖存信號控制芯片進入特定測試模式或正常工作模式后在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式，可以避免芯片在處于正常工作模式時誤進入特定測試模式導致的芯片工作異常甚至炸機。

技術領域

本發明涉及電路領域，更具體地涉及一種芯片測試電路及方法。

背景技術

由于工藝和封裝等原因，經常會出現芯片內的各種特性參數發生偏移的情況。因此，需要通過測試對芯片內發生偏移的參數進入調試或篩除，以保證芯片能夠達到產品規格要求。芯片內的絕大多數參數是無法直接測量的，需要使芯片依次進入一種或多種測試模式并通過芯片的某個端口將芯片內的一個或多個參數引出到芯片外部，來實現對這些參數進行測量的目的。

通常，要求芯片內的測試電路(下面稱為芯片測試電路)不能影響芯片的正常應用，且不能對芯片內的其他電路的性能產生影響。芯片測試電路可以基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使芯片進入測試模式，并在芯片進入測試模式后通過芯片的另一端口將芯片內的參數引出到芯片外部供測量。對于傳統的芯片測試電路而言，其輸入和輸出端口分別是芯片的兩個不同端口，并且要求其輸入端口為芯片的高阻輸出端口。當芯片處于正常工作模式時，傳統的芯片測試電路的輸入端口可能會受到干擾，使芯片誤進入測試模式，從而導致芯片工作異常甚至出現炸機現象。另一方面，對于端口比較少的芯片，例如，只有電源、地、和一個輸出端口的芯片，傳統的芯片測試電路無法實現測試功能。同時，端口比較少的芯片通常只有一個端口用作芯片測試電路的輸出端口，此時也需要使芯片依次進入多種測試模式才能將芯片內的多個參數引出到芯片外部供測量。

發明內容

鑒于以上所述的一個或多個問題，提出了根據本發明實施例的芯片測試電路和方法、及包括該芯片測試電路的芯片。

根據本發明實施例的芯片測試電路，包括：模式判斷模塊，被配置為基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使芯片進入特定測試模式，并基于判斷結果生成用于使能芯片進入特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；模式鎖存模塊，被配置為通過對模式使能信號進行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于模式鎖存信號控制芯片進入并在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式。

根據本發明實施例的芯片測試方法，包括：基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使芯片進入特定測試模式，并基于判斷結果生成用于使能芯片進入特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；以及通過對模式使能信號進行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于模式鎖存信號控制芯片進入并在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式。

根據本發明實施例的芯片測試電路和方法能夠準確判斷是否使芯片進入特定測試模式，并且能夠基于判斷結果使芯片進入特定測試模式或正常工作模式后在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式，從而可以避免芯片在處于正常工作模式時誤進入特定測試模式導致的芯片工作異常甚至炸機。

根據本發明實施例的芯片，包括一個或多個上述芯片測試電路，其中，該一個或多個芯片測試電路分別對應不同的測試模式，并且該芯片在同一時刻僅在該一個或多個芯片測試電路中的一個芯片測試電路的控制下進入并一直處于該芯片測試電路所對應的測試模式或正常工作模式。

根據本發明實施例的芯片可以在一個或多個上述芯片測試電路中的任意一個芯片測試電路的控制下進入該芯片測試電路所對應的測試模式或正常工作模式并且在下電前一直處于該測試模式或正常工作模式，從而可以避免芯片在處于正常工作模式時誤進入該測試模式或其他測試模式導致的芯片工作異常甚至炸機。

附圖說明