[發明專利]芯片測試電路及方法

在審

• 申請號: 202110179071.2
• 申請日: 2021-02-08
• 公開（公告）號: CN112986797A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 李可;李卓研;陳耀璋;朱力強
• 申請（專利權）人: 昂寶電子（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 田琳婧

1.一種芯片測試電路，包括：

模式判斷模塊，被配置為基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否需要使所述芯片進入特定測試模式，并基于判斷結果生成用于使能所述芯片進入所述特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；

模式鎖存模塊，被配置為通過對所述模式使能信號進行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于所述模式鎖存信號控制所述芯片進入并在下電前一直處于所述特定測試模式或所述正常工作模式。

2.如權利要求1所述的芯片測試電路，還包括：

電路啟動模塊，被配置為生成用于啟動所述模式判斷模塊和所述模式鎖存模塊的電路啟動信號，并通過對所述電路啟動信號進行延時生成第一延時信號，其中

所述模式鎖存模塊基于所述第一延時信號對所述模式使能信號進行采樣和鎖存。

3.如權利要求2所述的芯片測試電路，其中，所述電路啟動模塊還被配置為通過對所述電路啟動信號進行延時生成第二延時信號，作為用于控制所述模式判斷模塊停止判斷是否使所述芯片進入所述特定測試模式的判斷停止信號。

4.如權利要求3所述的芯片測試電路，其中，所述第二延時信號相對于所述電路啟動信號的延時比所述第一延時信號相對于所述電路啟動信號的延時更長。

5.如權利要求1所述的芯片測試電路，其中，當所述端口信號為電壓信號時，所述模式判斷模塊通過將所述端口信號與預定閾值進行比較來判斷是否使所述芯片進入所述特定測試模式。

6.一種芯片，包括一個或多個如權利要求1至5中任一項所述的芯片測試電路，其中，所述一個或多個芯片測試電路分別對應不同的測試模式，并且所述芯片在同一時刻僅在所述一個或多個芯片測試電路中的一個芯片測試電路的控制下進入并一直處于該芯片測試電路所對應的測試模式或正常工作模式。

7.如權利要求6所述的芯片，其中，所述一個或多個芯片測試電路的輸入端并聯連接到所述芯片的同一個端口。

8.如權利要求6所述的芯片，其中，所述一個或多個芯片測試電路的輸入端分別連接到所述芯片的不同端口。

9.一種芯片測試方法，包括：

基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使所述芯片進入特定測試模式，并基于判斷結果生成用于使能所述芯片進入所述特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；以及

通過對所述模式使能信號進行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于所述模式鎖存信號控制所述芯片進入并在下電前一直處于所述特定測試模式或所述正常工作模式。

10.如權利要求9所述的芯片測試方法，其中，在對所述模式使能信號進行采樣和鎖存后，停止生成所述模式使能信號。