[發明專利]一種光纖微彎損耗的測試方法

在審

• 申請號: 202110168759.0
• 申請日: 2021-02-07
• 公開（公告）號: CN113029522A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 沈小平;沈杰;沈建鑫;石碧波;李忠梁;倪瀟紅;魏文濤;白曉明
• 申請（專利權）人: 通鼎互聯信息股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 蘇州知途知識產權代理事務所(普通合伙) 32299
• 代理人: 馬剛強;張鋼鋒

本發明公開了一種光纖微彎損耗的測試方法，其技術方案要點是：包括以下步驟：步驟一.調試：首先在測試場地內使用篩選機對測試光纖進行調試，使測試光纖的排線完好無破損；步驟二.預熱：啟動光時域反射儀對測試光纖進行預熱，預熱時間為0.2?0.8h，在預熱時保持光時域反射儀的工作功率穩定；步驟三.首測：根據后向散射法使用光時域反射儀測量測試光纖前450m的衰減系數，并將測試的記錄數據值記為α1；測試簡單高效易操作，測試結果精準無誤差，且貼合實際，測試光纖處于砂紙的粗糙面上，并且處于一定的張力下，模擬了外部因素對光纖造成的微彎，其附加衰減測試簡單，可參靠性高，利于廠家選用合適的光纖。

技術領域

本發明屬于光纖微彎損耗測試領域，具體涉及一種光纖微彎損耗的測試方法。

背景技術

光纖是光導纖維的簡寫，是一種由玻璃或塑料制成的纖維，可作為光傳導工具。傳輸原理是光的全反射；微細的光纖封裝在塑料護套中，使得它能夠彎曲而不至于斷裂。通常，光纖的一端的發射裝置使用發光二極管或一束激光將光脈沖傳送至光纖，光纖的另一端的接收裝置使用光敏元件檢測脈沖。在日常生活中，由于光在光導纖維的傳導損耗比電在電線傳導的損耗低得多，光纖被用作長距離的信息傳遞。通常光纖與光纜兩個名詞會被混淆。多數光纖在使用前必須由幾層保護結構包覆，包覆后的纜線即被稱為光纜。

微彎損耗是由于光纖軸線微小的畸變造成的損耗，這些軸線上微小的畸變是由于光纖受到不均勻的應力作用。光纖產生微彎由涂料配方、拉絲固化不良、拉絲搓鈕輪搓動、主牽引皮帶等工藝特性決定的，而成纜后的光纖產生微彎則由組裝光纜過程、鋪設光纜安裝過程及環境溫度造成：而外部因素的隨機性和不可避免性，進一步影響了光纜衰減測試的穩定性，因此單純提供光纖各波長的衰減值己經不能滿足客戶的需求。

光纖是柔軟的可彎曲的，如果彎曲的曲率半徑太小，將使光的傳播途徑改變，使光從纖芯滲透到包層，甚至有可能穿過包層向外泄漏掉。因此當光纖彎曲時，例如常發生在成纜、現場敷設(管道轉彎)、光纜接頭等場合下引起彎曲損耗。微彎是一些隨機的曲率半徑可以與光纖的橫截面尺寸相比擬的畸變，常發生在套塑、成纜過程，光纖(或光纜)的周圍溫度發生變化等場合下。所以，微彎損耗是光纖隨機畸變而產生的高次模與輻射之間的模耦合所引起的光功率損失。現有的光纖微彎測試方法，計算方式復雜，流程冗長，測試結果精度較低，無法作為參考標準。

發明內容

本發明的目的在于提供一種光纖微彎損耗的測試方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種光纖微彎損耗的測試方法，包括以下步驟：

步驟一.調試：首先在測試場地內使用篩選機對測試光纖進行調試，使測試光纖的排線完好無破損；

步驟二.預熱：啟動光時域反射儀對測試光纖進行預熱，預熱時間為0.2-0.8h，在預熱時保持光時域反射儀的工作功率穩定；

步驟三.首測：根據后向散射法使用光時域反射儀測量測試光纖前450m的衰減系數，并將測試的記錄數據值記為α1；

步驟四.復繞：將步驟三測試后的450m測試光纖復繞在盤具的表面，在復繞前將砂紙包覆在盤具的表面，在復繞時使測試光纖與砂紙直接接觸；

步驟五.復測：取下繞有測試光纖的盤具，將光纖放置在測試臺上靜置1-3h，靜置完成后使用光時域反射儀測試該光纖的衰減系數，并將測試的記錄數據值記為α2；

步驟六.計算：設光纖的微彎損耗值為α，則光纖的微彎損耗值即為α＝α2-α1。

優選的，所述步驟一中的測試場地溫度控制在18-28℃，濕度控制在20-70％；同時在測試時確保所述測試場地的其他工作人員不觸碰所述測試光纖。

優選的，所述步驟一中的測試光纖在生產后放置在所述測試場地進行靜置，使所述測試光纖達到穩定狀態，所述靜置時間至少7天。