[發(fā)明專利]一種光纖微彎損耗的測試方法

在審

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• 申請日: 2021-02-07
• 公開（公告）號: CN113029522A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈小平;沈杰;沈建鑫;石碧波;李忠梁;倪瀟紅;魏文濤;白曉明
• 申請（專利權(quán)）人: 通鼎互聯(lián)信息股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 蘇州知途知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32299
• 代理人: 馬剛強;張鋼鋒

1.一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一.調(diào)試：首先在測試場地內(nèi)使用篩選機對測試光纖(2)進行調(diào)試，使測試光纖(2)的排線完好無破損；

步驟二.預(yù)熱：啟動光時域反射儀(3)對測試光纖(2)進行預(yù)熱，預(yù)熱時間為0.2-0.8h，在預(yù)熱時保持光時域反射儀(3)的工作功率穩(wěn)定；

步驟三.首測：根據(jù)后向散射法使用光時域反射儀(3)測量測試光纖(2)前450m的衰減系數(shù)，并將測試的記錄數(shù)據(jù)值記為α1；

步驟四.復(fù)繞：將步驟三測試后的450m測試光纖(2)復(fù)繞在盤具(1)的表面，在復(fù)繞前將砂紙包覆在盤具(1)的表面，在復(fù)繞時使測試光纖(2)與砂紙直接接觸；

步驟五.復(fù)測：取下繞有測試光纖(2)的盤具(1)，將光纖放置在測試臺上靜置1-3h，靜置完成后使用光時域反射儀(3)測試該光纖的衰減系數(shù)，并將測試的記錄數(shù)據(jù)值記為α2；

步驟六.計算：設(shè)光纖的微彎損耗值為α，則光纖的微彎損耗值即為α＝α2-α1。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述步驟一中的測試場地溫度控制在18-28℃，濕度控制在20-70％；同時在測試時確保所述測試場地的其他工作人員不觸碰所述測試光纖(2)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述步驟一中的測試光纖(2)在生產(chǎn)后放置在所述測試場地進行靜置，使所述測試光纖(2)達到穩(wěn)定狀態(tài)，所述靜置時間至少7天。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述盤具(1)的尺寸凈寬為：280-320mm，凈直徑為260-300mm。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述盤具(1)中間的柱狀桶為石英材料桶，所述盤具(1)的熱膨脹系數(shù)為0.55×10-6/℃。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述步驟三和所述步驟五中光時域反射儀(3)測試的位置為所述測試光纖(2)的同一端。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述砂紙的規(guī)格為P320，在復(fù)繞前使用膠水將所述砂紙的光滑面緊密粘貼在所述盤具(1)表面，使所述砂紙表面光滑無凸起。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述測試光纖(2)復(fù)繞在所述盤具(1)上時，控制所述測試光纖(2)的截距為0.5mm，使所述測試光纖(2)在所述盤具(1)表面復(fù)繞一層，避免重疊復(fù)繞。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述后向散射法包括：測量所述測試光纖(2)起點后向散射至該所述測試光纖(2)終點的后向散射光功率衰減值記為A1，然后再從所述測試光纖(2)的終點后向散射至該所述測試光纖(2)起點的后向散射光功率衰減值記為A2,然后取A1和A2的平均值作為所述測試光纖(2)衰減的最終測試記錄數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎損耗的測試方法，其特征在于：所述步驟一中控制所述篩選機的收線張力在1±5％N。