[發明專利]一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法

有效

• 申請號: 202110152437.7
• 申請日: 2021-02-03
• 公開（公告）號: CN112690217B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 任艷云;鄭鵬
• 申請（專利權）人: 濟寧市農業科學研究院
• 主分類號: A01H4/00
• 分類號: A01H4/00
• 代理公司: 北京慕達星云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11465
• 代理人: 崔自京

本發明公開了一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法，屬于生物技術領域。本發明公開的一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法，包括測量標準大蒜鱗芽莖盤厚度，去除部分莖盤，獲取標準大蒜鱗芽生長點。本發明不用反復剝離大蒜鱗芽周圍的肉質體和大蒜鱗芽生長點周圍的一層層葉片，減少了剝離切割的次數(即減少了剝離操作時間)，降低了剝離過程中引入菌體污染生長點的風險，有效避免了生長點被大量污染，同時提高了剝離大蒜鱗芽獲得生長點的效率，縮短了操作時間，操作更便捷，提高了發芽率，降低了污染率，提高了無菌苗的獲得率。

技術領域

本發明涉及生物技術領域，更具體的說是涉及一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法。

背景技術

大蒜(Allium sativumL.)為百合科二年生植物，原產西亞和中亞，自漢代從西域傳入我國，至今已有兩千多年的栽培歷史。大蒜既可食用，又可入藥，具有極高的營養價值和經濟價值。我國的大蒜產量常年位居世界首位。生產中大蒜大多通過鱗芽進行無性繁殖。因鱗芽易感染病毒，并以無性繁殖的方式代代相傳，致使大蒜植株內病毒含量逐代積累增高，引起大蒜優良品種種性逐年退化，產量和品質逐年降低，帶毒大蒜的產量損失可達50％以上，嚴重的可能造成絕產；其中以洋蔥黃矮病毒(OYDV)、韭蔥黃條紋病毒(LYSV)、青蔥潛隱病毒(SHLV)的影響最大，在大蒜生產過程上會造成嚴重危害，進而給蒜農帶來巨大的經濟損失。利用大蒜鱗芽生長點帶病毒少，或者不帶病毒的原理，剝離切取大蒜鱗芽生長點進行脫毒培養，獲得大蒜脫毒種是生產中解決病毒影響的有效手段。但是，在剝離大蒜鱗芽生長點的過程中還存在許多問題沒有解決；例如，大蒜鱗芽剝離過程中會引入病菌，造成大蒜鱗芽生長點培養過程中的污染，嚴重影響大蒜鱗芽生長點的脫毒培養；常規大蒜鱗芽剝離方法引起的污染率在30％以上，并且剝離獲取生長點的過程非常耗時(獲得一個生長點需要10分鐘以上)。

因此，提供一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法，控制大蒜鱗芽剝離過程中的污染問題并提高剝離效率，實現大蒜鱗芽生長點高效無菌培養，是本領域技術人員亟需解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法，該操作方法簡便快捷，可以有效降低剝離過程中引發的生長點污染，提高大蒜鱗芽生長點無菌培養的效率，有極高的應用價值。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種剝離大蒜鱗芽生長點的方法，包括三個前后銜接的步驟：

(1)測量標準大蒜鱗芽生長點底部到標準大蒜鱗芽莖盤底部距離(即，測量標準大蒜鱗芽莖盤厚度)，具體包括如下幾個相互銜接的步驟：

①根據大蒜品種，確定標準大蒜鱗芽縱徑范圍值，選取單一品種標準大蒜鱗芽；

②在步驟①獲得的標準大蒜鱗芽群體中，隨機選取標準大蒜鱗芽群體樣本一個，樣本數量≥30；

③以標準大蒜鱗芽生長點為中心縱向剖切所述標準大蒜鱗芽群體樣本；

④測量標準大蒜鱗芽莖盤厚度，即分別測量該大蒜品種標準大蒜鱗芽群體樣本生長點底部到標準大蒜鱗芽莖盤底部距離(大蒜鱗芽生長點底部和大蒜鱗芽徑盤相互連接)；

⑤計算并獲得該品種標準大蒜鱗芽生長點底部到大蒜鱗芽莖盤底部距離的最小值和最大值，即得到標準大蒜鱗芽徑盤厚度的區間范圍(常見大蒜標準鱗芽縱徑值范圍30-54mm，常見大蒜標準鱗芽徑盤厚度范圍3.1-5.3mm)；

(2)單一品種標準大蒜鱗芽生長點以下部位(部分莖盤)的去除，具體包括如下幾個相互銜接的步驟：

①篩選單一品種標準大蒜鱗芽外植體，滅菌后放置于無菌環境中；

②根據所述標準大蒜鱗芽徑盤厚度范圍，用無菌刀片橫向水平并垂直于標準大蒜鱗芽底部外表面切割去除相應品種標準大蒜鱗芽徑盤厚度最小值的1/10-9/10備用；常見標準大蒜鱗芽徑盤厚度的最小值的1/10-9/10是0.31-4.59mm；