[發(fā)明專利]一種金屬掩膜版的張網(wǎng)控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110145652.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112458402B | 公開(公告)日: | 2021-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何遠(yuǎn)超;劉耀陽;徐健;顧駿 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海精驪電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C14/04 | 分類號(hào): | C23C14/04;C23C14/24;C23C14/54;H01L51/56 |
| 代理公司: | 武漢藍(lán)寶石專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人: | 劉璐 |
| 地址: | 200120 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 金屬 掩膜版 控制 方法 | ||
1.一種金屬掩膜版的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,包括:
獲取金屬掩膜版上各測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置,并與各測(cè)量點(diǎn)位的目標(biāo)位置進(jìn)行比較,得到各測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置偏差量;
構(gòu)建張網(wǎng)裝置上各個(gè)夾爪的移動(dòng)位移量與各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的位置變化量之間的函數(shù)關(guān)系;
基于各測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置偏差量以及上述函數(shù)關(guān)系,計(jì)算出張網(wǎng)裝置上各個(gè)夾爪需要移動(dòng)的位移量;
控制張網(wǎng)裝置上各個(gè)夾爪移動(dòng)需要移動(dòng)的位移量,使得各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位從當(dāng)前位置調(diào)整到目標(biāo)位置;
其中,所述金屬掩膜版上有多個(gè)夾持部位和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)位,張網(wǎng)裝置的多個(gè)夾爪夾住所述金屬掩膜版上的多個(gè)夾持部位對(duì)金屬掩膜版進(jìn)行拉伸;
其中,所述構(gòu)建張網(wǎng)裝置上各個(gè)夾爪的移動(dòng)位移量與各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的位置變化量之間的函數(shù)關(guān)系,具體包括:
按照順序?qū)Χ鄠€(gè)夾爪中的其中一個(gè)夾爪進(jìn)行微小位移,保持其它夾爪的位置不變,測(cè)量各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位由當(dāng)前夾爪微小移動(dòng)引起的位置變化量;
基于夾爪的位移量和各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的相應(yīng)位置變化量建立數(shù)學(xué)模型,獲取各夾爪的移動(dòng)位移量與各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的位置變化量之間的函數(shù)關(guān)系,所述函數(shù)關(guān)系以轉(zhuǎn)換矩陣表示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,所述按照順序?qū)Χ鄠€(gè)夾爪中的其中一個(gè)夾爪進(jìn)行微小位移,保持其它夾爪的位置不變,測(cè)量各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位由當(dāng)前夾爪微小移動(dòng)引起的位置變化量,具體包括:
測(cè)量金屬掩膜版上各測(cè)量點(diǎn)位的初始位置;
將張網(wǎng)裝置上的第一個(gè)夾爪進(jìn)行微小位移,保持其它夾爪位置不變,記錄各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置;
根據(jù)各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的初始位置和當(dāng)前位置,計(jì)算各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的位置變化量;
以此類推,每次對(duì)尚未進(jìn)行微小位移的夾爪中的一個(gè)夾爪進(jìn)行微小位移,保持其它的夾爪位置不變,記錄各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置;
根據(jù)各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置與上一次的位置,計(jì)算由所述其中一個(gè)夾爪微小移動(dòng)引起的各測(cè)量點(diǎn)位的位置變化量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,所述獲取金屬掩膜版上各測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置包括:
通過移動(dòng)張網(wǎng)裝置上的測(cè)量組件測(cè)量所述金屬掩膜版上的各測(cè)量點(diǎn)位的當(dāng)前位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,所述控制張網(wǎng)裝置上各個(gè)夾爪移動(dòng)需要移動(dòng)的位移量,使得各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位從當(dāng)前位置調(diào)整到目標(biāo)位置,具體包括:
在相同的時(shí)間內(nèi),控制所述張網(wǎng)裝置的各個(gè)夾爪從當(dāng)前位置同步移動(dòng)到需要移動(dòng)的位置,使得各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位從當(dāng)前位置調(diào)整到目標(biāo)位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,根據(jù)每一個(gè)夾爪需要移動(dòng)的位移量和預(yù)設(shè)的同步移動(dòng)時(shí)間,計(jì)算在所述預(yù)設(shè)的同步移動(dòng)時(shí)間內(nèi)每一個(gè)時(shí)刻每一個(gè)夾爪應(yīng)移動(dòng)的位移量;
通過張網(wǎng)裝置控制每一個(gè)夾爪在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)同步移動(dòng)需要移動(dòng)的位移量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2任一項(xiàng)所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,所述金屬掩膜版為普通金屬掩膜版或精細(xì)金屬掩膜版。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的張網(wǎng)控制方法,其特征在于,當(dāng)金屬掩膜版為精細(xì)金屬掩膜版時(shí),所述控制張網(wǎng)裝置的各個(gè)夾爪同步移動(dòng)需要移動(dòng)的位移量,使得各個(gè)測(cè)量點(diǎn)位從當(dāng)前位置調(diào)整到目標(biāo)位置之后還包括:
將所述精細(xì)金屬掩膜版上的用于蒸鍍時(shí)形成像素的刻蝕孔調(diào)整到目標(biāo)位置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海精驪電子技術(shù)有限公司,未經(jīng)上海精驪電子技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110145652.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:加載存儲(chǔ)單元的實(shí)現(xiàn)方法、裝置和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)
- 下一篇:一種分布式存儲(chǔ)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)同步方法、訪問方法及系統(tǒng)
- 同類專利
- 專利分類
C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





