[發(fā)明專利]一種氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110140908.2 | 申請日: | 2021-02-02 |
| 公開(公告)號: | CN112851365B | 公開(公告)日: | 2022-03-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張偉儒;張晶;孫峰;董廷霞;李澤坤;李洪浩;徐金夢;荊赫;呂沛遠 | 申請(專利權(quán))人: | 中材高新氮化物陶瓷有限公司 |
| 主分類號: | C04B35/584 | 分類號: | C04B35/584;C04B35/64 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 趙曉琳 |
| 地址: | 255000 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氮化 硅基復(fù)相 導(dǎo)電 陶瓷 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的制備方法,本發(fā)明以氮化硅為基體,同時添加導(dǎo)電相以及燒結(jié)助劑,采用兩步微波燒結(jié)法,制備的氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷晶粒細小且均勻、致密度高,且強度、硬度等力學(xué)性能也得到了顯著提升。本發(fā)明采用的兩步微波燒結(jié)法,可抑制晶界遷移,并利用晶界擴散使坯體達到致密化;因此,該方法既可以抑制燒結(jié)后期晶粒的生長,同時又不會影響致密化的進行。實施例的結(jié)果顯示,本發(fā)明提供的氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的相對密度大于99%,維氏硬度大于15GPa,斷裂韌性大于6MPa·m1/2,抗彎強度大于900MPa,電阻率小于1Ω·cm。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及導(dǎo)電陶瓷技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的制備方法。
背景技術(shù)
氮化硅陶瓷綜合力學(xué)性能優(yōu)異,尤其是兼具高強度、高硬度、高韌性和耐磨性能良好的優(yōu)點,而且具有較高的化學(xué)穩(wěn)定性和抗熱震性,是一種理想的工程陶瓷材料,廣泛用于機械、化工、航空航天及國防軍工等領(lǐng)域。但是,由于氮化硅陶瓷具有電絕緣性,因而只能采用傳統(tǒng)的金剛石工具進行機械加工,加工效率低、成本高,且無法加工成形狀復(fù)雜的部件,嚴重限制了氮化硅陶瓷的應(yīng)用。
通過在氮化硅陶瓷中引入鈦基化合物(TiN、TiC、TiCN、TiB2)、鋯基化合物(ZrN、ZrC、ZrB2)或MoSi2等導(dǎo)電相,可以提高氮化硅陶瓷的導(dǎo)電性,進而可以采用電火花加工,提高了加工效率,解決了上述無法加工成形狀復(fù)雜的部件的問題。但是,導(dǎo)電相的加入會阻礙氮化硅的燒結(jié)致密化,使得制備復(fù)相導(dǎo)電陶瓷時,需要采用熱壓燒結(jié)或高溫(≥1800℃)氣壓燒結(jié)才能實現(xiàn)致密化,而采用上述燒結(jié)方法又會導(dǎo)致氮化硅陶瓷硬度、強度等力學(xué)性能的下降。
因此,為了實現(xiàn)形狀復(fù)雜的氮化硅陶瓷部件的快速加工,亟需提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)氮化硅基復(fù)相陶瓷致密化的同時保證氮化硅陶瓷力學(xué)性能的方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的制備方法,本發(fā)明提供的制備方法可抑制晶界遷移,并利用晶界擴散使坯體達到致密化,因此,提升了氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的強度、硬度等力學(xué)性能。
為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案:
本發(fā)明提供了一種氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷的制備方法,包括以下步驟:
(1)將氮化硅、導(dǎo)電相以及燒結(jié)助劑混合后通過成型,得到坯體;所述燒結(jié)助劑包括稀土氧化物和金屬氧化物,所述金屬氧化物包括氧化鋁或氧化鎂;
(2)將所述步驟(1)得到的坯體依次進行高溫微波燒結(jié)和低溫微波燒結(jié),得到氮化硅基復(fù)相導(dǎo)電陶瓷。
優(yōu)選地,所述步驟(1)的坯體中氮化硅的質(zhì)量含量為40~60%,導(dǎo)電相的質(zhì)量含量為30~50%,金屬氧化物的質(zhì)量含量為1~5%,稀土氧化物的質(zhì)量含量為2~10%。
優(yōu)選地,所述導(dǎo)電相包括TiN、TiC、TiCN、TiB2、ZrN、ZrC、ZrB2或MoSi2。
優(yōu)選地,所述稀土氧化物包括氧化釔、氧化鑭或氧化鈰。
優(yōu)選地,所述氮化硅中β-Si3N4的質(zhì)量含量為≥85%,所述氮化硅的平均粒徑D50≤1.0μm。
優(yōu)選地,所述步驟(1)中坯體的原料還包括微波吸收劑;所述微波吸收劑包括碳化硅或氧化鋯。
優(yōu)選地,所述步驟(1)中成型的方式包括干壓、冷等靜壓、注塑、注凝和注漿中的一種或幾種。
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