[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110140399.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112958486A | 公開(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李向東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東才聚電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/344 | 分類號(hào): | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司: | 淄博匯川知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37295 | 代理人: | 李時(shí)云 |
| 地址: | 255000 山東省淄*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 高壓 絕緣 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置,其特征在于:
包括水平軌道(100)、基臺(tái)(200)、檢測(cè)臺(tái)(300)和升降裝置(400);
所述檢測(cè)臺(tái)(300)設(shè)于基臺(tái)(200)的上部,并且檢測(cè)臺(tái)(300)與升降裝置(400)的上端固定連接,所述基臺(tái)(200)或者升降裝置(400)的下端和水平軌道(100)滑動(dòng)連接;
所述基臺(tái)(200)上部設(shè)有芯片放置凹槽(210),所述芯片放置凹槽(210)內(nèi)部設(shè)有下檢測(cè)卡槽(510),
所述檢測(cè)臺(tái)(300)下部對(duì)應(yīng)下檢測(cè)卡槽(510)的位置設(shè)有上采樣壓塊(520),所述上采樣壓塊(520)和下檢測(cè)卡槽(510)組成一個(gè)側(cè)面敞開且緊密包裹芯片的插槽,所述插槽的形狀與芯片主體的形狀相匹配,所述檢測(cè)臺(tái)(300)下部對(duì)應(yīng)插槽開口處設(shè)有檢測(cè)探針(320),所述檢測(cè)臺(tái)(300)的上部設(shè)有分別與檢測(cè)探針(320)和上采樣壓塊(520)電氣連接的引線端子,所述引線端子用以連接外部檢測(cè)裝置;
所述檢測(cè)臺(tái)(300)的兩側(cè)設(shè)有防護(hù)板(350),檢測(cè)狀態(tài)下,防護(hù)板(350)的下邊緣低于基臺(tái)(200)的上邊緣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置,其特征在于:
所述下檢測(cè)卡槽(510)的一側(cè)設(shè)有與芯片主體形狀相同的芯片卡槽(511),芯片卡槽(511)一側(cè)面敞開用以放置芯片的引腳,芯片卡槽(511)敞開端兩側(cè)的豎直邊上的的中部設(shè)有支撐卡槽(512);支撐卡槽(512)的底部距離芯片卡槽(511)的底部的深度與芯片的厚度相同;與敞開側(cè)面相對(duì)的位置設(shè)有包裹凹槽(513),包裹凹槽(513)的深度大于支撐卡槽(512)的深度小于芯片卡槽(511)的深度;
所述上采樣壓塊(520)的下部對(duì)應(yīng)支撐卡槽(512)的位置設(shè)有壓接凸起(521),所述上采樣壓塊(520)下部對(duì)應(yīng)包裹凹槽(513)的位置設(shè)有卡接凸起(522)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置,其特征在于:
所述上采樣壓塊(520)的下部設(shè)有中心孔檢測(cè)柱(523),所述下檢測(cè)卡槽(510)和上采樣壓塊(520)組合成一體并裝入塑封芯片時(shí),中心孔檢測(cè)柱(523)插入到塑封芯片中心孔的內(nèi)部。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置,其特征在于:
所述水平軌道(100)設(shè)有氣動(dòng)或電動(dòng)驅(qū)動(dòng)的直線運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體高壓絕緣檢測(cè)裝置,其特征在于:
還包括設(shè)于基臺(tái)(200)一側(cè)的進(jìn)料裝置,所述進(jìn)料裝置包括:
水平滑軌(610),與基臺(tái)(200)的長(zhǎng)度方向平行;
承載板(620),滑動(dòng)設(shè)置在水平滑軌(610)上,所述承載板(620)的上部設(shè)有芯片放置槽(621),所述芯片放置槽(621)的數(shù)量與基臺(tái)(200)上的芯片放置凹槽(210)相同,芯片放置槽(621)底部高于或平齊于芯片放置凹槽(210)的底部;
上料驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(630),驅(qū)動(dòng)承載板(620)在水平滑軌(610)上移動(dòng);
推進(jìn)機(jī)構(gòu)(640),包括設(shè)于承載板(620)的上部的推進(jìn)板(641)和驅(qū)動(dòng)推進(jìn)板(641)移動(dòng)的推進(jìn)驅(qū)動(dòng)器(642);
所述推進(jìn)板(641)下部對(duì)應(yīng)芯片放置槽(621)的位置設(shè)有推進(jìn)齒(6411);
所述進(jìn)料裝置設(shè)置于芯片生產(chǎn)線上,基臺(tái)(200)與生產(chǎn)線的塑封芯片輸送軌道(710)重合,上料時(shí):
上料驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(630)驅(qū)動(dòng)承載板(620)移動(dòng)至輸送軌道(710)一側(cè),通過生產(chǎn)線上的氣管或推桿將塑封芯片依次推入芯片放置槽(621)內(nèi)部;
所有的芯片放置槽(621)插入塑封芯片之后,上料驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(630)驅(qū)動(dòng)承載板(620)移動(dòng)到基臺(tái)(200)側(cè),并且與基臺(tái)(200)平齊;
之后啟動(dòng)推進(jìn)驅(qū)動(dòng)器(642)通過推進(jìn)板(641)將芯片放置槽(621)內(nèi)部的芯片推入芯片放置凹槽(210)內(nèi)部。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于山東才聚電子科技有限公司,未經(jīng)山東才聚電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110140399.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





