[發明專利]烴源巖有效厚度的確定方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202110138375.4
• 申請日: 2021-02-01
• 公開（公告）號: CN114839685A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 李風勛;楊帆;胡燁;李昂;潘文蕾
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01V1/50
• 分類號: G01V1/50
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

本發明公開了烴源巖有效厚度的確定方法、裝置、電子設備及介質，該方法包括：分別獲取已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度；建立實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系；基于實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系和未知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的測井有效厚度，計算未知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度。本發明基于已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度，建立實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系，進而計算未知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度，實現準確計算非均值地層烴源巖有效厚度。

技術領域

本發明屬于石油勘探開發領域，具體涉及一種非均質性地層烴源巖有效厚度的確定方法、裝置、電子設備及介質。

背景技術

有效厚度又稱純產層，也稱為有效層厚度，是指儲油層中具有工業產油能力的那部分油層的厚度，即工業油井內具可動油的儲集層的厚度。

在利用成因法進行油氣地質資源量計算過程中，某一地層單元內的烴源巖有效厚度是一個重要的基礎參數。對于碳酸鹽巖烴源巖有機質豐度(Toc)下限，現普遍認識到，形成有規模的工業性油氣藏，要滿足Toc大于0.5％，(鐘寧寧、2009，梁狄剛、2000)，即Toc大于0.5％為有效烴源巖。在確定Toc豐度下限后，對于常規的層狀、均質性地層，通過實測Toc數據可以簡單、直接的獲得烴源巖有效厚度、泥地比等參數，然后成因法進行地質資源量計算。

但是這種方法存在的缺陷是：(1)對于非均質性的地層中，烴源巖非層狀分布，不同于常規的層狀分布砂泥巖巖性組合，在利用傳統的有效烴源巖厚度確定方法時，在瘤狀灰巖中，眼球部分呈橢圓狀與眼皮部分三維空間內交互出現，非層狀有序分布，鉆井巖心獲取的Toc(有機碳)測試數據，并不能直接用來進行烴源巖有效厚度的刻畫；(2)地質資源量計算量大，需要的地質資源多。

綜上，傳統方法難以確定非均值地層烴源巖有效厚度，造成資源量計算困難。因此，特別需要提出一種方法能準確計算非均值地層烴源巖有效厚度。

發明內容

本發明的目的是提出一種能準確計算非均值地層烴源巖有效厚度的確定方法、裝置、電子設備及介質。

第一方面，本發明提供一種非均質性地層烴源巖有效厚度的確定方法，包括：分別獲取已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度；基于所述實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度，建立實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系；基于所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系和未知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的測井有效厚度，計算所述未知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度。

可選的，所述巖性有效厚度包括巖性有效厚度最大值和巖性有效厚度最小值，當所述實測有效厚度小于或等于所述巖性有效厚度最大值且大于或等于所述巖性有效厚度最小值時，建立所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系。

可選的，所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關系為：

h_實測＝k×h_測井

其中，h_實測為實測有效厚度，k為系數，h_測井為測井有效厚度。

可選的，通過實際測量獲取已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度；通過巖心測量法獲取已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的巖性有效厚度。

可選的，通過隨機測量法和眼皮測量法分別測量所述巖性有效厚度最大值和巖性有效厚度最小值。

可選的，所述已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的Toc的含量大于第一閾值。

可選的，通過測井方法獲取已知區域的非均質性地層烴源巖巖樣的的測井有效厚度。