[發(fā)明專利]烴源巖有效厚度的確定方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110138375.4
• 申請日: 2021-02-01
• 公開（公告）號: CN114839685A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李風(fēng)勛;楊帆;胡燁;李昂;潘文蕾
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發(fā)研究院
• 主分類號: G01V1/50
• 分類號: G01V1/50
• 代理公司: 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

1.一種非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，包括：

分別獲取已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度；

基于所述實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度，建立實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系；

基于所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系和未知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的測井有效厚度，計算所述未知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，所述巖性有效厚度包括巖性有效厚度最大值和巖性有效厚度最小值，當(dāng)所述實測有效厚度小于或等于所述巖性有效厚度最大值且大于或等于所述巖性有效厚度最小值時，建立所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系為：

h_實測＝k×h_測井

其中，h_實測為實測有效厚度，k為系數(shù)，h_測井為測井有效厚度。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，通過實際測量獲取已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度；通過巖心測量法獲取已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的巖性有效厚度。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，通過隨機測量法和眼皮測量法分別測量所述巖性有效厚度最大值和巖性有效厚度最小值。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，通過測井方法獲取已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的測井有效厚度。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法，其特征在于，所述已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的Toc的含量大于第一閾值。

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

存儲器，存儲有可執(zhí)行指令；

處理器，所述處理器運行所述存儲器中的所述可執(zhí)行指令，以實現(xiàn)權(quán)利要求1-3所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法。

9.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，該計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-3所述的非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定方法。

10.一種非均質(zhì)性地層烴源巖有效厚度的確定裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，分別獲取已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度；

擬合關(guān)系建立模塊，基于所述已知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的實測有效厚度、巖性有效厚度和測井有效厚度，建立實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系；

實測有效厚度計算模塊，基于所述實測有效厚度與測井有效厚度的擬合關(guān)系和未知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的測井有效厚度，計算所述未知區(qū)域的非均質(zhì)性地層烴源巖巖樣的的實測有效厚度。