[發明專利]一種深紫外發光二極管及其制備方法有效
| 申請號: | 202110135810.8 | 申請日: | 2021-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN112885933B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發明(設計)人: | 張紫輝;邵華;張勇輝 | 申請(專利權)人: | 河北工業大學 |
| 主分類號: | H01L33/20 | 分類號: | H01L33/20;H01L33/22;H01L33/36;H01L33/00 |
| 代理公司: | 天津翰林知識產權代理事務所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 趙鳳英 |
| 地址: | 300130 天津市紅橋區*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深紫 發光二極管 及其 制備 方法 | ||
1.一種深紫外發光二極管,其特征為該二極管沿著外延生長方向結構依次為:襯底、緩沖層、N-型半導體傳輸層、多量子阱層、P-型電子阻擋層、P-型半導體傳輸層、P-型重摻雜半導體傳輸層和P-型歐姆電極;
其中,N-型半導體傳輸層部分暴露,表面分布有圖形分布的凸起或者圖形分布的凹坑;N-型半導體傳輸層暴露部分上還覆蓋有N-型歐姆電極;
所述的N-型半導體傳輸層暴露部分的面積占總N-型半導體傳輸層面積的比例為5%~90%;所述的N-型歐姆電極的面積為N-型半導體傳輸層暴露部分的5~95%;所述的凸起或凹坑的投影面積之和為N-型半導體傳輸層暴露部分面積的5~95%;
所述圖形分布呈規則或不規則;
當圖形分布呈規則時,為等間距或者不等間距陣列式分布;
當圖形分布呈等間距時,圖形為圓環,矩形,三角、橢圓或圓形;
所述凸起為半球形、圓柱形、三棱柱或四棱柱形,直徑為1~900nm,間距為1~900nm,高度為2~500nm;
所述的凹坑為半球形、圓錐形、三棱柱或四棱柱形,直徑為1~900nm,間距為1~900nm,深度為2~500nm;
所述襯底為藍寶石、SiC、Si、AlN、GaN或石英玻璃的其中一種;襯底沿著外延生長方向的不同可以分成極性面[0001]襯底或負極性面[000-1]襯底;
所述緩沖層的材質是Alx1Ga1-x1N;其中,0≤x1≤1,0≤1-x1≤1,厚度為10~50nm;
所述N-型半導體傳輸層的材質為Alx2Ga1-x2N;其中,0≤x2≤1,0≤1-x2≤1,厚度為1~5μm;暴露部分的面積占總N-型半導體傳輸層面積的比例為5%~90%,厚度范圍1~5μm;
所述多量子阱層材質為Alx3Ga1-x3N/Alx4Ga1-x4N;其中,0≤x3≤1,0≤1-x3≤1,0≤x4≤1,0≤1-x4≤1,量子壘的禁帶寬度高于量子阱的禁帶寬度,量子阱的個數大于等于1;量子阱Alx3Ga1-x3N厚度為0.5~5nm,量子壘Alx4Ga1-x4N厚度為3~50nm;
所述P-型電子阻擋層的材質為Alx5Ga1-x5N;其中,0≤x5≤1,0≤1-x5≤1,厚度為10~100nm;
所述P-型半導體傳輸層的材質為Alx6Ga1-x6N;其中,0≤x6≤1,0≤1-x6≤1,厚度為50~250nm;
所述P-型重摻雜半導體傳輸層的材質為Alx7Ga1-x7N;其中,0≤x7≤1,0≤1-x7≤1,材料摻雜為P型重摻雜,厚度為10~50nm;
所述P-型歐姆電極的材質Ni/Au、Cr/Au、Pt/Au或Ni/Al,其中,P-型歐姆電極的投影面積為電流擴展層面積的5%~100%;
所述N-型歐姆電極的材質為Al/Au、Cr/Au或Ti/Al/Ti/Au。
2.如權利要求1所述的深紫外發光二極管制備方法,其特征為包括如下步驟:
第一步,利用MOCVD(即金屬有機化合物化學氣相沉淀)或者MBE(分子束外延)在襯底表面外延生長緩沖層;在得到的緩沖層上外延生長N-型半導體傳輸層;接著在N-型半導體傳輸層上外延生長多量子阱層;在上一步得到的多量子阱層上外延生長P-型電子阻擋層;然后,繼續生長P-型半導體空穴傳輸層;其次,繼續生長P-型重摻雜半導體空穴傳輸層;
第二步,在第一步得到的P-型重摻雜半導體傳輸層上,通過光刻工藝制作臺面掩膜;
第三步,在第二步基礎上,利用干法刻蝕工藝進行刻蝕制作臺階,曝露出部分N-型半導體傳輸層;
第四步,在第三步的基礎上,通過納米球或者陽極氧化鋁孔做掩膜對N-型半導體傳輸層進行刻蝕,刻蝕深度為2~500nm;
第五步,在第四步基礎上,進行去膠、超聲清洗,去除納米球或者陽極氧化鋁孔掩膜和臺面掩膜;
第六步,蒸鍍并且光刻制作出N-型歐姆電極以及P-型歐姆電極。
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