[發明專利]一種深紫外發光二極管及其制備方法有效
| 申請號: | 202110135810.8 | 申請日: | 2021-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN112885933B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發明(設計)人: | 張紫輝;邵華;張勇輝 | 申請(專利權)人: | 河北工業大學 |
| 主分類號: | H01L33/20 | 分類號: | H01L33/20;H01L33/22;H01L33/36;H01L33/00 |
| 代理公司: | 天津翰林知識產權代理事務所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 趙鳳英 |
| 地址: | 300130 天津市紅橋區*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深紫 發光二極管 及其 制備 方法 | ||
本發明為一種深紫外發光二極管及其制備方法。該二極管沿著外延生長方向結構依次為:襯底、緩沖層、N?型半導體傳輸層、多量子阱層、P?型電流阻擋層、P?型半導體傳輸層、P?型重摻雜半導體傳輸層和P?型歐姆電極;其中,N?型半導體傳輸層部分暴露,表面分布有圖形分布的凸起或者圖形分布的凹坑;N?型半導體傳輸層暴露部分上還覆蓋有N?型歐姆電極;本發明一方面提高N電極與N?AlGaN層接觸面積,降低接觸電阻;另一方面提高光在N?AlGaN層表面的散射作用,打破N?AlGaN層的光波導效應,提高器件出光效率,提高光提取效率,從而提高器件外量子效率。
技術領域
本發明涉及發光二極管半導體技術領域,具體地說是一種深紫外發光二極管的制備方法。
背景技術
AlGaN基深紫外發光二極管(DUV LED)不僅具有工作電壓低,穩定耐用等優點,而且節能環保,對人體和環境無公害,因此正逐步取代傳統汞燈被廣泛應用于殺菌消毒、防偽檢測、顯示通信等領域。
盡管AlGaN基DUV LED具有廣闊的應用前景,但AlGaN基DUV LED當前階段僅10%左右的外量子效率(EQE),極大地限制了其大規模商業化應用。造成目前AlGaN基DUV LED EQE低下的主要原因之一就是其光提取效率(LEE)低下。對于AlGaN基DUV LED而言,有源區發出的光以TM模式偏振光占主導,而TM模式偏振光的光提取效率不到TE模式的十分之一,這也就從根本上限制了器件的光提取效率。另一方面,隨著Al組分的增加,P-AlGaN的受主激活能大幅增加,使得P-AlGaN摻雜效率極低,難以實現P型重摻雜。所以業界為了降低器件的P型接觸電阻,引入P-GaN材料來代替P-AlGaN作為P型歐姆接觸層,但是P-GaN層會吸收光子從而進一步降低器件光提取效率。因此,目前AlGaN基DUV LED普遍采用底部出光的倒裝結構。但采用倒裝結構后,從有源區發射出的光必須要經過底部的N-AlGaN層才能射出器件。而刻蝕臺面后,器件底部的N-AlGaN層會對從有源區發出的光形成光波導,從而使一部分固定角度的光無法從器件底部射出,從而進一步限制了AlGaN基DUV LED光提取效率的提升。目前比較普遍的方法是采用圖形化襯底(PSS)來增加光的散射,從而提高器件出光效率,例如專利號為CN201510786400.4的中國專利提供了一種具有雙層微納米陣列結構的LED圖形化襯底的制作方法,該方法在標準器件的基礎上,將襯底圖形化,增加光在襯底界面處的散射,改變全反射光的出射角,增加倒裝DUV LED的光從藍寶石襯底出射的幾率,從而提高器件的光提取效率。該方法雖然一定程度上提高了倒裝AlGaN基DUV LED的底部出光效率,但由于圖形襯底的藍寶石材料與AlN材料的折射率相差不大,導致散射效果并不是很明顯,而且圖形襯底還會散射部分本來可以逃逸出器件的光回到器件內部,從而被P-GaN層吸收,所以此方法仍然無法解決刻蝕臺面后暴露的N-AlGaN層表面對固定角度光的反射問題,難于有效的提高光提取效率,而且圖形襯底工藝過程過于復雜,也提高了工藝成本。
發明內容
本發明的目的為針對當前技術中存在的不足,提供一種深紫外發光二極管及其制備方法。該方法刻蝕完臺面漏出N-AlGaN層后,不直接覆蓋N電極,先通過刻蝕使露出的N-AlGaN層圖形化后再覆蓋金屬,避免光在N-AlGaN層內來回反射無法射出,從而提高光提取效率。本發明一方面提高N電極與N-AlGaN層接觸面積,降低接觸電阻;另一方面提高光在N-AlGaN層表面的散射作用,打破N-AlGaN層的光波導效應,提高器件底部出光效率,提高光提取效率,從而提高器件外量子效率。
本發明所采用的技術方案是:
一種深紫外發光二極管,該二極管沿著外延生長方向結構依次為:襯底、緩沖層、N-型半導體傳輸層、多量子阱層、P-型電子阻擋層、P-型半導體傳輸層、P-型重摻雜半導體傳輸層和P-型歐姆電極;
其中,N-型半導體傳輸層部分暴露,表面分布有圖形分布的凸起或者圖形分布的凹坑;N-型半導體傳輸層暴露部分上還覆蓋有N-型歐姆電極;
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